Устройство для контроля цифровых интегральных схем

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель - повышение достоверности контроля и сокращение аппаратурных затрат - достигается введением в устройство элементов И 17, 18 и триггера 19. Устройство содержит также элемент 2 задержки, приемный регистр 3, логический компаратор 4, триггер 5, амплитудный компаратор 6, амплитудный формирователь 7, шину 8 для подачи тактовых частот, шины 9 и 10 устройства, шины 11 и 12 для подачи стробимпульса и опорного напряжения соответственно, шины 13 и 15 сигналов "Сброс" и брака соответственно, оперативное запоминающее устройство 1. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я) G 01 R 31/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО,ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4389632/21 (22) 05.01.88 (46) 30.08.91. Бюл. М 32 (71) Научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт средств контроля электронной аппаратуры и изделий электронной техники (72) А.Г.3апольский, Г.И.Лобанов и В.С.Пункевич (53) 621.317.799(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

hL 1193608, кл. G 01 R 31/28, 1983.

Техническое описание и инструкция по эксплуатации системы контроля цифровых интегральных схем .автоматизированной

АМЦ 1134. АМЦ 2.746.051 ТО. Приложение 3.

„„5U„„1674019 А1 (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике. Цель — повышение достоверности контроля и сокращение аппаратурных затрат — достигается введением в устройство элементов И 17, 18 и триггера 19. Устройство содержит также элемент 2 задержки, приемный регистр 3, логический компаратор 4, триггер 5, амплитудный компаратор 6, амплитудный формирователь 7, шину 8 для подачи тактовых частот, шины 9 и 10 устройства, шины 11 и

12 для подачи стробимпульса и опорного напряжения соответственно, шины 13 и 15 сигналов "Сброс" и брака соответственно, оперативное запоминающее устройство 1. Я

1 ил.

1674019

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле цифровых интегральных микросхем.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля и сокращение аппаратурных затрат за счет упрощения схемы устройства. (а чертеже приведена функциональная схема предлагаемого устройства, Устройство содержит оперативное запоминающее устройство 1 (ОЗУ), элемент 2 задержки, приемный регистр 3, логический компаратор 4, первый триггер 5 регистрации брака, амплитудный компаратор 6, ам-. плитудный формирователь 7, шину 8 для подачи тактовой частоты, шину 9 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, служащих меткой времени для формирования перехода из "1" в "0" сигнала из ОЗУ, шину 10 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, служащих меткой времени для формирования перехода из "0" в "1", шину 11 для подачи строб-импульсов, шину 12 для подачи спор, . ного напряжения, шину 13 сигнала "Сброс", клемму 14 для подключения контролируемой цифровой интегральной схемы (ЦИС), выходную шину 15 брака, три элемента И

16 — 18, второй триггер 19, с соответствующими связями.

Устройство работает следующим образом.

Оперативное запоминающее устройство 1 в каждом такте формирует четырехразрядное слово, которое по тактовым импульсам переписывается в приемный регистр 3.

Первый выход регистра 3 обеспечивает выдачу ожидаемой реакции ЦИС, второй— разрешение контроля реакции проверяемой ЦИС. третий — разрешение установки амплитудного формирователя s состояние

"0", четвертый — разрешение установки амплитудного формирователя в состояние "1".

"1" на четвертом выходе приемного регистра разрешает прохождение сигнала с входной шины 9 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, служащих меткой времени для формирования перехода из "1" в "0 сигнала из ОЗУ через элемент И 16 на 3-вход триггера 19. Высокий уровень, установившийся при этом на выходе триггера 19, поступает через амплитудный формирователь 7 на клемму 14 для подключения проверяемой ЦИС.

"1" на третьем выходе приемного регистра 3 разрешает прохождение сигнала с входной шины 10 для.подачи задержанных . на заданное время тактовых импульсов, служащих меткой времени для формирования перехода из "0" в "1" сигнала из ОЗУ на вход проверяемой цифровой интегральной схемы через элемент И 18 на R-вход триггера

5 19, в результате чего последний сбрасывается.

Если на третьем и четвертом выходе приемного регистра 3 уровни "1", то на входы триггера 19 поступают импульсы с шин 9

10 и 10 в одном такте, т.е. триггер 19 переключается два раза за такт, что соответствует режиму "Длительность импульса меньше такта". Уровни "0" на третьем и четвертом выходах приемного регистра 3 запрещают

15 прохождение этих импульсов, триггер 19 находится в предыдущем состоянии, а элемент И 17 переводит амплитудный формирователь 7 в третье состояние, характеризующееся высоким импендансом, и

20 клемма 14 может служить выходом контролируемой ЦИС.

Сигнал с выхода ЦИС поступает через клемму 14 на сигнальный вход амплитудного формирователя, на второй вход которо25 го подается опорное напряжение с шины

12. Результат сравнения запоминается на выходе логического компаратора 6 на время, определяемое длительностью строб-импульса. За это время на логиче30 ском компараторе 4 происходит сравнение реакции контролируемой микросхемы, поступающей с компаратора 6, с эталонной информацией, поступающей с приемного регистра 3 (первый выход). Результат срав35 нения с логического компаратора 4 при наличии разрешения сравнения в данном такте контроля, поступающего с приемного регистра 3 (второй выход) по началу строб-импульса. задержанного элементом

40 задержки 2, записывается в первый триггер 5. Величина задержки элемента задержки выбирается такой. чтобы выходной сигнал амплитудного компаратора 6 успел после сравнения с эталонной информа45 цией на логическом компараторе 4 поступить на вход D первого триггера 5, Если к моменту появления строб-импульса реакция контролируемой ЦИС не соответствует ожидаемой, первый триггер 5 устанавлива50 ет шину 15 брака в состояние "1" — признак того, что результат контроля отрицательный. Для установления первого триггера 5 в исходное состояние служит шина 13.

Если вывод контролируемой ЦИС не

55 двунаправленный, можно отключить сигнальный вход амплитудного компаратора 6 от выхода амплитудного формирователя 7.

В этом случае устройство контролирует два вывода ЦИС, ио при этом выход амплитудного формирователя 7 подключается толь1674019 ко на вход ЦИС, а вход амплитудного компаратора 6 только на выход проверяемой

ЦИС.

Формула изобретения

Составитель Е.Строкань

Редактор О.Спесивых Техред М.Моргентал Корректор М.Демчик

Заказ 2917 Тираж 412 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Устройство для контроля цифровых интегральных схем, содержащее элемент задержки, приемный регистр, логический компаратор, первый триггер, амплитудный компаратор, амплитудный формирователь, 10 шину для подачи тактовой частоты, первую и вторую шину устройства, шину для подачи строб-импульса, шину для подачи опорного напряжения, шину сигнала "Сброс", шину брака, клеммы для подключения объекта 15 контроля, оперативное запоминающее устройство, выходы которого соединены со входами приемного регистра, вход синхронизации которого соединен с шиной для подачи тактовой частоты, первый и второй 20 выходы — с первым входом логического компаратора и Е-входом первого триггера соответственно, вход синхронизации последнего через элемент задержки соединен с шиной для подачи строб- импульсов, 25

R-вход — с шиной сигнала "Сброс", 0-входс выходом логического компаратора, а выход — с шиной брака, второй вход логического компаратора соединен с выходом амплитудного компаратора, опорный вход которого соединен с шиной для подачи опорного напряжения, сигнальный вход — с выходом амплитудного формирователя и клеммой для подключения объекта контроля, а стробирующий вход — с входом элемента задержки, первый элемент И, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля и сокращения аппаратурных затрат, в него введены два элемента И, второй три rep, 5-вход которого соединен с выходом второго элемента И, R-вход — с выходом первого элемента И, а выход — с 0-входом амплитудного формирователя, управляющий вход которого соединен с инверсным выходом третьего элемента И, первый вход которого соединен с первым входом третьего элемента И и третьим выходом приемного регистра, второй вход — с первым входом второго элемента И и четвертым выходом приемного регистра, второй вход первого элемента И соединен с первой шиной устройства, второй вход второго элемента И соединен со второй шиной устройства.

Устройство для контроля цифровых интегральных схем Устройство для контроля цифровых интегральных схем Устройство для контроля цифровых интегральных схем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проверке логических микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле и поиске неисправностей цифровых устройств

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования логических блоков с установками тестового контроля

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для переключения логических элементов при испытании их работоспособности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при наладке, контроле и диагностике цифровых устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для функционально-динамического контроля цифровых схем, а также для управления любым быстродействующим процессом

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места потенциально неисправного устройства, входящего в состав цифрового блока

Изобретение относится к контролю качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов (ЛЭ)

Изобретение относится к контролю качества микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов (ЛЭ)

Изобретение относится к электротехнике, в частности к диагностированию устройств релейной защиты и противоаварийного управления в системах электроснабжения (РЗА)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места неисправного элемента в цифровых схемах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при отладке логических блоков, микропроцессорных систем, ЭВМ и т.д

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в качестве встроенного устройства для съема информации с цифровых микросхем для контроля и диагностики

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для автоматизированного контроля цифровых блоков, включающих в себя большие интегральные схемы
Наверх