Патент ссср 160859

Авторы патента:

G02B21 - Микроскопы (окуляры G02B 25/00; поляризующие оптические системы G02B 27/28; измерительные микроскопы G01B 9/04; микротомы G01N 1/06; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием метода сканирующего зонда, например метод с использованием сканирующего туннельного микроскопа или оптического микроскопа, сканирующего в ближней зоне G01N 13/10; конструктивные детали устройств сканирующих зондов вообще G12B 21/00)

G01N21/67 - с использованием электрической дуги или разрядов (разрядники H01T)

G01J3/04 - щелевые устройства

G01J3 - Спектрометрия; спектрофотометрия; монохроматоры; измерение цвета

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

COllИАЛИСТИЧЕСКИХ

Респу БЛИК

ОПИСАНИЕ

ИЗ ОБ РЕТЕН И Н

К АВТОРСКОМУ СВИАБТЕЛЬСТВУ

X 160859

Класс

42h, 20в(Ф. л(а

МПК

О 02d

Заявлено 24.Х.1962 (№ 800034126-10) 10СУДАРСТВЕННЫИ

КОМИТЕТ ПО ДЕЛАМ

И ОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ СССР

УДК

Опубликовано 26.II.1964. Бюллетень № 6

Подписная грунта № 163

Н. В. Королей

ОПТИЧЕСКИЙ ЭМИССИОННЪ1Й МИКРОАНАЛИЗАТОР

Известные приборы для эмиссионного микроанализа не позволяют достаточно надежно выделить нужную зону из анализируемой пробы.

Предложенный прибор отличается от известных тем, что в нем оптическая система микроскопа проектирует изображение искры на зеркальную щель спектрального прибора.

Кроме того, для контроля при совмещении спектральных линий с входными щелями спектрального прибора в нем система поджига искры подключена к блоку строчной развертки телевизионной трубки.

На чертеже изображена оптическая схема эмиссионного микроанализатора, Свет от источника 1 через систему 2, 3, 4 опакиллюминатора, отражаясь от кварцевой пластинки 5, попадает на объект 6 исследования в отраженном свете либо на электроды 7 и 8 при контроле их установки, Контроль осуществляется через оптическую систему, состоящую из микрообъектива 9, наклонной кварцевой пластинки 5, ахроматиче. ского кварц -флюоритового блока линз 10, наклонного плоского зеркала 11, вогнутого кварцевого зеркала 12, объектива 13 зрительной трубки, проектирующего изображение с поверхности зеркала 12 в окуляр 14 с увеличением 1:1, Узкая щель, прорезанная в слое алюминия зеркала 12, является щелью спектрального прибора с оптическими деталями 15, 16, 17, 18, после которых интенсивность выбранных аналитических линий через прорезь в зеркале 18 регистрируется фотоумножителем 19, а лучи, отраженные от зеркала 18 с помощью деталей

20, 21, проектируются на экран передающей телевизионной трубки 22 либо при выведенном зеркале 21 через зеркальную щель коллекторной линзы 23 свет попадает ца катод фотоумножителя 24.

Предмет изобретения

1. Оптический эмиссионный микроанализатор, содержащий микроскоп для исследований в отраженном свете, спектрограф и аппаратуру для фотоэлектрической регистрации, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения локальности и абсолютной чувствительности эмиссионного микроанализатора, в пем оптическая система микроскопа проектирует изображение искры на зеркальную щель спектрального прибора.

2. Микроанализатор по и. 1, о тл и ч а юшийся тем, что в нем, для контроля при совмещении спектральных линий с входными щелями спектрографа система поджига искры подключена к блоку строчной развертки телевизионной трубки. № 160859 о.Ж

Составит«ль Л. Я. Гойхман

Редактор Л. В. Калашникова Техрсд 1О. В. Баранов Корректор О. Б. Тюрин,i

Поди. к печ. 29, 1 вЂ” 64 г. Формат бум. 60 )(90 Объем 0.23 изд, л.

Заказ 935)4 Тираж 600 Цена 5 коп.

ЦНИИГ1И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР й1осква, Нентр, пр. Серова, д. 4

Типографии, пр. Сапунова, 2