Устройство для контроля шероховатости поверхности

 

Изобретение относится к измери- , тельной технике и может быть использовано , в частности, для контроля шероховатости поверхности. Цель изобретения - повышение точности контроля и упрощение конструкции за счет осуществления кольцевого освещения и исключения влияния направлений неровностей контролируемой поверхности на показания устройства. Уст1 ойство для контроля шероховатости поверхности содержит источник 1 излучения, фотоприемник 4 для регистрации зеркально (Л Фие.г

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

ng) (И) (б)) 4 G 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3959536/24-28 (22) 03. 10. 85 (46 ) 07, 06 ° 87. Бюл, Р 21 (72) Г. P. Гольдберг, Ю. Н, Клиентов, Е. Б, Поклад, А, Н. Шестов, В. П, Захаров, Ю. В. Ломакин и А, В. Перов (53) 531.715.27(088,8) (56) Воронцов Л. Н. Фотоэлектрические системы контроля линейных величин. М.: Машиностроение, 1965, с, 8889.

Городинский Г, М. и др, Прибор для определения шероховатости поверхности.-Оптико-механическая промышленность, 1973, Ф 7, с. 45-47. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля meроховатости поверхности. Цель изобретения — повышение точности контроля и упрощение конструкции за счет осуществления кольцевого освещения и ис. ключения влияния направлений неровностей контролируемой поверхности на показания устройства. Устройство для контроля шероховатости поверхности содержит источник l излучения, фотоприемник 4 для регистрации зеркально

1315801 отраженного излучения, Лотоприемник

5 канала сравнения и блок обработки сигналов с АоТопрНрМННКоВ> проекционную систему, выполненную в виде плоско-выпуклой линзы ?, обращенной выпуклостью к контролируемой поверхности, и фокусирующего кольцевого отражателя 3, осесимметричного onтической оси линзы 2, причем на плоскую поверхность линзы нанесено отражаюИзобретение относится к измерительной технике и может бьггь использовано, в частности, для контроля шероховатости поверхности.

Цель изобретения — повышение точности контроля и упрощение конструкции за счет осуществления кольцевого освещения и исключения влияния направлений неровностей контролируемой поверхности на показания устройства.

На фиг, 1 изображена принципиальная схема устройства для контроля шероховатости поверхности; на фиг.2— разрез А-Л на фиг . 1.

Устройство содержит источник l излучения, проекционную систему в виде плосковыпуклой линзы ?, на плоскую поверхность которой нанесено отражающее покрытие в виде нечетного радиального растра, состоящего из нечетного количества равных отражающих секторов и симметричных им прозрачных секторов, и фокусирующего кольцевого отражателя 3, установленного симметрично оптической оси линзы 2, фотоприемник 4 для регистрации зеркально отраженного излучения, фо— топриемник 5 канала сравнения и блок ббработки сигналов с фотоприемников

{не показан).

Источник 1 излучения находится в переднем фокусе F линзы, а фотоприемник ч расположен от плоской поверхности линзы 2 на расстоянии, равном половине ее заднего фокусного рас- 35 стояния, а именно f1/2.

Устройство работает следующим об— разом.

Пучок света, посылаемый источником 1 излучения, пройдя через прозшее покрытие в виде нечетного радиального растра, источник 1 излучения расположен в переднем фокусе линзы 2, фотоприемник ч для регистрации зеркально отраженного излучения находится на расстоянии, равном половине заднего фокусного расстояния линзы 2, а источник 1 излучения и фотоприем— ники ч и 5 расположены на оптической оси линзы 2. 2 ил.

l рачные секторы плосковыпуклой линзы

2, направляется параллельным пучком на фокусируюший кольцевой отражатель

3. Источник ) излучения расположен в переднем фокусе F линзы 2,,поэтому прошедший пучок, падающий на кольцевой отражатель 3, является параллель ным и фокусируется отражателем на контролируемой поверхности.

Часть потока излучения, посылаемая источником 1, попадает на фотоприемник 5 канала сравнения. Зеркально отраженный от контролируемой поверхности пучок света отражателем 3 направляется на.линзу 2, где,отразившись от зеркальных секторов и второй раз пройдя сферическую поверхность, собирается на фотоприемнике ч для регистрации зеркально отраженного излучения. Блок обработки сигналов с фотоприемников ч и 5 обрабатывает полученные с них сигналы.

Формула и з о бр е тения

Устройство для контроля шерохова— тости поверхности, содержащее источ— ник излучения, проекционную систему, два фотоприемника и блок обработки сигналов с фотоприемников, о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности контроля и упрощения конструкции, проекционная система выполнена в виде плосковыпуклой линзы, на плоскую поверхность кото— рой нанесено отражающее покрытие в виде нечетного радиального растра, устанавливаемой выпуклостью к контро. лируемой поверхности, и фокусирующего кольцево.о отражателя, установлен1315801

Составитель Л. Лобзова

Техред М.Ходанич

Редактор А. Козориз

Корректор Л. Пилипенко

Заказ 2344/42 Тираж 677

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 ного симметрично оптической оси линзы, источник излучения и фотоприемники расположены на оптической оси лин. зы таким образом, что источник излучения находится в переднем фокусе линзы, один фотоприемник — между источником излучения и линзой, а другой расположен от .плоской поверхности линзы на расстоянии, равном половине ее заднего фокусного расстояния.

Устройство для контроля шероховатости поверхности Устройство для контроля шероховатости поверхности Устройство для контроля шероховатости поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения размеров и рельефа микрообъектов

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для комплексного контроля глянца различных плоских поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для измерения отклонения от прямолинейности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле поверхностей объектов произвольной формы

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения двух параметров шероховатости полированных поверхностей

Изобретение относится к контрольно-измерительным устройствам, используемым для контроля неплоскостности объектов

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх