Способ изготовления полупроводниковых приборов

 

Способ изготовления полупроводниковых приборов, включающий формирование на планарной стороне кремниевой пластины слоя окисла, создание диффузионных областей, металлизации и контактных площадок активного элемента прибора, нанесение двухслойного металлического покрытия на поверхность пластины, формирование фоторезистивной маски с окнами, соответствующими выводам прибора от контактных площадок, гальваническое наращивание металла в окнах фоторезистивной маски, удаление фоторезистивной маски и двухслойного металлического покрытия вне областей выводов, нанесение защитного покрытия на планарную сторону пластины, травление пластины с непланарной стороны до требуемой толщины активного элемента, нанесение локальных участков защитной пленки с непланарной стороны в областях, соответствующих активным элементам, травление пластины с непланарной стороны до ее разделения на отдельных участках, удаление окисла с непланарной стороны в области выводов прибора, отличающийся тем, что, с целью повышения процента выхода годных, после формирования металлизации и контактных площадок дополнительно на обе стороны пластины наносят низкотемпературную пленку двуокиси кремния, формируют в ней окна к контактным площадкам на планарной стороне, островки из пленки на отдельных участках на непланарной стороне в областях, соответствующих активным элементам, двухслойное металлическое покрытие методами напыления и гальванического наращивания и фоторезистивную маску наносят на обе стороны пластины после формирования окон и островков в пленке низкотемпературной двуокиси кремния, дополнительно в фоторезистивной маске на непланарной стороне формируют окна вне областей активных элементов на участках, не требующих травления кремния, гальваническое наращивание металла в окнах фоторезистивной маски проводят с двух сторон пластины, после удаления фоторезистивных масок дополнительно наносят слой химически стойкого лака на планарную сторону, травят двухслойное металлическое покрытие на непланарной стороне на глубину, равную толщине двухслойного металлического покрытия на участках, требующих травления кремния, удаляют слой химически стойкого лака, травят кремний на отдельных участках с непланарной стороны на глубину, соответствующую требуемой толщине активного элемента прибора, удаляют островки пленки двуокиси кремния на непланарной стороне, травление пластины с непланарной стороны до требуемой толщины активного элемента проводят после удаления островков пленки двуокиси кремния одновременно с травлением кремния на отдельных участках до разделения пластины, удаление двухслойного металлического покрытия вне областей выводов на планарной стороне проводят травлением всего металлического покрытия на толщину нанесенных слоев с одновременным удалением металлического покрытия на непланарной стороне, причем в качестве металлов при нанесении двухслойного металлического покрытия и гальваническом наращивании используют ванадий и медь соответственно, в качестве защитной пленки для травления кремния на отдельных участках с непланарной стороны используют островки пленки низкотемпературной двуокиси кремния, в качестве защитного покрытия с планарной стороны травлении кремниевой пластины до требуемой толщины активного элемента и отдельных участков до разделения пластины с непланарной стороны используют напыленные слои ванадия и меди и меди, наращиваемой гальванически.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой микроэлектроники, предназначено для изготовления полупроводниковых приборов, в частности интегральных микросхем, и касается плазмохимической обработки структур с нанесенными на них пленками алюминия

Изобретение относится к полупроводниковой технологии н может быть использовано при необходимости прецизионной обработки жидкостными травителями структур антнмоннда индия для оптоэлектронных приборов

Изобретение относится к технологии очистки полупроводниковых структур от загрязнений ионами реагентов при их обработке Устройство может быть использовано в электронной промышленности при пленарной технологии изготовления полупро оодниковых приборов Целью изобретения является экономия воды и электроэнергии при одновременном повышении качества очистки Цель изобретения достигается тем, что устройство содержит камеру с деионизованной водой, одна из стенок которой выполнена в виде ионоселективной мембраны с внешней стороны которой вплотную к ней размерен перфорированный электрод, при этом вторым электродом является очищаемая структура размещенная в камере

Изобретение относится к полупроводниковому производству и может быть использовано в технологии изготовления БИС и СБИС с двумя и более уровнями межсоединений, увеличенной плотностью упаковки и малым шагом межсоединений
Изобретение относится к полупроводниковой технологии

Изобретение относится к полупроводниковой технологии и может быть использовано в процессах молекулярно-лучевой эпитаксии

Изобретение относится к метрологии и может быть использовано при измерении влажности в диапазоне 20-100%

Изобретение относится к полупроводниковому газовому анализу и может быть использовано для определения газовой примеси в атмосфере неизмеряемого газового компонента

Изобретение относится к области технической физики и может быть использовано при исследовании двухфазных потоков, в частности для измерения концентрации фаз двухфазных потоков в статических и динамических условиях, при течении двухфазного потока в парогенерирующих каналах, каналах ядерных энергических установок

Изобретение относится к электроизмерительной технике, в частности к датчикам контроля параметров окружающей среды, и может быть использовано при измерении относительной влажности газовых срел повышает бмгшг у-иг

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при создании приборов газового анализа, в частности полупроводниковых датчиков для определения концентрации паров бензина

Изобретение относится к полупроводниковому газовому анализу и может быть использовано для качественного определения газовой компоненты

Изобретение относится к гидрофизическому анализу и предназначено для измерения концентрации и плотности растворов электролитов косвенным методом

Изобретение относится к аналитическому приспособлению, в частности к монтажным конструкциям датчика состава газа, и может найти применение в области анализа газовой среды
Наверх