Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель - повышение точности контроля за счет исключения погрешностей, повышение быстродействия устройства за счет его новой организации - достигается введением в устройство регистра 15 памяти, решающего блока 16, блока 17 управляемой задержки. Устройство содержит элемент памяти, выполненный на триггере 3, элемент 7 задержки, D-триггеры 4 - 6, аналоговый компаратор 1, выполненный на усилителе 2. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (sr)s G 01 R 3.1/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

IlO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ о

Ф

СР 4

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4286554/21 (22) 20.07.87 (46) 30.08.91. Бюл. В 32 (71) Научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт средств контроля электронной аппаратуры и изделий электронной техники (72) B.В.Данилов, Г.И.Лобаноа и В.С.Пункевич (53) 621.317.799(088.8) (56) Ерлашов В.П., Носачев В.М. Система контроля динамического функционирования больших интегральных схем. — Электронная техника, 1980, сер.8, вып, (83), с,110-114, (рис.2).

Авторское свидетельство СССР

N 1387838, кл. G 01 R 21/28, 1986.

„„5U„„1674017 А1 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И

ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ

ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике. Цель — повышение точности контроля за счет исключения погрешностей, повышение быстродействия устройства за счет его новой организации— достигается введением в устройство регистра 15 памяти, решающего блока 16, блока 17 управляемой задержки, Устройство содержит элемент памяти, выполненный на триггере 3, элемент 7 задержки, 0-триггеры 4-6, аналоговый компаратор 1, выполненный на усилителе 2. 1 ил, 1674017

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в устройствах для функционального контроля больших интегральных схем. 5

Целью изобретения является повышение точности контроля за счет исключения погрешностей, обусловленных неоднородностью каналов устройства-прототипа, повышение быстродействия устройства за 10 счет его новой организации, На чертеже изображена функциональная схема устройства.

Устройство содержит аналоговый ком- 15 паратор 1, выполненный на усилителе 2, элемент памяти, выполненный на триггере

3, D-Tðèããeðû 4 — 6, элемент 7 задержки,,ин. формационный вход 8, первый-третий управляющие входы 9 — 11 устройства, выход 20

12 устройства, источник 13 (U«) опорного напряжения, четвертый управляющий вход

14 устройства, регистр 15 памяти, реша ощий блок 16, блск 11 управляемой задержки, пятый управляющий вход 18, с 25 . соответствующими связями.

Блок 17 управляемой задержки предназначен для задержки тактовых импульсов, синхронизирук>щих сигналы эталонной информации и сигналы разрешения контро- 30 ля.

Тактовые импульсьi поступают через вход 18 устройства на С.-входы 0-триггеров

4,5, через блок 17 управляемой задержки и осуществляют задержку сигналов эталон- 35 ной информации и сигналов разрешения контроля на выходах 0-триггеров 4 и 5 на время, равное задержке блока 17.

Устройство работает следующим образом, 40

На информационный вход 8 устройства поступает выходной сигнал с испытуемой микросхемы с заданной частотой контроля.

Аналоговый компаратор 1 производит сравнение выходных сигналов микросхе- 45 мы с логическим уровнем "0" или "1" в за виси мости от ал гор итма работы устройства. Значение логического уровня задается источником 13 опорного напряжения, На управляющий вход 10 и, следовательно, на 50

0-вход триггера 5 поступает сигнал эталонной информации, на управляющий вход 11 устройства поступает сигнал "Разрешение конт роля".

С приходом строб-импульса на управляющий вход 9 устройства и, следовательно, на второй вход триггера в последний записывается информация, присутствующая в данный момент на выходе усилителя 2. С приходом с пятого управляющего входа 18 устройства задержанного блоком 17 управляемой задержки тактового сигнала на выходе триггера 5 устанавливается эталонная информация, а на выходе триггера 6 сигнал

"Разрешения контроля", С приходом на синхронизирующий вход регистра 15 памяти задержанного элемента

7 задержки строб-импульса информация с входов регистра 15 памяти переписывается на его выходы. Указанная информация поступает на входы решающего блока 16. Если контролируемая информация по своим логическим уровням соответствует заданным значениям "0" или "1", а также соответствует ожидаемому местонахождению, фиксируемому строб-импульсом, то на выходе решающего блока 16, а следовательно, и на выходе 12 устройства сигнал отсутствует.

Это означает, что контролируемая цифровая микросхема функционирует правильно.

В противном случае на выходе 12 устройства формируется сигнал несоответствия выходной информации контролируемой микросхемы заданным требованиям, то есть сигнал "Брак".

Устройство может работать в составе аппаратуры контроля микросхем, имеющих двунаправленные выводы,. В этом случае вход аналогового компаратора 1 обьединяется с выходом входящего в состав указанной аппаратуры канала формирования входных воздействий на контролируемую микросхему. При контроле выходной информации микросхемы выход канала формирования входных воздействий переходит "третье" состояние, характеризующееся высоким выходным импедансом. Работа устройства при этом описана. При работе канала в режиме задания входных воздействий на микросхему устройство контроля динамических параметров и функционирования блокируется подачей на ynr.àâëÿþùèé вход 11 устройства сигнала "Запрет контроля", который через регистр 15 памяти поступает на третий информационный вход решающего блока 16. На выходе 12 устройства при этом присутствует сигнал Тоден" вне зависимости от уровня сигналов на его первом и втором информационных входах.

При контроле динамических параметров значение опорного напряжения аналогового компаратора 1 программируется согласно техническим условиям на микросхему, Функциональный контроль выходных сигналов микросхемы по двум логическим уровням осуществляется поочередно, сначала по уровню "0". а затем по уровню "1 .

1674017

Результаты контроля при этом фиксируются внешними средствами обработки информации — результата контроля, которые и делают заключение о годности микросхемы.

Составитель Е.Строкань

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор М.Демчик

Редактор О.Спесивых

Заказ 2917 Тираж 412 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Формула изобретения

Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем, содержащее элемент памяти, элемент задержки, первый, второй и третий D-триггеры, аналоговый компаратор, вход которого является информационным входом устройства. а выход соединен с первым входом элемента памяти, второй вход которого является первым управляющим входом устройства, элемент задержки, выход которого подключен к С-входу триггера, выход которого является выходом устройства, 0-вход второго D-триггера соединен с вторым управляющим входом устройства, 0-вход третьего 0-триггера соединен с третьим управляющим входом устройства, а С-вход его соединен с

С-входом второго триггера, четвертый управляющий вход устройства, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения

5 точности контроля и быстродействия устройства, в него введены регистр памяти, решающий блок, блок управляемой задержки, выход которого соединен с С-входом третьего триггера, управляющий вход — с

10 четвертым управляющим входом устройства, а вход соединен с пятым управляющим входом устройства, первый второй и третий информационные входы регистра памяти соединены соответственно с выходом эле15 мента памяти, выходами второго и третьего триггеров, а вход синхронизации с выходом элемента задержки, первый, второй и третий информационные входы решающего блока соединены с соответствующими вы20 ходами регистра памяти, выход — c 0-входом первого триггера, вход элемента задержки соединен с первым управляющим входом устройства.

Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проверке логических микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле и поиске неисправностей цифровых устройств

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования логических блоков с установками тестового контроля

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для переключения логических элементов при испытании их работоспособности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при наладке, контроле и диагностике цифровых устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для функционально-динамического контроля цифровых схем, а также для управления любым быстродействующим процессом

Изобретение относится к технике измерения статических параметров интегральных микросхем, в частности к измерению входных пороговых напряжений логических схем

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места потенциально неисправного устройства, входящего в состав цифрового блока

Изобретение относится к контролю качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов (ЛЭ)

Изобретение относится к контролю качества микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов (ЛЭ)

Изобретение относится к электротехнике, в частности к диагностированию устройств релейной защиты и противоаварийного управления в системах электроснабжения (РЗА)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места неисправного элемента в цифровых схемах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при отладке логических блоков, микропроцессорных систем, ЭВМ и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в качестве встроенного устройства для съема информации с цифровых микросхем для контроля и диагностики
Наверх