Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения параметров шероховатости поверхности Цель изобретения - повьшение точности измерений параметров шероховатости. Это достигается за счет устранения спеклструктуры рассеянного излучения путем статистической обработки результатов измерений параметров светового пучка, отраженного от разных точек исследуемого образца. Луч от источника 1 излучения через диафрагму 2 попадает на исследуемую поверхность образца 3. Отраженное излучение регистрируется фотоприемным блоком 5. Результат измерений запоминается с помощью запоминающего блока 6. Затем образец перемещается с помощью блока 11 перемещения образца. Результат нового измерения обрабатывается и вновь запоминается. Блок 7 усреднения производит вычисление средней индикатриры рассеяния по выполнении цикла из N измерений, число которых (N) определяется заданной точностью. Регистрация результатов осуществляется блоком 8 выделения и обработки информационного сигнала и индикатором 9. 2 ил. $ (/)

СОЮЗ СОВЕТСНИК

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

С 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4218010/24-28 (22) 31. 03. 87 (46) 23.05.88. Бюл. Р 19 (71.) Ленинградский политехнический институт им. И.И. Калинина (72) А.Ю.Бабулевич, Д.В.Кизеветтер и В.И.Малюгин (53) 531. 717 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 938018, кл. С 01 В 21/00, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО

ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЫСОТЫ ШЕРОХОВАТОСТИ

ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к измерйтельной технике и может быть использовано для измерения параметров шероховатости поверхности. Цель изобретения — повышение точности измерений параметров шероховатости. Это достигается за счет устранения спеклструктуры рассеянного излучения пу„„SU„» 1397728 А1 тем статистической обработки результатов измерений параметров светового пучка, отраженного от разных точек исследуемого образца. Луч от источника 1 излучения через диафрагму 2 попадает на исследуемую поверхность образца 3. Отраженное излучение регистрируется фотоприемным блоком 5.

Результат измерений запоминается с помощью запоминающего блока 6. Затем образец перемещается с помощью блока

11 перемещения образца. Результат нового измерения обрабатывается и вновь запоминается. Блок 7 усреднения производит вычисление средней индикатрисы рассеяния по выполнении цикла из N измерений, число которых (Н) определяется заданной точностью.

Регистрация результатов осуществляется блоком 8 выделения и обработки информационного сигнала и индикатором

9. 2 ил.

1397728

Устройство относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения параметров шероховатости поверхности.

Цель изобретения — повышение точности измерений параметров шероховатости за счет устранения влияния спекл-структуры рассеянного излучения путем статистической обработки результатов большого числа измерений параметров светового пучка, отраженного от разных точек исследуемого образца.

На фиг. 1 представлена блок-схема предлагаемого устройства," на фиг.2— распределение интенсивности рассеянного излучения (индикатриса рассеяния).

Устройство содержит источник 1 излучения, диафрагму 2, направляющую луч, исследуемый образец 3, держатель

4 образца, фотоприемный блок 5, состоящий из ПЗС-фотоприемника и аналого-цифрового преобразователя, запоминающий блок 6, блоки усреднения 7 и вычисления параметрбв шероховатости

8, индикатор 9, синхронизатор 10, блок. 11 перемещения образца. Лазер, образец и фотоприемник расположены так, что рассеянное излучение попадает на фоточувствительные ячейки.

Устройство работает следующим образом.

Луч лазера, пройдя диафрагму 2, которая формирует диаметр луча 0,5—

1 мм, попадает на исследуемый образец 3. Отраженное излучение регистрируется ПЗС-фотоприемником, видеосигнал, соответствующий индикатрисе рассеяния, преобраэовывается в цифровой код и запоминается в запоминающем блоке 6. После окончания запоминания видеосигнала, последний переписывается в блок 7 усреднения, где происходит накопление и усреднение индикатрис рассеяния. По окончании перезаписи подается команда на передвижение образца. С помощью специальной подвижки перемещение производится так, что угол падения лазерного луча îтносительно нормали остается постоянным (обычно выбирают этот угол 8-15 ). .При этом излучение лазера попадает на новый участок исследуемой поверхности, соответственно изменяется спекл-структура рассеянного излучения. Результат нового измерения считывается и запоминается повторно. Процесс измерения производится до достижения заданного числа опытов ° По окончании заданного числа

5 циклов накопления осуществляется усреднение видеосигнала, затем усредненный видеосигнал индикатрисы рассеяния поступает в блок обработки и выделения информационного сигнала, который осуществляет регистрацию параметров исследуемого образца.

В качестве примера на фиг.2 приведена индикатриса рассеяния при высоте шероховатости К 0,35 мкм (длина волны излучения лазера %

= 0,633 мкм). На фиг.2 (кривая 12) показана спекл-структура рассеянного излучения, что не позволяет точно разделить зеркальную и диффузно20 рассеянную компоненты отраженного света. Кривая 13 соответствует индикатрисе рассеяния, полученной после

50 циклов накопления (осциллограмма сигнала с выхода блока усреднения).

В этом случае диффузная и зеркаль- ная компоненты хорошо разделяются, поэтому точность измерений существенно возрастает. Аналогичные измерения проводят для измерения индикатрис рассеяния "на просвет" для прозрачных образцов с высотой шероховатости К 0,05-0,55 мкм. Диапазон измеряемых величин при длине волны

0,633 мкм 0,05-0,45 мкм, что составляет 0,06-0,7 (R„/Я) в единицах длин волн ° Расчет параметров шероховатости производится по известным формулам, Формула и з о б р е т е н и я

Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности, состоящее из оптически связанных источника излучения, блока перемещения образца и соединенных последовательно фотоприемного блока, запоминающего блока, блока усреднения и индикатора, синхронизатора, выход которого подключен к блоку перемещения образца, запоминающему блоку и блоку усреднения, о т л и ч а ю50 щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности измерений за счет снижения влияния спекл-структуры индикатрисы рассеяния, оно снабжено блоком вычисления параметров шероховатости, 55 вход которого соединен с выходом блока усреднения, а выход — с индикатором, запоминающий блок выполнен в виде схемы запоминания по и точкам.

1397728

Составитель В.Чулков

Редактор И.Горная Техред A,Кравчук Корректор О.Кравцова

Заказ 2261/38 Тираж 680, Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля шероховатостей поверхности оптически прозрачных деталей

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля изделий оптического приборостроения и позволяет выявлять локальные дефекты на внутренних поверхностях каналов микроканальных пластин по всей их длине Способ заключается в заполнении ьйскроканалов на всю их длину нематическим жидким кристаллом СНЖЙТ под действием капиллярных сил и наблюдении излучения торцов микроканалов с помощью поляризационного микроскопа

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля качества поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля шероховатости движущихся поверхностей

Изобретение относится к измери тельной технике, в частности к области оптического приборостроения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь- 39вано для контроля дефектов поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества металли .-еских покрытий на технических изделиях в процессе их нанесения

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх