Лазерная технологическая установка

 

Изобретение относится к квантовой электронике и может быть применено при создании лазерного технологического оборудования. Целью изобретения является повышение КПД использования излучения и надежности установки. Формирователь профиля лазерного луча установки образован по крайней мере одной профилированной и охлаждаемой щелевой электродной системой лазера. Электродная система подключена к ВЧ-источнику и образует оптический планарный волновод. На рабочие поверхности электродной системы нанесено неметаллическое покрытие с низкими волноводными потерями, обладающее меньшим, чем материал электродов, эффективным коэффициентом вторичной эмиссии. Межэлектродный зазор постоянен для всей щели, находящейся внутри оптического резонатора . 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4469807/25 (22) 29.07.88 (46) 23.04.91. Бюл. № 15 (71) Институт проблем механики АН СССР (72) П. П. Витрук и Н. А. Яценко (53) 621.375.8 (088.8) (56) Григорьянц А. Г. и Сафонов А. Н. Методы поверхностной лазерной обработки.—

М.: Высшая школа, 1987, с. 36.

Там же, ст. 178. (54) ЛАЗЕРНАЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ

УСТАНОВКА (57) Изобретение относится к квантовой электронике и может быть применено при создании лазерного технологического оборудования. Целью изобретения является

Изобретение относится к квантовой электронике и может быть использовано при разработке лазерных технологических установок.

Цель изобретения — повышение КПД использования излучения и надежности лазерной технологической установки.

На фиг. 1 и 2 изображены электродноволноводные системы установки, поперечное сечение (ось резонатора перпендикулярна плоскости чертежа) .

Установка содержит профилированные металлические электроды 1 и 2, на рабочие поверхности которых нанесено неметаллическое покрытие 3 и образующие оптический планарный волновод. С обоих торцов электродно-волноводной системы установлены зеркала 4 оптического резонатора. Кроме того, изображены стенки разрядной камеры 5, ВЧ-источник 6 питания, система 7 охлаждения (водопроводная сеть). Установка может быть снабжена программируемой системой 8 подачи ВЧ-напряжения на электÄÄSUÄÄ 1644270 А 1 (51) 5 Н 01 $3/22 В 23 К 26 06 повышение КПД использования излучения и надежности установки. Формирователь профиля лазерного луча установки образован по крайней мере одной профилированной и охлаждаем ой щелевой электродной системой лазера. Электродная система подключена к ВЧ-источнику и образует оптический планарный волновод. На рабочие поверхности электродной системы нанесено неметаллическое покрытие с низкими волноводными потерями, обладающее меньшим, чем материал электродов, эффективным коэффициентом вторичной эмиссии. Межэлектродный зазор постоянен для всей щели, находящейся внутри оптического резонатора. 2 ил. роды. Неметаллическое покрытие 3 обладает низкими волноводными потерями и меньшим, чем материал электродов, эффективным коэффициентом вторичной эмиссии. Межэлектродный зазор d постоянен для всей щели, находящейся внутри оптического резонатора, и выбирается из соотношения

С1/f

Выполнение электродов профилированными и их взаимное расположение в соответствии с указанными условиями обеспечивает заполнение активной средой щелевой конфигурации поперечного к оптической оси резонатора сечения межэлектродного зазора, что необходимо для формирования требуемого профиля лазерного луча. Волноводный режим распространения лазерного

1644270

30 излучения внутри резонатора упрощает настройку резонатора и повышает стабильность его работы. Покрытие рабочей поверхности электродов неметаллическим материалом с низкими волноводными потерями и имеющим более низкий коэффициент вторичной эмиссии, чем материал электродов, а также выбор межэлектродного зазора в указанных пределах, позволяют осуществить слаботочный режим горения ВЧ-разряда, при котором весь межэлектродный объем (за исключением тонких приэлектродных слоев пространственного заряда, стабилизирующих разряд) можно заполнить плазмой с требуемыми лазерными характеристиками, и повысить порог перехода разряда в сильноточный режим, при котором происходит срыв лазерной генерации, т. е. тем самым повысить надежность работы установки. Эффективность превращения электроэнергии ВЧ-источника питания в лазерное излучение, непосредственно идущее на технологическое применение, равна КПД самого лазера. В установке используется простейшая электродная система без дополнительных стабилизирующих плазму устройств, что упрощает конструкцию и, в конечном итоге, повышает надежность эксплуатации установки.

Лазерная технологическая установка, например с СО -лазером работает следующим образом.

4

Для указанных разрядных условий С,=

=1,6-10 см ° Гц, С =50 см.Тор и C>/j=

=0,02 см, С /Р=2,5 см. Экспериментально установлено, что оптимальной в рассмотренном случае является величина межэлектродного зазора, равная 4 мм. В общем случае Ci и С находятся экспериментально по следующей методике. При фиксированном

d и разных значениях P измеряют минимальное значение ВЧ-напряжения на электродах

У„„„(Р), при котором еще реализуется в стационарном режиме слаботочная форма

ВЧ-разряда. Затем увеличивают ВЧ-напряжение до величины U„„ (P), при которой наблюдается переход ВЧ-разряда в сильноточный режим горения. Измеряют У„,р(р)

С ростом P У„„„(Р)-+43„„(Р). Величина P при котором U„„„(P) =U„„(P) является критической для данного d. Изменяя межэлектродный зазор d и повторяя указанные измерения для каждого d, получают зависимость

P=f(d), из которой находится С . Таким жс образом определяется Ci.

Мощность лазерного излучения в установке определяется площадью рабочих поверхностей электродов и мощностью ВЧисточника питания и может достигать нескольких киловатт. При этом поперечное сечение межэлектродного зазора може иметь требуемый для конкретного технологического процесса профиль, что позволяет совместить функции электродной системы и формирователя профиля лазерного луча.

Формула изобретения

После включения протока хладагента через систему 7 охлаждения электродов 1 и 2, заполнения разрядной камеры смесью

СО .N .Íå=1:1:3 при давлении 20 Тор, подачи ВЧ-напряжения от источника 6 питания частотой 81 МГц на электроды 1 и 2 с обеспечением слаботочного режима горения ВЧразряда и настройки зеркал 4 оптического резонатора возникает лазерная генерация.

Мощность и профиль луча определяются геометрией электродно-волноводной системы и выбираются с учетом конкретного технологического процесса. Длина резонатора определяется условием волноводности распространения лазерного излучения внутри резонатора. Взаимное расположение электродов таково, что расстояние между ними удовлетворяет приведенному выше неравенству.

Параметры Ci/f и С /Р имеют следующий физический смысл: Ci/f — толщина приэлектродных слоев пространственного заряда, которые всегда возникают на границе плазмы разряда с электродами и обладают в слаботочном режиме емкостной проводимостью (с точностью до ионных токов насыщения); С /P — предельная длина плазменного столба, при превышении которой величина ВЧ-напряжения на емкостных приэлектродных слоях достаточна для их пробоя с участием вторично-эмиссионных процессов

Лазерная технологическая установка, содержащая газовый лазер с электродной системой и оптическим резонатором и формирователь профиля лазерного луча, отличающаяся тем, что, с целью повышения КПД использования излучения и надежности установки, формирователь профиля лазерного луча образован по крайней мере одной профилированной щелевой электродной системой лазера, рабочие поверхности которой образуют оптический планарный волновод, подключенный к ВЧ-источнику питания, при этом на рабочие поверхности электродной системы нанесено неметаллическое покрытие, обладающее меньшим, чем материал электродов, эффективным коэффициентом вторичной эмиссии, расстояние d между электродами выполнено постоянным для всей щели, находящейся внутри оптического резонатора, и удовлетворяет следующему соотношению:

С,/f(d(C>/P, где Ci — константа, определяемая родом рабочего газа; f — частота ВЧ-источника питания; C> — константа, определяемая родом рабочего газа, материалом покрытия электродов и частотой ВЧ-источника питания; P — давление рабочего газа.

1644270

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Моска а, )К вЂ” 35, Раушска я наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат «Патент», г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Редактор Н. Тупица

Заказ 1245

Составитель Ю. Смаковский

Техред А. Кравчук Корректор О. Кравцова

Тираж 327 Подписное

Лазерная технологическая установка Лазерная технологическая установка Лазерная технологическая установка 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к квантовой электронике и может быть использовало при разработке лазеров на па2 pax химических элементов

Изобретение относится к квантовой электронике и может быть использовано в лазерах на парах металлов

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано в производстве активных элементов газовых лазеров

Изобретение относится к обл.&.с.-и квантовой электроники и может бьп ь использовано нри разработке лазеров на парах веществ

Изобретение относится к области квантовой электроники, более конкретно , к плазменным источникам когерентного излучения с рабочими длинами волн в диапазоне вакуумного ультрафиолета и мягкого рентгена

Изобретение относится к квантовой электронике, в частности к конструкциям ионных лазеров

Изобретение относится к области квантовой электропики и может быть использовано при разработке лазерных смесей для электроионизационных непрерывных и импульсно-периодиче ските СО -лазеров

Изобретение относится к оборудованию для взрывной обработки и может быть использовано для сварки, резки, штамповки и упрочнения материалов

Изобретение относится к машиностроению, конкретно к вопросам технологии лазерной сварки, в частности к способу сварки труб из плакированной ленты
Наверх