Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической

 

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повьпиение точности и производительности измерения. Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической содержит корпус 1, установленную на нем центрирующую опору 2, державку 3 и шарнирно установленные на ней первый держатель 4 с измерительным узлом 5 и наконечником 6, второй анадогичный первому держатель 7 с измерительным узлом 8 и наконечником 9 и шарнир 10, а также винты 11 и .12 и фиксатор 13. При перемещении державки 3 контролируемой сферы сначала касается наконечник 9, т.к. установочная величина L больше величины радиуса конт- . ролируемой сферы. При дальнейшем перемещении касается контролируемой сферы наконечник 6, и показания узла 5 сравниваются с показаниями шкалы измерительного узла 8, т.к. его скорость перемещения в радиальном направлении в 1/coso раз больше скорости онаконечника 9, где t/ - угол между ося-, ми измерительных узлов 5 и 8 с нако- ff нечниками 6 и 9. Величина измеряемого Tj радиуса , где 1 и If - пока-v.. зания шкал измерительных узлов 5 и 8 ... соответственно. 1 ил.

ÄÄSUÄÄ 1413403 А1

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51)4 С 01 В 5 22

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

11

g f

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4199392/25-28 (22) 24.02.87 (46) 30.07.88. Бюл. У 28 (72) В.П.Поляков, А.И.Тихонов, Л.А.Ветчинов и В.А.Новиков (53) 531.717 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 979843, кл. С 01 В 5/22, 1980. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИУСА

КРИВИЗНЫ И ОТКЛОНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ ОТ

СФЕРИЧЕСКОЙ (») Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения. Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической содержит корпус 1, установленную на нем центрирующую опору 2, державку 3 и шарнирно установленные на ней пер- . вый держатель 4 с измерительным узлом

5 и наконечником 6, второй аналогичный первому держатель 7 с измерительным узлом 8 и наконечником. 9 и шарнир 10, а также винты 11 и 12 и фиксатор 13. При перемещении державки 3 контролируемой сферы сначала касается наконечник 9, т.к. установочная величина L больше величины радиуса контролируемой сферы. При дальнейшем перемещении касается контролируемой сферы наконечник 6, и показания узла

5 сравниваются с показаниями шкалы измерительного узла 8, т.к. его скорость перемещения в радиальном направлении в 1/cosd раз больше скорости а наконечника 9, где o(— угол между ося9 ии измерительных узлов 5 и 8 с вако- (/ нечниками 6 и 9. Величина измеряемого радиуса R=L-1 <<, где 11 и 1 - пока-С, зания шкал измерительных узлов 5 и 8 соответственно. 1 ил.

««

1413403

Формула изобретения

Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической, содержащее корпус, установленную на нем центрирующую опору, державку и шарнирно установленный на ней первый держатель с измерительным узлом и наконечником, о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено вторым аналогичным держателем, шарнирно соединенным с первым с возможностью совместного с ним осевого перемещения, а продольные оси наконечников расположены под острым углом одна к другой.

Составитель P.Æàëüíåðoâè÷

Редактор А,Маковская Техред. М.Ходанич Корректор Л.Патай

Заказ 3765/40 Тираж 680 Подписное

ВВИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, )К-35, Раушская наб,, д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике.

Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения.

На чертеже представлено устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической, общий вид.

Устройство содержит корпус 1, на котором установлены центрирующая опора

2 и державка 3. На державке 3 закреплен первый держатель 4 с установленным на нем измерительным узлом 5 и на 95 конечником 6 и второй аналогичный первому держатель 7 с измерительным узлом 8 и наконечником 9. Шарнир 10 установлен на державке 3 в точке пересечения продольных осей наконечников 6 и 9. Для фиксации положений измерительных узлов с наконечниками устройство снабжено винтами 11, а для перемещения державки 3 в измерительном направлении — винтом 12 и фикса- 25, тором 13.

Устройство работает следующим образом.

При помощи шаблона или измерительного инструмента измерительные узлы 30

5, 8 с наконечниками 6, 9 устанавливают так9 чтобы торцы измерительных наконечников были на одинаковом расстоянии L от оси шарнира 10, а величина измеряемого радиуса R — меньше величины L и больше Величины L 1 9 где 1 — величина хода наконечников измерительных узлов 5, 8, и в таком . положении фиксируют винтами 11. При этом оси наконечников 69 9 должны 4р быть расположены под различными углами относительно оси подвижной опоры

2. Контролируемую сферу устанавливают в гнездо опоры 2, ось которой соосна с осью держателя 4 с измерительным узлом 5 и наконечником 6 в крайнем осевом положении, что обеспечивается при изготовлении устройства. При перемещении державки 3 контролируемой сферы касается сначала наконечник 9, так как установочная величина L больше величины радиуса контролируемой сферы.

При дальнейшем перемещении контролируемой сферы касается наконечник 6.

Показания измерительного узла 5 сравнивают с показаниями шкалы измерительного узла 9, так как его скорость перемещения в радиальном направлении в 1/cos A раз больше скорости наконечника 9, где с/ — угол между осями измерительных узлов 5, 8 с наконечниками 6, 9. Величина измеряемого радиуса R=I. 1<< где 1> — показаI ния шкалы измерительного узла 5; 1 — показания шкалы измерительного узла 8.

Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической Устройство для измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны сферических, цилиндрических и конических поверхностей

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано преимущественно в подшипниковой промышленности для измерения сферичности шариков в различных плоскостях под любым заданным углом, в том числе не менее, чем в двух взаимно перпендикулярных плоскостях в соответствии с требованиями по контролю сферичности шариков на приборах типа кругломер

Сферометр // 619779

Изобретение относится к технологии машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам для измерения действительных размеров параметров наружных поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения форм поверхностей, например поверхности вымени коров

Изобретение относится к измерительной технике и применяется для измерения действительных размеров параметров внутренних поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к области машиностроения, а именно к способам контроля шаров, и может быть использовано в подшипниковой промышленности для промежуточного и окончательного контроля шаров

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля шаров

Изобретение относится к средствам для измерения сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике
Наверх