Способ измерения отклонения от плоскостности тонколистовых деталей

 

Способ измерения отклонения от плоскостности тонколистовых деталей, заключающийся в том, что деталь размещают на горизонтальной поверхности из легкодеформируемого материала, а величину отклонения от плоскостности определяют как наибольшее расстояние от базовой линии до проверяемой поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, деталь вилкой опускают на поверхность прозрачной жидкости, налитой в ванночку из прозрачного материала, проецируют на проверяемую поверхность изображение освещенной щели двойного микроскопа, перемещают деталь и определяют величину отклонения от плоскостности.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения шероховатости и управления процессом обработки деталей

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для контроля твердости и шероховатости поверхности металлических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано для измерения круглости поверхностей детали непосредственно на металлорежущем станке

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к технике измерения крупногабаритных объектов сложной криволинейной формы в авиаи судостроении

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх