Способ измерения удельного заряда частиц
Способ измерения удельного заряда частиц по авт.св.N 1134043, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерений количественного содержания компонентов в анализируемом веществе и уменьшения помех для наблюдения спектра при качественном определении его состава, дополнительно осуществляют фокусировку компонентов и измерения их тока на дополнительный коллектор, а регулирование напряжения U1 между пластинами отклоняющей системы осуществляют в соответствии с выражением , где U1I - ускоряющее напряжение, В; d - диаметр входного отверстия дополнительного коллектора, м; h - расстояние между пластинами, м; b - длина пластин, м; L - расстояние от коллектора до центра отклоняющей системы, м.
Похожие патенты:
Масс-спектрометр // 1305795
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для элементного анализа твердых тел
Изобретение относится к области масс-спектрометрии
Масс-спектрометр // 1182629
Способ энергомасс-спектрального анализа состава веществ и устройство для его осуществления // 1178257
Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в том числе к спектрометрии кинетических энергий ионов
Масс-спектрометр // 1173465
Способ измерения удельного заряда частиц // 1134043
Масс-спектрометр // 1128308
Призменный масс-спектрометр // 1101076
Изобретение относится к ядерной технике
Масс-спектрометр ишкова // 2143110
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ
Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в частности к способам измерения ионных токов мультиплетов масс в магнитных масс-спектрометрах
Многоканальный анализатор атомных частиц // 1447196
Космический магнитный спектрометр // 1596401
Изобретение относится к экспериментальной физике, в частности к экспериментальным методам физики космических лучей
Ионный микрозондовый анализатор // 1605288
Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к ионно-оптическим приборам для локального микроанализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов, и может быть использовано для химического или изотопного анализа состава вещества, получения увеличенных изображений поверхности твердых тел в ионах выбранного типа, а также в технологии производства полупроводниковых материалов для легирования их ионами различной природы
Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано для определения химического или изотопного состава веществ
Изобретение относится к физической электронике, в частности к разделению пучков ускоренных ионов
Масс-спектрометр // 1839274
Изобретение относится к физической электронике , в частности к приборам для анализа состава пучков ускоренных ионов путем измерения их отношения массы к заряду