Способ определения остаточного ресурса эксплуатации деталей энергооборудования, работающих в условиях малоизменяющихся нагрузки и температуры, из стали с интерметаллидным упрочнением, заключающийся в отборе пробы с поверхности детали методом скола или "лодочкой", растворении ее электролитически и получения анодного осадка для определения параметра, характеризующего ресурс, отличающийся тем, что, с целью сокращения трудоемкости и повышения точности, полученный анодный осадок подвергают рентгеноструктурному исследованию, а в качестве параметра, характеризующего остаточный ресурс, принимают отношение интенсивностей рентгеновских линий интерметаллидной и карбидной фаз, строят тарировочную кривую: отношение интенсивностей линий - время эксплуатации вплоть до разрушения образца, и остаточный ресурс определяют, сравнивая время эксплуатации, соответствующее полученному отношению интенсивностей линий пробы, со временем эксплуатации, соответствующим состоянию разрушения детали.
Похожие патенты:
Изобретение относится к технической физике, конкретнее, к средствам экспрессного контроля продуктов технологического процесса магниевого производства
Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к средствам исследования структуры материалов в широком диапазоне температур и давлений с помощью дифракции нейтронов
Изобретение относится к области приборов для рентгеноструктурных исследований кристаллов, в частности к многокристальным приборам типа спектрометров и дифрактометров
Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, и, в частности, к средствам рентгенографического контроля монокристаллов
Изобретение относится к научному приборостроению
Изобретение относится к физическому материаловедению и может быть использовано, в частности, для контроля продуктов электролиза
Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для анализа кристаллических веществ
Изобретение относится к рентгенодифракционному анализу приповерхностных слоев совершенных кристаллов и может быть использовано для отработки технологии создания изделий микроэлектроники
Изобретение относится к научному приборостроению и, в частности, к средствам рентгенографического контроля поликристаллических материалов
Изобретение относится к аппаратуре для рентгеноструктурных исследований и обеспечивает возможность контроля крупногабаритных изделий и мелких деталей сложного профиля
Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей
Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате
Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"
Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека
Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
