Устройство для контроля печатных плат

 

Устройство для контроля печатных плат, содержащее диэлектрическое основание для размещения печатной платы и механизм контактирования, соединенный с измерительным блоком, отличающееся тем, что, с целью повышения технологичности, механизм контактирования выполнен в виде токопроводящего валика, соединенного с приводом, а основание для печатной платы снабжено металлической подложкой, электрически соединенной с измерительным блоком.

Дата прекращения действия патента: 11.10.1997

Номер и год публикации бюллетеня: 3-2000

Код раздела: MM4A

Извещение опубликовано: 27.01.2000        




 

Похожие патенты:

Изобретение относится к производству блоков радиоэлектронной аппаратуры с применением печатного монтажа и может быть использовано для оценки качества паяных соединений выводов радиоэлементов с контактной площадкой печатной платы

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к устройствам для сортировки изделий, преимущественно радиодеталей, в установках для разбраковки их по электрическим параметрам

Изобретение относится к контролю радиодеталей по электрическим параметрам, в частности к устройствам для контроля и сортировки стержней с цилиндрической точкой магнитной пленкой

Изобретение относится к производству радиодеталей и может быть использовано для тренировки секций конденсаторов постоянной емкости

Изобретение относится к области производства радиодеталей, в частности к устройствам для контроля и сортировки радиодеталей по электрическим параметрам конденсаторов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для контроля микросхем

Изобретение относится к области производства радиоэлектронной аппаратуры, а именно к устройствам для регулировки и ремонта печатных плат с электрорадиоэлементами

Изобретение относится к области производства радиоэлементов (РЭ), а именно к устройствам для сортировки РЭ по электрическим и конструкционным параметрам

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к электронным схемам общего назначения и в частности может использоваться при определении вида технического состояния цифровых устройств с обнаружением и локализацией различных дефектов

Изобретение относится к области к области электричества, в частности к оборудованию для контроля радиоэлементов, и может быть использовано для контроля энергетических параметров, например, СВЧ-транзисторов

Изобретение относится к непрерывной выбраковке дефектных схемных элементов (2) из общего числа схемных элементов (2)

Изобретение относится к технике контроля изделий радиоэлектроники и может быть использовано в производстве конструкцийблоков радиоэлектронных средств широкого назначения

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для контроля печатных плат

Изобретение относится к электротехнической , радиотехнической и электронной промышленности и найдет применение при контроле печатных плат

Изобретение относится к контрольно-справочным устройствам и может быть применено в производстве изделий электронной техники
Наверх