Устройство для контроля качества поверхности

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле качества различных поверхностей. Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых поверхностей, повышение чувствительности и точности контроля за счет возможности контроля поверхностей любой формы, поглощения злементом селекции зеркально отраженного излучения от большой площади поверхности сложной формы и пропускания рассеянного дефектами этой поверхности излучения. Излучение от источника 1 неполяризованного излучения направляется на поляроид 2 и преобразуется в поляризованное излучение. Излучениепадает на контролируемую поверхность 5, зеркально отражаясь от нее и рассеиваясь /.. на дефектах 6. Зеркально отраженное излучение поглощается элементом селекции излучения по поляризации за счет перпендикулярности его азимута направлению пропускания к плоскости поляризации этого излучения. Рассеянное дефектами 6 излучение за счет деполяризации проходит через поляроид 3 и регистрируется фотоэлектрическим преобразователем 4. Для выявления ориентации дефектов 6 поляроиды 2 и .3 вращают с одинаковой угловой скоростью со вокруг оптическойоси устройства . 1 з.п, ф-лы, 1 ил. W

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (511 4 6 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4036887/25-28 (22) 12,03,86 (46) 23.02,89, Бюл. № 7 (72) И.В.Порубов, В.В.Порубов и В.П.Гаращук (53) 531. 715.27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1024708, кл. G 01 В 11/30, 27.04.81 °

Авторское свидетельство. СССР

¹ 945652, кл. G 01 В ll/30, 09.06.80. (54)УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле качества различных поверхностей. Цель изобретения— расширение номенклатуры контролируемых поверхностей, повышение чувствительности и точности контроля за счет возможности контроля поверхностей любой форьы, поглощения элементом селекции зеркально отраженного излучения от большой площади поверх„„SU„„1460601 A1 ности сложной формы и пропускания рассеянного дефектами этой поверхности излучения. Излучение от источника 1 неполяризованного излучения направляется на поляроид 2 и преобразуется в поляризованное излучение.

Излучение падает на контролируемую поверхность 5, зеркально отражаясь от нее и рассеиваясь l: на дефектах

6. Зеркально отраженное излучение поглощается элементом селекции излучения по поляризации за счет перпендикулярности его азимута направлению пропускания к плоскости поляризации этого излучения. Рассеянное дефектами 6 излучение эа счет депо- д ляриэации проходит через поляроид 3

4Q и регистрируется фотоэлектрическим преобразователем 4. Для выявления ориентации дефектов 6 поляроиды 2 и С ..3 вращают с одинаковой угловой скоростью у вокруг оптической- оси уст- 2 ройства. 1 э.п, ф-лы, I ил.

1460601 отраженное излучение поглощается элементом селекции излучения по поляризации эа счет перпендикулярности его азимута направлению пропускания к плоскости поляризации этого излучения. Рассеянное дефектами 6 излучение за счет деполяризации проходит через поляроид 3 и регистрируется фотоэлектрическим преобразователем 4.

Для выявления ориентации дефектов

6 поляроид 2 источника 1 неполяриэованного излучения и поляроид 3 вращают с одинаковой угловой скоростью а вокруг оптической оси устройства. По фазе снимаемого с фотоэлектрического преобразователя 4 сигнала определяют преимущественное направление эффектов 6.

Формула и э о б р е т е и и я

Составитель Л.Лобзова

Редактор Л.Гратилло Техред Л.Олийнык

Корректор И,Муска

Заказ 534/50 Тираж 683 Подписное

ВНИИДИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГХЙТСССР

113035, Москва, Ж- 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101

Изобретение относится к измерительной технике и может быть ис" пользовано при контроле качества различных поверхностей.

Целью изобретения является расширение номенклатуры контролируемых поверхностей, повышение чувствительности и точности контроля за счет возможности контроля поверхностей,р любой формы, поглощения элементом : селекции зеркально отраженного излучения от большой площади поверхности сложной формы и.пропускания рассеян ного дефектами этой поверхности излу« 15 чения.

На чертеже показана оптическая схема устройства для контроля качества поверхности.

Устройство для контроля качества 20 поверхности содержит источник поляризованного излучения в виде источника 1 неполяризованного излучения и поляроида 2, элемент селекции излучения по поляризации с направле" 25 нием пропускания, перпендикулярным . плоскости поляризации зеркально отраженного излучения, выполненный в виде поляроида 3, и фотоэлектрический преобразователь 4, Источник 1 30 неполяризованного излучения и поляроид 2 установлены под острым углом к контролируемой поверхности 5, поляроид 3 и фотоэлектрический преобразователь 4 установлены на пути отраженного от контролируемой поверхности 5 излучения, Поляроиды 2 и 3 установлены с возможностью вращения с одинаковой угловой скоростью

Q вокруг оптической оси устройства. 40

Устройство работает следукицим образом.

Излучение от источника 1 неполяризованного излучения направляется на поляроиц 2 и преобразуется в

45 поляризованное излучение. Излучение падает на контролируемую поверхность

5, зеркально отражаясь от нее и рассеиваясь на дефектах 6. Зеркально

1. Устройство для контроля качества поверхности, содержащее источник оляпизованного излучения, устанавливаемый под острым углом к койтролируемой поверхности, и фотоэлектрический преобразователь, устанавливаемый на пути отраженного от контролируемой поверхности излучения, отличающееся теи, что, с целью расширения номенклатуры контролируемп поверхностей, повышения чувствительности и точности контроля, оно снабжено элементом селекции . излучения по поляризации с направлением пропускания, перпендикулярныи плоскости поляризации зеркально отраженного излучения, выполненным в виде поляроида, а источник поляризованног6 излучения выполнен в виде источника неполяризованного излучения и второго поляроида.

2, Устройство по п.1, о т л и -. ч а ю щ е е с я тем, что поляроиды установлены с возможностью Вращения с одинаковой угловой скоростью вокруг оптической оси устройства.