Способ измерения глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видеои компакт-дисков

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения глубины информационного микрорельефа оптических видео- , компакт-дисков и полимерных подложек с рельефной дорожкой для оптических дисков. Целью изобретения является повышение точности измерения 1 Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано, в частности, для измерения глубины информационного микрорельефа оптических видеои комг пакт-дисков:и полимерных подложек с рельефной дорожкой для оптических дисков.. Целью изобретения является повышение точности измерения глубины информационного микрорельефа за счет исключения погрешности от определения глубины информационного микрорельефа за счет исключения погрешности от определения абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражения. При помощи егистрирующего спектрофотометра с приставкой зеркального отражения регистрируют спектр зеркального отражения образца видеодиска в диапазоне от 0,2 до 1,1 мкм. В результате погашающей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны в спектре отражения наблюдают интерференционный минимум. По положению данного минимума определяют длину Арм«н волны, которая ему соответствует , и вычисляют искомую глубину информационного микрорельефа по формуле: h Др„ин / } 1 - , где - о( - угол падения излучения на поверхность диска; п - показатель преломления материала основы диска. 1 ил. i (Л 4 О) 00 со абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражения. На чертеже изображён пЗрофиль питов информационного микрорельефа и схема отражения света от него. На схеме обозначены защитное покрытие 1, отражающий слой А1 2, основа диска 3 с показателем преломления п. I Способ измерения глубины информационного микрорельефа осуществляется следующим образом.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТ ИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„„1467390 А1 р 4 G 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

flO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4179745/25-28 (22) 12.01.87 (46) 23.03.89. Бюл. Р 11 (72) Е.Ф.Киркач, Б.H.Копко, П.Д.Михайлишин, И.В.Садженица и В.Н.Соболев (53) 531.715.27(088.8) (56) Кучин А.А., Обрадович К.А. Оптические приборы для измерения шероховатости. Л.: Машиностроение, 1981, с. 150"175. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ИНФОРМАЦИОННОГО МИКРОРЕЛЬЕФА ОТРАЖАТЕЛЬНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ВИДЕО- И КОМПАКТДИСКОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения глубины информационного микрорельефа оптических видео-, компакт-дисков и полимерных подложек с рельефной дорожкой для оптических дисков. Целью изобретения является повышение точности измерения

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано, в частности, для измерения глубины информационного микрорельефа оптических видео- и компакт-дисков.и полимерных подложек с рельефной дорожкой для оптических дисков.

Целью изобретения является повышение точности измерения глубины информационного микрорельефа за счет исключения погрешности от определения глубины информационного микрорельефа за счет исключения погрешности от. определения абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражения. При помощи регистрирующего спектрофотометра с приставкой зеркального отражения регистрируют спектр зеркального отражения образца вйдеодиска в диапазоне от 0,2 до

1, 1 мкм. В результате погашающей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны в спектре отражения наблюдают интерференционный минимум. По положению данного минимума определяют длину Я „ц, волны, которая ему соответствует, и вычисляют искомую глубину информационного микрорельефа по фор-,,.

-;... Г Р= ТУТ, „,.

Ы вЂ” угол падения излучения на но«.. верхность диска; n — показатель преломления материала основы диска.

1 ила 4ь абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражения.

На чертеже изображен профиль питов информационного микрорельефа и схема отражения света от него.

На схеме обозначены защитное покрытие 1, отражающий слой Al 2, основа диска 3 с показателем преломления и.

Способ измерения глубины информационного микрорельефа осуществляется следующим образом.

1,467390

Монохроматический пучок света Т

1тройдя через полимерный слой 2 основы 3 с показателем преломления и, отражается от микрорельефа глубиной

11. Интерференционный минимум форми5

Вуется sa счет возникающей на стуеньке элемента информации разности . хода межпу пучками I1 и I

8 2hn cos p, (1) 1де 8 — угол преломления.

При сложении колебаний Т, и I .! суммарная интенсивность равна

I I. + Т1 + 2ЧТТТа cos — ". (2)

Экстремум у этой функции I

aI удет при условии = Q

I l . 2Q 27!д

- = -24I I (sin ) 0 аЛ 1 Л Л

1 (3)

Это условие выполнимо только при

2Ъ 2Тв

sin (—,— ) = 0 . — — = К1

1 (4) 30 где К 1,2.

ПриК=1

2D 2. 2 hn cosp

h Л (5)

Угол в удобнее выразить через Л и п

4hn 1 — sin> p

4h

1 (e) = Л, бтсюца

Л

h—

4 и (7) 50

Так как cos I -1, то экстремум является минимумом.

Для эффективного применения предлагаемого способа необходимо, чтобы глубина измеряемого информационного

Микрорельефа в пределах поля измереЬ ния удовлетворяла условию — „- < О, 1, где о — среднее квадратическое отклонение h от среднего значения h в пределах поля измерения где Л вЂ” нижняя граница спектрального диапазона, в котором регистрируется спектр зеркального отражения образца.

Разброс глубины профиля микрорельефа относительно среднего значения

h в пределах поля измерения не должен превышать 0 1 Л . Если 6 = 0,2Л то относительный коэффициент зеркального отражения уменьшается почти до нуля, т.е. такая поверхность перестает зеркально отражать и становится диффузно отражающим объектом.

В зависимости от назначения оптического диска глубина информационного микрорельефа на нем принимает значения в пределах 700-1600 X. Спектральная область, в которой наблюдаются интерференционные минимумы в спектре зеркального отражения, соответствующие этим глубинам, заключена между длинами волн, равными 0,42 и 0 96 мкм соответственно. Дпя четкой регистрации экстремума спектральную область необходимо расширить на 0,15-0,2 мкм в обе стороны. В предельном случае требуемый спектральный диапазон измерения 0,2—

1,1 мам.

При помощи регистрирующего спектрометра с приставкой зеркального от,— ражения регистрируют спектр зеркального отражения образца видеодиска в диапазоне 0,2 — 1, 1 мкм. В результате погашающей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны s спектре отражения наблюдается интерференционный минимум, По положению данного миниму" ма определяют длину Ь волны, которая ему соответствует, т.е. A р 1 11 и, подставив ее значение в формулу (7) вычисляют искомую глубину h инфор мационного микрорельефа.

Формула изобретения

Способ измерения глубины информа, ционного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков, заключающийся в том, что облучают монохроматическим излучением мнк

1467390 ствующую ему длину 3> „„„, а глубину

h микрорельефа определяют по формуле

Составитель Л. Лобзова

Редактор Л. Гратилло Техред М.Дидык Корректор М. Пожо

Заказ 1184/37 Тираж 683 Порписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 рельеф, регистрируют интенсивность зеркально отраженного от микрорелье-! фа излучения и определяют его глубину, отличающийся тем, 5 что, с целью повышения точности измерения, непрерывно измеряют длину волны излучения в диапазоне от

0,2 до 1, 1 мкм, по минимуму интенсивности зеркально отраженного от микро- 10 рельефа излучения находят соответр мин

Д =Д„Г7 где Ы вЂ” угол падения излучения на поверхность диска;

n — показатель преломления материала основы диска.

Способ измерения глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видеои компакт-дисков Способ измерения глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видеои компакт-дисков Способ измерения глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видеои компакт-дисков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля дефектов прверхности цилиндрических деталей, преимущественно эмалевого покрытия проводов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле качества различных поверхностей

Изобретение относится к измерительной тех1шке и может быть использовано для диагностики слабошероховатой поверхности

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к устройствам бесконтактного оптического контроля шероховатости поверхности внутренних полостей

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения параметров шероховатости поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и является усовершенствованием изрестного устройства по авт

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения предельной высоты неровностей плоской или цилиндрической формы

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения глубины раковин , треш,ин и других микродефектов на поверхности катодов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования и контрапя состояния поверхности оптических узлов и деталей в условиях их эксплуатации

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх