Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа

 

=,т з, — - .р . : ° т, .-,—,:....: т,о

W" Ú

ЬЪ т>

Тот тКОЛЕбаНИЯКИ подачу на варикап

11апряжения, изме :астоты и первой

0 ЕЗ 01ттан С ПОИ

QA т

9 Ей Подавай i 3 В:-т1И;1а.7 ра1E/„- ВЬ1:1т)ан""101 0 К- ПрЯЖЕ11ИЯ., ИЗМЕртя .Гт рЕЗ и EiiC

1т1ЗО60ЕТЕт1ИЕ 0 т»нот И -.iI т- р ПИО..ИЗ

1т1Е тИТЕЛВ1101" ТЕКНт1КЕ И 110>КЕТ бцТВ ИС пользовано для оп»еделеиия доепотРади -, тЛЕ1т1ЕЧТ01E Е201ОСТЕ10 О Тттпа

1РКУ) с -.Верд1, :; E„-.IIäлектр,—;.011 напри тз гт

МЕР Жй Ко:7дтЕНС ЯТCP ОГ и С 11 ОЛУПР ОВОД

НИКОВЫМ ПЕ" ЕХО ПОИ -: ==i Ст Нос Т" .- В Р рикапов.

1тЕЛВ тт1З ЯРЕ тЕНИЯ =,:ОВ1111ЕНИЕ ТОЧ ности измерении и расжире11ие диапаЗОНа ОПРЕДЕЛЕ111И1 ДООРОТНОС т И РаДИО

З Л М Е Н ТО В ттт КО С Т .

110ставленная IIGJ дост"-I ается

ЧТО СО "ЛССПО СПОСтООт1 Q;:".0 ÄCIIE= IEII;i ДОО

;-.- З C К -; —;:таят:-.ТОП,.-"-.т ттт

-:=:0 -;т -. 1т1т*Р- 1-. -i 0- П-. -.т .- --- -,gт,т EEE+:, ттЕ1 тт т 01тт у1i т .", "",,-.«>()» C i тт,ттт < т « "EB0 тт р 0". .:. ;": .-: . -.B...-, 0 ÇÏÐ Ê"= Н ™ О 3;-.. М .10 С Т Н 0 т, т

:ii,. ПЗПРК ЕР В;= - 1Гт ."ПОВ ВКГ."тт1тт11ПЕ2." " .! :3 Е . . тИЕ Е11КС С и Ва ОИКапа ПОИ

1 ::Д1=. 1от1ЕИИтЕЕ ВаРИКапа К ВЬХОДУ

Коа", . т. лт-* тот О рЕЗОнатооа у «070pEEE

ВОЗ тт М ;а тЭ". Ii 202 C TPßHÁßÑÌÜÛÈ IIQ Ча СШИтт -НЫ ПОЛОСЫ . Роют СIтаНИЯ РЕЗОНА ЯТОРЯ

Вм-"сто радиоэлемен-а в-.;:-:Оду резонат-ра. Подключахт перес:::-::;вае;и по еь1ка.ти зазду11ныи

"т:. ъ.- Ф т

j ттуутт.. т1

1 . тт тм у т

j т* т.Ь

1651236

15

1

Q = — —Яг с

1

Яс g (2) 35. (3) 40

ФС

Я с Q, (4) 1 1

fe

Q a

5f конденсатор, изменением емкости которого резонатор настраивают в резонанс с ранее измеренной частотой и измеряют вторую ширину полосы пропускания резонатора с конденсатором

1 причем при измерении первой ширины полосы пропускания радиоэлемент подключен к обеим обкладкам конденсатора, емкость которого выключена из резонатора, а при измерении второй ширины полосы пропускания емкость конденсатора включена в резонатор и равна емкости радиоэлемента, добротность радиоэлемента определяют как отношение резонансной частоты к. разности первой и второй ширины полос пронускания резонатора с радиоэлементом и конденсатором соответственно.

После измерения емкости радиоэлемента, подключения его к выходу коаксиального резонатора, измерения резонансной частоты и первой ширины полосы пропускания резонатора с радиоэлементом вместо радиоэлемента к выходу резонатора подключают емкость перестраиваемого воздушного конденсатора, равную емкости радиоэлемента, и измеряют вторую ширину по-лосы пропускания резонатора с конденсатором, добротность радиоэлемента определяют как отношение резонансной частоты к разности первой и второй ширины полос пропускания резонатора с радиоэлементом и конденсатором соответственно. При измерении первой ширины полосы пропускания резонатора с радиоэлементом радиоэлемент подключают к обеим обкладкам конденсатора, емкость которого выключена из резонатора.

Учет всех потерь резонатора путем включения для этих целей воздушного конденсатора при условии, что радиоэлемент и конденсатор включаются в резонатор единообразно, обеспечивает повышение точности и расширение диапазона определения добротности радиоэлементов емкостного типа.

Добротность радиоэлемента определяют как отношение резонансной частоты к разности первой и второй ширины полос пропускания резонатора с радиоэлементом и конденсатором соответственно (f> — резонансная частота, 6 < первая ширина полосы пропускания резонатора с радиоэлементом, Qf< — вторая ширинч полосы пропускания резонатора с конденсатором).

На фиг.1 показаны эквивалентные схемы резонатора с радиоэлементом (а)

1 с перестраиваемым воздушным конденсатором (б) и упрощенная с радиоэлементом (в), на фиг.2 — схема устройства для реализации предлагаемого способа.

На фиг.1 приняты обозначения: индуктивность резонатора, rg — co противление потерь резонатора, с, r ескость и сопротивление потерь радиоэлемента емкостного типа, с — емкость перестраиваемого воздушного конденсатора (с> = с) т - суммарное сопротивление потерь резонатора и радиоэлемента.

Добротность контура через эквивалентные параметры контура определяется по формуле где CQ= 2й» f — круговая частота, с — емкость контура, r — - сопротивление потерь контура.

Сопротивление потерь равно

Для схемы сопротивление r (фиг. 1б) равно

r® — — = —,Я ц сопротивление r å (фиг. 1в) равно

Из выражения г 1 r + г сопротивление потерь радиоэлемента равно

r r - r

1 2 (5)

Подставляя в выражение (5) значения (2) — (4), получают

Qoq с Яос q, Юбс Qä

1 1 илн (6) е б, е<

Добротность контура по измеренным значениям резонансной частоты и ширине полосы резонанса равна

7657236 — cnó÷nMò

Мр Ы,— („ iг-, б Е» (8) иди

75 с..:... уг: р.. -1.ых па час- 20 вы. а; у кааксиальнагс резонатора подрезонатора. На которого выключена яз варикапе устанавлига1о реги ае напряжение Е с тач11ика 5 Настоянного тарый годключен к вну ружкаму 2 проводникам т ранее измепомощью ис напряжения, когсеннему 3 и на""eçoíàòoðà. где „ à — ширина голосы пропускания контура.

ПОдставляя (7) в выражение (6), Fo

l (9, Е -!f17fZ 1,ким образом, выражение (9) абосназь-.»=.ет определение добротности ра. с..ра.".":...твс для измерения дабратсодержит варин p 1 ° .г: К. 1.:-.:"; .;:.—.,;"=.: ..:,—: =. TOP C Ц;:::;; f .е.fü/

Г 1С С т -;,;:.,,;, Н;; П D f .;-f e Zf н я . i.: 3 О1i Я та P

-..- -,гга1- » . -»": -, Е -(1,1. C @HO а jl» J:1. l „„.-. » <, «K -, а ад Н»1,;i --.ЛЕК т/ из з; тньм ". 1аса-"ам. Например с

Па»1г:.ЩЬ16 . З1" Е . ЯТЕПЯ ЕМКОСти,- Z1CÒO×ÍZZ

Ка;lO: »O".- .; —. ОГЭ -алсвгжг КИЯ И ВОЛЬТ";етрz. На;.;-:, я1;гп,,:.Ото ргй пОдключен г .;З; Еситг, С ЕМ1 а "=-И -,Давт таКОЕ

П-" таян«-.;Е а i j: Ò1:Oe «аг! Зяжвн-- e, H3ме-,нема:= вальтме-. р и при котором емкость зарикап"-. авиа ранее выбранHci ó зпа-.1ению. Затем исследуемьй ваРИКаи 1 ПОДК1 1.. 1, 1г;.,,f.-ãliOÄÓ КааКСИ альнага резонатора, для этага к торцовой стороне цилиндра 8 подключают анод варикапа 7. цилиндр зместе с вари сапам через отверстие с контактами 9 .". р.ззанатаре 2 вводится до соединения с це..-тральным стержнем 3 резонатора,, при этом варикап аказыьается подключенным K резонатору и сОединенньгм с Обеими обкладками ва"-:,öó»fío.-а конденсатора, емкость

В кааксиальный резонатор 2 через элемент 4 связи подают высокочастотные колебания, изменением частоты которых настраиваются в резонанс с резонатором. Резонанс определяют по индикатору напряжения (не пгказан), падк 1юченному к элементу 5 связи.

В качестве индикатора может быть

i0

1 с lo: ьзаван высокочастотный вольтме,р. Измер11ют резонансную частоту резонатора с варикапом. Изменением частоты колебаний относительна резо.-,акса определяют первую 1ш1р11ну полосы прапускания резонатора с варикаn:..и по рсзанансной кривой на уровне 0,707 ат резонансного напряжения элементе 5 связи. - :1есто измеряемого варикапа 7 к

КЛЮг1аЮт ЕМКОСТЬ ПЕРЕСтРангаЕМОГО

nc;ду111наго конденсатора, для этого ци п111др 8 устанавливают соосно с центральным стержнем 3 резонатора

25 (фиг,7б) при этом цилиндр 7 и часть стержня 3 образуют коаксиальный конденсатар с воздушным зазором, перест 1:! ;.àeû ьй по емкости. Изменял ем-

-:ость ваздушнага конденсатора путем перемещения цилиндра 8 вдаль стержня 3, коаксиальный резонатор настра.1ва.*: †. в резонанс с колебаниями с ра1се у;-.тапавленнай частотой, при этом

"=-:":êocòü воздушного конденсатора равна е:.Насти варикапа. Изменением частоты

«oлеба111гй1 относительно резонанса опредепяют вторую ширину полосы пропусканяя резОнатора с воздушным кснден сатаром па резонансной кривой на уровне 0,707 от резонансного напря40 жени» на элементе 5 связи.

Добротность варикапа Определяют как oò. oøåízfå резонансной частоты к разно:ти первой и второй ширины nalac г.рапускания резонатора с радиоэлеме гтом и конденсатором соответственна. При измерении добротности РЕТ с твердым диэлектриком, например

7»10П-конденсаторов, у которых емкость постоянная и не зависит от напряжения, отпадает необходимость v источнике 6 постоянного напряжения и изоляторе 7. Для измерения добротности

ХОП-конденсатора вначале его подключают к резонатору аналогично варикапу

I и определяют f и ширину полосы проо пускания А Г,, затем к выходу резонатора подключают воздушный конденсатор, изменением его емкости настра1651236 иваются на резонансную частоту Е, измеряют ширину полосы пропускания

ЬК резонатора с воздушным конденсатором и вычисляют добротность РЕТ по результатам измерений.

Таким образом, в предлагаемом способе за счет учета собственных параметров резонатора путем введения в резонатор воздушного конденсатора может быть достигнуто повышение точности и расширение диапазона измерений добротности.

Формула изобретения

Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа, основанньзЪ на том, что измеряют емкость

pàäHoýëåMåHTà при подаче на него пос" тоянного напряжения, подключая радиозлемент к выходу коаксиального резо атора, возбуждают его перестраиваеь;а и по частоте колебаниями, подают на радиоэлемент ранее выбранное напряжение, измеряют резонансную частоту и ширину полосы пропускания с радиоэлементом, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повышения точности и расширения диапазона измере5 ний, вместо радиоэлемента к выходу резонатора подключают перестраиваемый по емкости воздушный конденсатор, изменяют его емкость и настраивают резонатор в резонанс с ранее измерен1О ной частотой, измеряют второе значение ширины полосы пропускания резонатора с конденсатором, причем при измерении первого значения ширины полосы пропускания радиоэлемент подключают к обеим обкладкам конденсатора, емкость которого выключают из резонатора, а при измерении второго значения ширины полосы пропускания емкость конденсатора включают в резонатор, причем она равна емкости радиоэлемента, а добротность радиоэлемента определяют как отношение резонансной частоты к разности первого и второго значений ширины полос пропускания резонатора с радиоэлементом и конденсатором соответственно.

1651236

2

Составитель П.Тарасенко

Редактор A.Êoýîðèý Техред А.Кравчук Корректор Н.РевскаЯ

Заказ 1605 Тираж 422 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб. ° д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа Способ определения добротности радиоэлементов емкостного типа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению параметров комплексных сопротивлений на высоких и сверхвысоких частотах и может быть использовано для измерения комплексных сопротивлений как пассивных, так и активных двухполюсников и многополюсников

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля полупроводниковых и металлических систем и может использоваться для измерения сопротивления RS квадрата поверхности тонких проводящих пленок ня диэлектрических подложках

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано в панорамных измерителях комплексных коэффициентов отражения и передачи (S-параметров) четырехполюсников в диапазоне миллиметровых волн

Изобретение относится к радиоизмерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения и контроля погонного сопротивления проволоки

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического измерения и контроля параметров резистивных датчиков неэлектрических величин, включенных через линию связи

Изобретение относится к системе и процессу для определения композиционного состава многокомпонентных смесей, которые являются либо неподвижными, либо текущими в трубах или трубопроводах, где компоненты имеют различные свойства полного электрического сопротивления и могут, или не могут, присутствовать в различных состояниях

Изобретение относится к электроизмерительной технике, а конкретно к мостовым методам измерения на переменном токе параметров трехэлементных двухполюсников

Изобретение относится к расчету переходных процессов, в сложных электрических цепях с распределенными параметрами

Изобретение относится к способам измерения диэлектрической проницаемости и удельной проводимости жидких дисперсных систем и может быть использовано для контроля и регулирования величин диэлектрической проницаемости и удельной проводимости преимущественно пожаро-взрывоопасных и агрессивных жидких сред в процессе производства в химической и других областях промышленности

Изобретение относится к радиоизмерениям параметров поглощающих диэлектрических материалов на СВЧ, в частности к измерению комплексной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь композиционных материалов типа углепластиков

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к электронной технике

Изобретение относится к измерительной технике - к области измерения и контроля электрофизических свойств жидких технологических сред

Изобретение относится к области радиоизмерений параметров поглощающих диэлектрических материалов на СВЧ, в частности к измерению комплексной относительной диэлектрической проницаемости композиционных материалов типа углепластиков, характеризующихся большими значениями комплексной относительной диэлектрической проницаемости, имеющих шероховатую поверхность

Изобретение относится к области систем обработки информации и может быть использовано при управлении линией электропередачи (ЛЭП), на основе ее Г-образной адаптивной модели, перестраиваемой по текущей информации о параметрах электрического режима ЛЭП
Наверх