Образцовая мера для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности и произвоительности аттестации и поверки, и кроме того, упрощение изготовления. Сущность: рельеф образцовой поверхности образован пересечением двух цилиндрических поверхностей с параллельными осями симметрии и перпендикулярными базовой поверхности с радиусами, функционально зависящими от передаточной характеристики поверяемого прибора. Рельеф образован напылением металла. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (у)g G 01 В 5/28

5 .:г Л

Мй:11:."

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 3721742/25-28 (22) 09.04.84 (46) 07.05.90. Бнн . Р 17 (72) В.С.Чихалов, Н.Д.Птичкина и А.А.Кучин (53) 531.717 (088.8) (5á) Авторское свидетельство СССР по заявке Р 3348139/25-28, кл. G Oi В 5/28, 20.10.81, (54) (57) 1. ОБРАЗЦОВАЯ МЕРА ДЛЯ АТТЕСТАПИИ И ПОВЕРКИ ПРИБОРОВ, ИЗМЕРЯЮЩИХ ПАРАМЕТРЫ НЕРОВНОСТЕЙ ПРОФИЛЕЙ

И ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащая основание с базовой поверхностью и закрепленную на ней цилиндрическую оправку с образцовой поверхностью, имею. щей рельеф с калиброванным отклонением формы, спектр которого существенно уже номинальной полосы пропускания стандартизованных фильтров и

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей.

Целью изобретения является повышение точности и производительности аттестации и поверки и кроме того, упрощение изготовления.

На фиг. 1 показана образцовая мера; на фиг.2 — сечение А-А на фиг,1; на фиг.3 — цилиндрическая оправка с образцовой поверхностью.

Образцовая мера содержит основание

1 с базовой поверхностью 2, закрепленную на ней с помощью установоч„„SU„1562673 А 1 имеет частоту наибольшей по амплиту= де гармонической составляющей, равную частоте, соответствующей максимальному коэффициенту передачи амплитудно-частотной характеристики соответствующего фильтра, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повышения точности и производительности аттестации и поверки, рельеф образцовой поверхности образован пересечением двух цилиндрических поверхностей с параллельными осями симметрии и перпендикулярными базовой поверхности с радиусами, функционально зависящими от передаточной характеристики поверяемого прибора.

2. Образцовая мера по п.1, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью упрощения изготовления, рельеф образцовой поверхности образован напылением металла. ной крышки 3 и гайки 4 цилиндрическую опРавку 5 с образцовой поверхностью, имеющей рельеф с калиброванным отклонением формы, спектр которого существенно уже номинальной полосы пропускания стандартизованных фильтров и имеет частоту наибольшей по амплитуде гармонической составляющей, равную частоте, соответствующей максимальному коэффициенту передачи амплитудно-частотной характеристики соответствующего фильтра, а рельеф образцовой поверхности образован пересечением двух цилиндрических поверхностей с параллельными осями симметрии и перпендикулярными базовой

1562673

4 радиус цилиндрической поверхности; радиус дуги лыски; глубина лыски; текущее значение угла; где В

Р

Н

d.

2Р,„(Н 8-R в1 +Н)

Функциональная связь радиусов йв, и Rs и передаточной характеристики поверяемого прибора представляется в виде — (Р + (P. 8-Pä +EE) . c o s (ск g- ск ) +

° sin (ы8-ы;) 2II К 2

P а cos(— — i +y )+Ь sin(- — — i+@ )l

Ноях макс к=2 n < к п к J

У вх ма кс Е

2ГК .. 27t К (а cos — — i+b s in — — — i) к к к=2 п и

20 где U и — значения сиг- Нвык ма с

8wx макс, ВХ макс щих условию - — -кс- 1, для станнала на выходе и входе прибора, соответствующие максимальным значениям дартизованных значений коэффициентов параметров неровностей, увеличений и номинальной полосы пропускания неровностей фильтра, равной а и Ь вЂ” коэффициенты Фурье 1-50 неровностей за период. к-й гармоники Отклонения радиус-вектора образцовой поверхности цилиндрической а к

4 о. cos (— — — i)

2ТВК

3 i и оправки (фиг.3) определяются из выражения

28К йа. cos .(— — — i), 3 l и

4о. =Н cosp +

31

1 где EI

Г Rl8 ++EE -R88

arccos

Высота выступа определяется иэ выражения поверхности с радиусами, функционально зависящими от передаточной характеристики поверяемого прибора.

Рельеф образцовой поверхности можег быть выполнен и в виде выступа, образованного напылением металла (фиг.З). Отклонения радиуса-вектора образцовой поверхности цилиндрической оправки 5 (фиг.2) определяются из выражения

Г z 2

С = ч а +Ь вЂ” амплитуда к-й гарк к моники, 35

Соотноыение значений R» P8 и Н выбирают из условия

CK (678 где Р о — значение стандартизованной амплитудно-частотной характеристики на уровне

0,75 нормируемой отсечки.

Р и у амплитудно- и фаэо-частотные характеристики прибора, опреде- 45 ляемые параметрами двухзвенного RC фильтра с независимыми звеньями.

Б ВЫХ макс

Для удовлетворения условия -- — —, ВХ макс

=1 необходимо, чтобы спектральный состав отклонения формы был бы не более десяти неровностей за период измерения на уровне 0,75 амплитудночастотной характеристики прибора.

С помощью представленных функциональных зависимостей может быть изготовлен набор образцовых мер со значениями P., P. s и Н, удовлетворяюрасстояние между центрами кривизны профилей поверхностей; радиус цилиндрической поверхности; радиус дуги выступа; текущее значение угла, изменяющееся в пределах

-Po (f3i «(Ро =P, +Н-Р, 4о 8 fTl

Значения Р,, Р, Н и р функциоln 8 a нально зависят от значения передаточI ной характеристики поверяемого прибора.

Выполнение выступа методом напыления или пайки конструктивно проще и менее трудоемко при изготовлении.

Аттестацию и поверку прибора с помощью набора мер производят по известной методике.

1562673

Риг.2

Составитель В.Харитонов

Техред Л.Сердюкова Корректор C.1!евкун

Редактор Г.Гербер

Тираж 491

Подписное

Заказ 1053

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Образцовая мера для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей Образцовая мера для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей Образцовая мера для аттестации и поверки приборов, измеряющих параметры неровностей профилей и поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров поврежденной поверхности трения детали по отклонениям от заданного профиля

Изобретение относится к техническим измерениям

Изобретение относится к области машиностроения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в деревообрабатывающей промышленности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к средствам измерения координат криволинейных поверхностей крупногабаритных объектов в авиаи судостроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений отклонений от прямолинейности

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх