Устройство для определения направления следов обработки на поверхности деталей

Авторы патента:

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение при автоматизированном анализе положения деталей в пространстве, определении направления и скорости их перемещения, окончания обработки и т. д. Целью изобретения является повышение чувствительности и точности определения направления следов обработки за счет исключения погрешности при определении максимума дифракционной составляющей картины рассеяния отраженного света. Устройство содержит лазер 1 и фотоэлектронный умножитель 3, соосно с которым последовательно установлены диск 4 с выполненными в нем двумя диаметрально противоположными щелями 5 и 6, снабженный приаодом 7 вращения и датчиком 8 угла положения, и экран 9 с прозрачным сектором 10 и отражателем 11, закрепленным на нем по центру с внешней стороны и оптически связанным с лазером 1. 3 ил. У Ё О СО Ю NJ VI

СОЮЗ СО8ЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

1 (5()5 G 01 В 11/30

ГОСУДА Р СТ8 Е ННЫ И КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ евй

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4762566/28 (22) 27.11,89 (46) 07.10,91. Бюл, 1Ф 37 (71) Научно-исследовательский проектновЂ” конструкторский и технологический институт высоковольтного аппаратостроения

Ленинградского производственного объединения "Электроаппарат" (72) С.А. Гатенян и А.Н. Заморянский (53) 531.715.27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 1585672, кл. G01 В 11/30,,07.12.87. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

НАПРАВЛЕНИЯ СЛЕДОВ ОБРАБОТКИ НА

ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение при автоматизированном анализе положения

„, Я „„1682771 А1 деталей в пространстве, определении направления и скорости их перемещения, окончания обработки и т. д. Целью изобретения является повышение чувствительности и точности определения направления следов обработки за счет исключения погрешности при определении максимума дифракционной составляющей картины рассеяния отраженного света. Устройство содержит лазер 1 и фотоэлектронный умножитель 3, соосно с которым последовательно установлены диск 4 с выполненными в нем двумя диаметрально противоположными щелями 5 и 6, снабженный приводом 7 вращения и датчиком 8 угла положения, и экран 9 с прозрачным сектором 10 и отражателем 11, закрепленным на нем по центру с внешней стороны и оптически связанным с лазером 1. 3 ил.

1682771

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение при автоматйзированном анализе положения деталей в пространстве, определении направления и скорости их перемещения, 5 окончания обработки и т. и.

Цель изобретения вЂ” повышение чувствительности и точности определения за счет исключения погрешности при определении максимума дифракционной составляющей 10 картины рассеяния отраженного света.

На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства для определения направления следов обработки на поверхности деталей; на фиг. 2 вЂ” конструкция экрана с 15 прозрачной частью в виде сектора; на фиг.

3 вЂ” схема метода определения направления обработки, а также те параметры, которые характеризуют это направление, Устройство содержит лазер 1, закреп- 20 ленный на корпусе 2, фотоумножитель (ФЭУ) 3, соосно с которым последовательно установлены диски 4 с выполненными в нем двумя диаметрально противоположными щелями 5 и 6, снабженный приводом 7 вра- 25 щения и датчиком 8 угла положения, и экран

9 с прозрачным сектором 10 и отражателем

11, закрепленным на экране 9 по центру с внешней стороны. Отражатель 11 оптически связан через вспомогательнуо призму 12 с 30 лазером 1. ФЭУ 3 установлен в корпусе 2 и электрически соединен с усилителем 13, выход которого, в свою очередь, соединен с входом регистрирующего блока 14. Исследуемая поверхность 15 расположена пер- 35 пендикулярно оси диска 4.

Устройство работает следующим образом.

При работе луч лазера 1 через вспомогательную призму 12 и отражатель 11 попа- 40 дает на исследуемую поверхность 15. При этом на экране 9 возникает след от дифракции пучка на следах от обработки исследуемой поверхности 15. Свет от дифракции представляет собой полосу, симметричную 45 относительно оси вращения диска 4, Дифракционная составляющая картины рассеяния отраженного света попадает сквозь прозрачный сектор 10 экрана 9 на диск 4.

При вращении диска 4 приводом 7 происходит периодическое совпадение (дважды эа один оборот) щели с дифракционной картиной. В этот момент ФЭУ 3 регистрирует максимум излучения и через усилитель

13 выдает сигнал на регистрирующий блок 14, в который одновременно с этим поступает сигнал с датчика 8 угла положения. Датчик 8 преобразует электрический сигнал в угловую величину относительно принятой системы координат. Так, если уугол между плоскостью дифракции А вЂ” А исследуемой поверхности 5 и осью Х, то угол

g = p - 90 будет определять направление обработки (фиг. 3). Для увеличения площади сканирования диаметр фотокатода ФЭУ 3 выбирается равным диаметру диска 4. Выполнение диска 4 с двумя узкими щелями позволяет опрашивать всю прозрачную часть экрана 9 непрерывно, поскольку при работе в автоматическом режиме картина опрашиваемой поверхности на экране 9 все время меняется, Использование ФЭУ 3 в сочетании с диском 4 дает возможность определения следов обработки по отношению к системе координат устройства.

Формула изобретения

Устройство для определения направления следов обработки на поверхности деталей, содержащее лазер и фотоприемник, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения чувствительности и точности определения, оно снабжено последовательно соосно установленными с фотоприемником, диском с двумя диаметрально противоположными щелями и экраном с прозрачным сектором, отражателем, закрепленным на экране по его центру с внешней стороны и оптически связанным с лазером, приводом вращения диска и датчиком угла положения диска, а фотоприемник выполнен в виде фотоэлектронного умножителя.

682771

Составитель А. Лобзова

Редактор B. Данко Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор С. Шевкун

Заказ 3401 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство для определения направления следов обработки на поверхности деталей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к оптическим методам контроля шероховатости поверхности, и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности после металлообработки

Устройство для контроля поверхностных пороков рулонных материалов // 1681243

Изобретение относится к средствам автоматизированного контроля качества рулонных материалов и может быть использовано в текстильной промышленности при производстве тканей и трикотажных полотен

Способ а.м.тонояна трассологической экспертизы следов орудия преступления // 1681167

Изобретение относится к судебной медицине , а именно к криминалистике

Устройство для контроля качества поверхности // 1675669

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля качества поверхностей деталей, например, шероховатости поверхности в машиностроении и приборостроении

Рефлектометр для измерения поляризационных параметров поверхности объекта // 1670394

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения комбинированных поляризационных параметров поверхности жидких объектов

Способ измерения шероховатости металлической поверхности // 1668865

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для обнаружения острых сколов на шероховатых металлических поверхностях

Лазерный интерференционный плоскомер // 1668864

Изобретение относится к средствам измерения отклонения от прямолинейности и плоскости

Способ определения параметров шероховатости зеркальной поверхности // 1666921

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля чистоты обработки высокоотражающих металлических поверхностей изделий, не имеющих регулярной составляющей шероховатости

Способ измерения шероховатости поверхности детали // 1657950

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, в оптических рефлектометрических способах в машиностроении, оптической, электронной и других отраслях промышленности для бесконтактного экспрессного измерения среднеквадратичного отклонения Rq микронеровностей от средней линии профиля

Устройство для контроля параметров шероховатой поверхности // 1652815

Изобретение относится к измери- , тельной технике, я частности к оптическим средствам контроля шероховатой поверхности, и может использоваться для контроля параметров шероховатой поверхности после механообрайотк , i(c ib изобретения - повышение точности и информативности контроля и расшире нк функциональных возможностей за счг;г устранения погрешности от неравномерности чувствительности Изобретение относится к измерительной технике, в частности к оптическим средствам ггнтроля параметров шероховатой поверхности, и может быть использовано для контроля параметров шероховатой поверкног ги после механообработки

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия