Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа

 

Изобретение относится к области исследования вещества при воздействии ионизирующим излучением. Цель изобретения - повышение информативности анализа путем совмещения операций определения концентрации анализируемого элемента и плотности вещества. Градуировочные пробы с различными концентрациями определяемого элемента и плотностями, перекрывающими весь диапазон изменения состава вещества, облучают гамма-излучением источника. Измеряют потоки гамма-квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного на пробе первичного излучения. По результатам измерений строят два семейства градуировочных зависимостей измеренных потоков квантов от плотности вещества при фиксированных значениях концентрации анализируемого элемента. 4 ил. Ё

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

/ (si>s G 01 N 23/22

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

Eiiji (1,;:О

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4715191/25 (22) 07.07.89 (46) 30,12,91. Бюл, ¹ 48 (71) Среднеазиатский научно-исследовательский и проектный институт цветной металлургии (72) Ю.С.Скрипников, Л,С.Пешикова, 0,Ю. Скрипников и В.Х.Те (53) 543.52 (088.8) (56) Гурвич Ю.М. и др. Применение метода множественной регрессии в рентгеноспектральном анализе, — В кн.: Аппаратура и методы рентгеновского анализа, вып.Xll, Л.:

Машиностроение, 1974, с,122-128, Авторское свидетельство СССР

N. 507809, кл. G 01 N 23/223, 1974, (54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ДЛЯ РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА

Изобретения относится к ядерной геофизике, в частности к рентгенорадиометрическим методам анализа веществ сложного химического состава, например различного рода пульп, зольных углей и т.п„состоящих из однокомпонентной мешающей фазы и двухкомпонентной исследуемой фазы, в которой и требуется определить содержание анализируемого элемента.

Известен способ градуировки для рентгеноспектрального анализа, включающий облучение градуировочных проб рентгеновским излучениеМ, измерение потоков квантов характеристического рентгеновского излучения анализируемого элемента и рассеянного излучения и определение уравнений связи. Сущность способа заключается в учете влияния плотности среды по интен„„!Ж„„1702268 А1 (57) Изобретение относится к области исследования вещества при воздействии ионизирующим излучением. Цель изобретения— повышение информативности анализа путем совмещения операций определения концентрации анализируемого элемента и плотности вещества. Градуировочные пробы с различными концентрациями определяемого элемента и плотностями, перекрывающими весь диапазон изменения состава вещества, облучают гамма-излучением источника. Измеряют потоки гамма-квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного на пробе первичного излучения, По результатам измерений строят два семейства градуировочных зависимостей измеренных потоков квантов от плотности вещества при фиксированных значениях концентрации анализируемого элемента. 4 ил, сивности рассеянного излучения с использованием уравнений множественной регрессии.

Недостатком данного способа является ограниченный диапазон измеряемых концентраций анализируемого. элемента, к тому же данный способ предусматривает только учет влияния вариаций содержания твердой фазы, а для непосредственного определения значений плотности среды требуются специальные измерения.

Наиболее близким к предлагаемому является способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа, включающий облучение градуировочных проб гамма-излучением источника, измерение потоков квантов характеристического рентгеновского излучения анализируемого элемента и

1702268

10 рассеянного излучения и построение: радуировочной зависимости отношения интенсивности характеристического излучения к интенсивности рассеянного излучения от концентрации анализируемого элемента.

Недостаток указанного способа заключается в ограниченном диапазоне измеряемых концентраций анализируемого элемента. поэтому он используется, как правило только для научных исследований и практически непригоден для массового экспрессного контроля сред с большими вариациями содержания твердой фазы и концентрации анализируемого элемента, а также требует дополнительных измерений плотности среды.

Цель изобретения — повышение информативности анализа путем совмещения операций определения концентрации анализируемого элемента и плотности вещества, Поставленная цель достигается тем, что в способе градуировки для рентгенорадиометрического анализа, включающем облучение градуировочных проб гамма-излучением источника, измерение потоков квантов характеристического рентгеновского излучения анализируемого элемента и рассеянчого излучения и построение градуировочной зависимости, измеряют потоки квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного на пробе первичного излучения на сериях градуировочных проб с различными концентрациями анализируемого элемента и плотностями, перекрывающими весь диапазон изменения состава вещества, по результатам измерений строят два семейства градуировочных зависимостей потоков квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного на пробе излучения от плотности вещества при фиксированных значениях концентрации анализируемого элемента.

На фиг.1 представлены графики градуировочных зависимостей при анализе пульflbl на вольфрам в выбранных ограниченных диапазонах измереямых параметров; на фиг.2 — схема устройства для реализации предлагаемого способа; на фиг.3 — аппаратурный спектр проб пульпы с различным содержанием анализируемого элемента первого детектора; на фиг.4 — то же, второго детектора.

Сущность способа заключается в одновременном определении двух параметров: плотности веществ- и концентрации анализируемого элемента, Предлагаемый способ не требует специальных измерений плотно20

55 сти, величина ее и влияние вариаций плотности на значение концентрации анализируемого элемента автоматически учитываются градуировочными зависимостями, построенными предварительно по градуировочным пробам, выбираемым таким образом, чтобы охватить весь диапазон возможных изменений плотности среды и концентрации анализируемого элемента, возникающих в ходе непрерывного технологического процесса, Градуировочные зависимости представлены в виде двух семейств аналитических графиков Йх = f)(c, p ) и Np = fz(c. 0 ), где Йх- поток квантов характеристического рентгеновского излучения анализируемого элемента; Ир — поток квантов суммарного прошедшего через пробу и когереитно рассеянного на пробе излучения; р — плотность вещества; с — концентрация анализируемого элемента.

Каждое семейство графиков строится по нескольким сериям градуировочных проб. Отдельные серии отличаются между собой значениями концентрации анализируемого элемента, т.е. каждая кривая в семействе строится по градуировочным пробам с одной и той же концентрацией анализируемого элем; нта и с разными значениями плотности (соотношения исследуемой и мешающей фаз).

Возьмем точку с координатами i. J на графике Nx = 11(с,р ).

Координата i соответствует определенной плотности о ь а координата j — определенной концентрации с1. Участок кривой между точками с координатами i, J и 1+1, J, апроксимируется прямой линией. То же делается для точек!, )+1 и!+1, J+1. Между этими апроксимирующими прямыми строится семейство и прямых с концентрациями, расположенными равномерно между cj и cj+1 с с+ — С интервалом . Это семейство пряи

MbIx апроксимирует зависимость потока квантов характеристического излучения от плотности для концентраций, расположенных в интервале cj и cj+j. Перебирая все i u

j, получаем семейство непрерывных ломаHblx линий, апроксимирующих зависимость 4(р ) во всем диапазоне возможных концентраций. Аналогично поступаем с графиком Np = fz(c,p), Способ осуществляют следующим образом.

У исследуемой пробы измеряют поток квантов йх характеристического излучения анализируемого элемента и поток квантов

Np суммарного прошедшего через пробу и

1702268

55 когерентно рассеянного на пробе гамма-излучения. причем время измерения задают постоянным потоком квантов характеристического излучения реперного элемента. С помощью первого семейства кривых Nx =

f1(c, p) для каждой ломаной линии с определенной концентрацией находят, при какой плотности р1 она принимает измеренное значение N . Аналогично с помощью втоРого семейства Np = 12(с, Р ) no измеРенномУ Np находЯтР2. Таким обРазом, ДлЯ различных концентраций получают наборы р1и р г, определенных по двум семействам градуировочных зависимостей, Из условия минимума значения i p 1 — p 2 !находят искомую концентрацию анализируемого элемента, а плотность вещества будет равна среднему междур1ирг. Путем увеличения количества апроксимирующих ломаных линий можно увеличить точность определения измеряемых параметров.

Второй метод определения параметров с и р из градуировочных зависимостей заключается в решении системы уравнений, апроксимирующих зависимости Nx = 11(с, p) и Np = f2(c, р). По параметру р достаточной является аппроксимация степенным рядом с квадратичным членом по Лрдля каждой концентрации с(. й„(с() = а (с()+ Q1 (c() Лр+ аг (с() Лрг;

Np(ci) = po(с()+ р1 (с() Лр+ pz(с() ЛР2, (1) здесь hp =р — pp, где р, — минимальная плотность. Параметр Лр изменяется в малых пределах (от 0 до 0,5) и это определяет достаточность аппроксимации (1), Для полУЧЕННЫХ ЗаВИСИМОСтЕй ао(C), Q1 (С), аг (С).

Ро (С), j31 (С),, Д (С) ПО ПаРаМЕтРУ С ДОСтатОЧной является аппроксимация степенным рядом четвертой степени по с: ао(С) = аоо+ ао1С + аогС + Qo3С +

2 3 а4с;

4, а1 (с) = а10+ а» с+ а1г с + а1з с + а14 с; г 3 4, аг (с) = аго+ Q21 с+ а22 с + Q23 с + а24 с;.

2 3 4, /3о (С) = pOO+ j301 C + p02 C + f03 C + p04 С;

Р1 (С) = $10+ (о» С + f12 С + $13 С +,614 С;

Рг (С) = $20 + Р21 С + )922 С + f23 С + P24 С . (2)

Определение коэффициентов сЦ и

P(J (30 коэффициентов) производится на

ЭВМ иэ градуировочных зависимостей и заносится в память микроЭВМ вычислительного блока.

Из (1) имеем а1.-4 аг(а,-и„>) "+((((-4 ф(д-И,)) — 0, (3) т.е. уравнение (3) не зависит от параметра

Определение параметра с производится из уравнения (3) с учетом (2) по алгоритму с использованием метода последовательных приближений. В дальнейшем по любой из зависимостей (1) с учетом коэффициентов (2) по найденному значению с определяем параметр р, Потоки гамма-квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного излучения зависят как от состава и плотности вещества, так и от активности источника излучения, С течением времени она падает и в результат измерения концентрации и плотности, определяемый по градуировочным зависимостям, снятым при другой активности ис точника, будет вноситься ошибка. Чтобы устранить влияние активности источника на результаты анализа, время измерения потоков квантов характеристического рентгеновского излучения анализируембго элемента и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного гамма-излучения исследуемой и градуировочных проб задают постоянным потоком квантов характеристического излучения реперного элемента. Величину потока выбирают такой, чтобы обеспечить заданную статистическую погрешность измерения. С течением времени, когда активность источника уменьшается, то же количество квантов характеристического излучения реперного элемента будет

I набираться за большее время и, следовательно, увеличится время измерения в выбранных энергетических диапазонах исследуемой пробы.

Пример . Предлагаемый способ рентгенорадиометрического анализа рассмотрим нэ примере определения вольфрама во флотационной пульпе с содержанием основных элементов 1ИО3 1.5, Мо 0,08, Bi

0,02% и содержанием твердого — 25-50 .

Измерения могут проводиться как непосредственно на пульпопроводе при малых потоках пульпы, так и на отводах от пульпопровода при больших потоках. В пульпопровод или отвод врезается проточная измерительная кювета 1 из материала, слабо поглощающего излучения в области энергий, превышающих К-линию анализируемых элеметов, и слабо подвергающегося износу при прохождении пульпы, например фторопласта.

Измерения проводят с источником Со и двумя сциHòèëëÿöèонными детекторами

NaI(Ti), устанавливаемыми в плоскости, перпендикулярной потоку пульпы, Источник 2 излучения в контейнере коллиматора устанавливают на одной оси с первым тектором 3, регистрирующим суммарное прошедшее через пробу и когерентно рэс1702268

55 сеянное излучение, Второй детектор 4 располагается под углом 0 к источнику излучения близким к 900, точная величина которого определяется экспериментально при настройке прибора, исходя из наилучшего разрешения пиков характеристического излучения анализируемых элементов, особенно в области малых концентраций (порядка долей процента) и малых значений, плотности пульпы, После настройки детек;торы и источник излучения закрепляются жестко и положение их не меняется при градуировке и работе устройства. Между ис, точником излучения и вторым детектором устанавливают реперный элемент 5, напри мер слово.

Из аппаратурных спектров видно, что самый высокоэнергетический пик в спЕктре первого детектора (фиг.3), связанный с фотонами, рассеянными в среде под углом

180о к источнику излуче-

;ния, лежит в диапазоне энергии источника (120 кЭв), второй пик в спектре второго детектора (фиг.4) — это характеристическое излучение Ка — линии вольфрама. Интенсивности обоих пиков зависят как от концентрации вольфрама, так и от плотности пульпы (градуировочные зависимости на фиг,1). Первый пик на фиг.4 — зто характеристическое излучение реперного элемента (слово). Интенсивность этого пика не зависит от состава и плотности исследуемой пульпы и определяется массой реперного элемента и его геометрическим положением.

Третий высокоэнергетический пик де тектора возникает вследствие некогерент, ного рассеивания (М,) и не используется в измерениях. Это связано с возникновением неопределенности в определении параметров с и р при концентрациях вольфрама порядка 2,5% (в этом случае в диапазоне плотностей 1,3-1,6 г/см для третьего пика з - = О). ор

В энергетическом спектре выделяются три энергетических диапазона — суммарное прошедшее через пробу и когерентно рассеянное излучение на 1 датчике, характеристические линии вольфрама и реперного элемента на 2 датчике, соответствующие трем каналам многоканального спектрометра, Области регистрации характеристического рентгеновского и рассеянного излучения соответствуют максимумам их амплитудного распределения в аппаратурных с ектрах, При градуировке прибора берутся гра- дуировочные пробы с различными концент5

50 рациями и различными плотностями. Для каждого образца ведется подсчет количества импульсов в первом и втором выбранных энергетических диапазонах, время измерения задается постоянным потоком квантов характеристического излучения реперного элемента. В результате градуировки получаем наборы данных количества импульсов в

1 и 2 каналах для различных плотностей и концентраций пульпы. Эти наборы в виде двумерных массивов записываются в память блока 6 управления на основе ЭВМ, Измерения на пробах пульпы проводятся подсчетом количества импульсов в 1 и 2 каналах спектрометра до тех пор, пока количество импульсов в 3 канале от реперного элемента не достигнет заданной величины, например 0,75 10 импульсов. Измеренные

6 величины, например N> = 0,89 10 импуль6 сов и йр = 1,675 -10 импульсов вводятся в

ЭВМ, где по о исан ному алгоритму определяется плотность p = 1,3 г/см и концентрация вольфрама С = 1,7%.

Предлагаемый способ позволяет проводить анализ одновременно нескольких элементов, которые имеют хорошо разрешимые в спектрах пики характеристического излучения, наг ример Мо — W, W—

Си идр.

Преимущество предлагаемого способа по сравнению с прототипом заключается в обеспечении возможности определять как концентрацию полезного компонента непосредственно по взвешенной твердой фракции среды при произвольных.колебаниях ее относительного весового содержания, так и плотность среды без дополнительной аппаратуры в той же кювете, что приводит к повышению эффективности управления непрерывным технологическим процессом, например флотации минералов.

Формула изобретения

Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа, включающий облучение градуировочных проб гамма-излучением источника, регистрацию потоков квантов характеристического излучения анализируемого элемента и рассеянного излучения и построение градуировочной зависимости, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения информативности анализа путем совмещения операций определения концентрации анализируемого элемента и плотности вещества, измеряют потоки квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного на пробе первичного излучения на сериях градуировочных проб с различными концентрациями

1702268

3,0%

Ф У фР анализируемого элемента и плотностями, перекрывающими весь диапазон изменения состава вещества, по результатам измерений строят два семейства градуировочных зависимостей потоков

0, !

PE оаЯ квантов характеристического и суммарного прошедшего через пробу и когерентно рассеянного на пробе излучения от плотности вещества при фиксированных значениях

5 концентрации анализируемого элемента.

1702268

Э о 7

f00

Фи8. 7

ЯО

Составитель M. Корчминская

Редактор Ю.Середа Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор С.Шевкун

Заказ 4538, Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент". г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к рентгенотехнике , в частности к способам изготовления кристаллов-анализаторов и кристалл ов-монохроматоров, используемых в рентгеноспектральном и рентгеноструктурном анализах

Изобретение относится к области физического анализа веществ, в частности к рентгенофлуоресцентному анализу минерального сырья и продуктов его переработки

Изобретение относится к области ретгенофлуоресцентного анализа (РФА) образцов минимальной массы и преимущественно может быть использовано для определения концентрации твердых частиц в аэрозолях, например при диагностировании проточной части газотурбинных двигателей по содержанию микрочастиц продуктов износа деталей впотоке выходящих газов

Изобретение относится к области ядерно-геофизического опробования руд и может быть использовано в геологии и горнодобывающей промышленности

Изобретение относится к способам получения объектов для электронной микроскопии , в частности для изучения топографии поверхности разрушения

Изобретение относится к ренггенофлуоресцентному анализу растворов

Изобретение относится к рентгеноспектральным методам анализа состава вещества

Изобретение относится к ядернофизическим методам анализа

Изобретение относится к технологии приготовления тест-объектов (ТО) для электронной микроскопии
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх