Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков


G01R31/318 - Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H 71/04,H01H 73/12, H02B 11/10,H02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L 21/66; испытание линий передачи энергии H04B 3/46)

 

Сущность изобретения: узел содержит восемнадцать входных шин (1-18), восемь ключей (19-26), три резистора (27-29), элемент 2И-ИЛИ 30, два преобразователя 31. 32, два элемента сравнения 33, 34, три элемента И 35-37. элемент И-НЕ 38. триггер 39, щуп 40, выходные шины результата 41 и перегрузки 42 с соответствующими связями 1 ил

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 К 31/28, 31/:3 t8

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4810648/21 (22) 04.04.90 (46) 23.07.92, Бюл. М 27 (71) Производственное объединение "Ижевский мотозавод" (72) В.6.Маслов, А.И.Кибзун и Б.В.Дерейдяев

-(56) Авторское свидетельство СССР . hh 940090, кл. G 01 R 31/28, 31/318, .1 980, Авторское свидетельство СССР

М 1180818, кл. G 01 R 31/318, 31/28, 1985.

„„50 ÄÄ 1749857 А1 (54) ВЫХОДНОЙ УЗЕЛ ТЕСТЕ РА ДЛЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ БЛОКОВ (57) Сущность изобретения: узел содержит восемнадцать входных шин (1-18). восемь ключей (19-26), три резистора (27-29), элемент 2И-ИЛИ 30, два преобразователя 31.

32. два элемента. сравнения 33, 34, три элемента И 35-37, элемент И-НЕ 38, триггер 39, щуп 40, выходные шины результата 41 и перегрузки 42 с соответствующими связями,1ил.

1749857

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля и испытания цифровых узлов и блоков.

Целью изобретения является расширение области применения за счет обеспечения контроля третьего состояйия вывода объекта контроля (О К), контроля выхода О К типа открытый эмиттер и повышения достоверности за счет обеспечения динамически изменяемой нагрузки.

Указанная цель достигается тем, что в выходной узел тестера, содержащий первый элемент И, один вход которого соединен с первой входной шиной, второй — с девятой входной шиной и вторым входом элемента И-НЕ, а выход подключен к перво му входу первого элемейта сравнения, второй вход которого соединен с выходом . преобразователя, а выход подключен к первому входу второго элемента И, второй вход которого связан с десятой входной шиной, а выход — с 0-входом триггера, третий элемент И, первый вход которого связан со второй входной шиной и третьим входом элемента И-Н Е, третий вход " с выходом элемента И-НЕ и выходной шиной перегруз.ки, а выход подключен к входу управления первого ключа, С-и R-входы триггера соединены соответственно с третьей и четвертой входными шинами, выход соединен с первым входом элемента И-НЕ и выходной шиной результата, коммутатор, первый вход которого через первый резистор соединен с седьмой входной шийой, а выход "co щуrloi4, пятую, шестую и восьмую входную шину, а отличие от прототипа содержит восемь входных шин, четыре ключа, элемент 2И2ЙЛИ, резистор и второй элемент сравнения, причем восьмая входная шина соединена с входами уйравления второго, третьего, четвертого и пятого ключей, пятая и четырнадцатая входйые шины через второй и третий ключи, а шестая и семнадцатая через чет вертый и пятый ключи соединены соответственно с первыми и третьими входами первого и второго преобразователей, пятнадцатая и шестнадцатая входные шины соединены через элемент 2И-2ИЛИ со вторым

-инверсным входом первого преобразователя, выход которого через второй и третий резисторы соединен с вторым и третьим входом коммутатора, а через первый ключ со вторым входом второго преобразователя и выходом коммутатора, первый, второй и третий входы управления которого сбединены с одиннадцатой, двенадцатой и тринадцатой.входными шинами, первый и второй вход второго элемента сравнения соединен

30 но, "1" и "0" первой пары уровней, а шины

14. 1? соответственно "1" и "0" второй пары о уровней, которые определяются типом ОК..

На шину 7 подается питание — для нагрузки

27. На шине 8 устанавливается уровень ло!

В II

35 гическои 1 при контроле выводов ОК с первой парой. уровней и "0" при койтроле выводов ОК со второй парой уровней, Уровень логического "0" на шине 9 блокирует работу элемента И-НЕ 38, выдающего сиг40 нал перегрузки на шину 42, а также элементы И 35, через который на вход элемента 34 сравнения поступает эталонная тестовая информация с шины "1", выходной узел тестера в этом случае работает в режиме за45 писи логических состоянйй контролйруемого вывода ОК. Уровень логической "1" на шине 10 блокирует запись результата сравнения в триггер 39.

Для подключения нагрузочных резисто50 ров 27-29 к выводу ОК, соединенному со щупом 40, необходимо подать уровень логической "1" на соответствующие шины 11, 12 или 13. При йаличии логической "1" на шине

16 на выход ОК через заранее выбранный

55 резистор 28 или 29 подается опорный уровень "1" одной из пар логических уровней, если на шине:15 установлен логический "0" и опорный уровень "0", если на шине 15 установлен уровень логической "1" (статическая нагрузка). При наличии логического "0"

25 с первой и второй входными шинами, а выход соединен с четвертым входом элемента

2И-2ИЛИ, а восемнадцатая входная шина ! подключена ко второму входу третьего элемента И.

На чертеже представлена блок-схема выходного узла тестера для функционального контроля логических узлов и блоков.

Выходной узел тестера содержит с первой по восемнадцатуа входные шины 1-18, ключи 19, 20, 21, 22, 26, коммутатор на ключах 23-25, первый 27, второй 28, третий 29 резисторы, элемент 2И-ИЛИ 30, первый 31. и второй 32 преобразователи, первый 33 и второй 34 элементы сравнения, первый 35, второй 36, третий 37 элементы И, элемент

И-НЕ 38, триггер 39, щуп 40, выходные шины результата 41 и перегрузки 42 с соответствующими связями.

Шина 1 является информационной шйной, по которой поступает эталонная тестовая информация в аиде последовательности логических "0" и "1". На шине 2 должна быть установлена логическая "1" при контроле входа и "0" при койтроле выхода ОК. По шине 3 поступает сигнал синхронизации; а по шине 4 — сигнал установки в "0" на соответствующий вход триггера 39, На шины 5 и

6 подаются опорные упоры; соответстаен174!!357 щуп 40 через открытый ключ 26 поступает эталонная тестовая информация с шины 1, 10

25

35

5.0 на шине 16 на выход ОК через заранее выбранный резистор 28 или 29 подаются опорные уровни одной из пар уровней в противофазе эталонной тестовой информации, поступающей на шину 1, (динамическая нагрузка), если вывод ОК является выходом, Если выход ОК является входом, то на одной из пар опорных уровней.

При наличии уровня логического "0" на шине 18 осуществляется контроль третьего состояния вывода ОК, в остальных случаях на ней устанавливается уровень логической

"1", Щуп 40 осуществляет связь выводов ОК с выходным узлом тестера, По шинам результата 41 и перегрузки

42 во внешние устройства считываются результат контроля и наличие перегрузки

Устройство работает следующим образом.

При включении питания триггер 39 уС танавливается в нулевое состояние. сигналом "Уст. 0" по шине 4, Работа выходного узла тестера определяется тестовой информацией (тестом) поступающей по входным шинам (1-3, 8 — 13, 15, 16, 18). Тест состоит из постоянной и переменной частей, B noстоянную часть теста входит информация, поступающая по: шине 8 (выбор первой и второй пары уровней); шине 9 (считывание со. щупа 40 логических состояний ОК); шине

11 (подключенме к щупу 40 резистора 27); шине 12 (подключение к щупу 40 резистора

28); шине 13 (подключение к щупу 40 резистора 29); шине 15 (подключение нагрузочного резистора к лог. "1" или лог, "0"; шине

16 (подключение к щупу 40 статической-или динамической нагрузки).

В переменную часть теста входит информация, поступающая по шине 1(эталонные воздействия íà OK и реакция с ОК); шине 2 (призйаки вход-выход ОК): шине 10 (признак маскйрования вывода ОК); шине

18 (признак третьего состояния вывода ОК) Кроме того, переменная часть теста сопровождается сигналом синхронизации, поступающи м по шине 3.

Все перечисленные шины подключены к программно-управляемому блоку.

Выходной узел тестера работает в одном из трех режимов: контроль входа ОК; контроль выхода ОК; контроль третьего состояния выхода ОК, Режим-контроль входа ОК задается уровнем лог. "1" на шинах 2, 18 и уровнем лог. "0" на шине 16. При этом,; что триггер 39 находится в нулевом состоянии, через элемент И-НЕ 38 подготовлен элемент И 37, уровень лог. 1 с когорпггз иере водит ключ 26 в проводящее состояние. В данном режиме по шине 1 поступают воздействия, которые инвертируются на элементе 33 сравнения, так как на шине 2 присутствует лог, "1", и поступают на вход элементы 2И-2ИЛИ 30, который подготовлен лог, "0" по шине 16, Воздействия с выхода элемента 2И-2ИЛИ 30 поступают на инверсный вход преобразователя 31. Преобразователь 31 преобразовывает уровни напряжений ТТЛ-логики в произвольные уровни напряжения, определяемые ключами 19-22 и опорными напряжениями на ши5 нах 5, 6, 14 и 17. Причем первая пара уровней задается на шинах 5, 6, (шина 5— опорный уровень лог. "1", шина 6 — опорный уровень лог, "0"). Вторая пара уровней задается на шинах 14, 17 (шина 14 — опорный уровейь лог. "1"; шина 17- опорный уровень лог, "0"). Выход первой или второй пары . уровней осуществляется по шине 8. Так. нап ример, если первая пара уровней соответствует ТТЛ-логике, а вторая КМОП-логике, и вход ОК, подключенный к щупу 40 является входом КМОП-логики, то на шину 8 необходимо подать уровень лог. "0". при этом, сработают ключи 20, 21 и опорные уровни

КМОП-логики: поступают на преобразователь 31. Если же вход ОК является входом

ТТЛ-логики, то на шину 8 подается уровень лог, "1", и через клЮчи 19, 22 на преобразователь 31 поступают опорные уровни ТТЛлогики. Проинвертированные второй раэ воздействия с выхода преобразователя 31 через замкнутый ключ 26 и щуп 40 поступа ют на вход ОК. Кроме того, воздействия поступают на вход преобразователя 32, который преобразовывает уровни напряжений произвольной логики в уровни

ТТЛ-логики..К преобразователю 32 через ключи 20 — 22 подключены те же самые опорные уровни, что и к преобразователю 31 (шины 14, 17). С выхода преобразователя 32

5 воздействия поступают на вход элемента 34 сравнения. Далее работа будет зависеть от информации на шинах 9 и 10. При необходимости сравнения вбздействий на входе

ОК с воздействиями, поступающими по шине 1, на шины 9, 10 подаются уровни лог. "1", при этом воздействия с шины 1 через подготовленный элемент И 35 поступают на второй вход элемента 34 сравнения. При отсутствии неисправности на входе ОК на

5 выходе элемента 34 сравнения будет присутствовать уровень лог,."0". Сопровождающий каждое воздействие сигнал .синхронизации по шине 3 запишет в триггер

39 лог. "0", в результате чего на шине 41 будет присутствовать уровень лог. "0", а на

1749857 шине 42 — уровень лог. "1", что свидетельствует об исправном входе ОК. При наличии неисправности на входе ОК (замыкание на шины питания или соседние выводы, неверно установленные микросхемы или элементы) на выходе элемента сравнения 34 будет присутствовать лог. "0", которая по сигналу синхронизации нэ шине 3 запишется в триггер 39, в результате чего на шине 41 сформируется лог, "1", а на шине 42 — лог, "0", что будет соответствовать неисправному состоянию входа ОК, Уровень лог. "0" с выхода элемента И 38 заблокирует элемент И 37, в результате чего разомкнется ключ 26 и преобразователь 31 отключится от неисправного входа ОК.

Если по какой-то причине контроль входа ОК не нужен, то в этом случае по шине 10 подается уровень лог, "Г, тем самым блокируется элемент И 36 и запись результата сравнения с элемента 34 в триггер 39 не происходит., Если необходимо с шины 41 снять диаграмму состояний входа ОК, то в этом случае на шину 9 подается уровень лог.

"0", а на шину10-уровень лог. "1". При этом на элемент 34 сравнения с выхода элемента

И 35 поступает уровень лог. "0", и подаваемые воздействия со входа ОК через преобразователь 32, элемент 34 сравнения, через элемент И 36 запишутся в триггер 39 и поступят с него на шину 41. В этом случае. элемент И 38 заблокирован нулевым сигналом с шины 9 и признак перегрузки йа шине

42 не формируется, Режим контроля-выхода ОК задается уровнем лог, "0" на шине 2 и уровнем лог.

"1" на шине 18, В этом случае элемент И 37 будет заблокирован, в результате чего уровнем лог. "0" ключ 26 разомкнут. Работа выходного узла тестера в этом режиме зависит от типа выхода ОК, подключаемого к щупу

40. К щупу 40 ОК могут подключаться следующие типы выходов ОК: двутактный стандартный выход; открытый коллектор (сток); открытый эмиттер (исток); выход ЭСЛ структуры.

При подключении к щупу40двутактного выхода ОК контр6ль реакций ведется с подключением нагрузочного резистора 28 или 29, для чего на шины соответственно 12 или

13 подается уровень логической "1". Величина резисторов 28, 29 выбрана из условия обеспечения максимальной нагрузки самого маломощного выходного каскада соответственно ТТЛ, КМОП-схем, проверяемых на тесте, т.е. при проверке ТТЛ-схем подключается резистор 28, а при проверке

КМОП-схем — резистор 29. При подключении к щупу 40 двутактного выхода ОК нэ шину 16 подается уровень логического "0", поэтому логический уровень шины 1 через элемент сравнения 33 и подготовленный элемент 2И-2ИЛИ 30 поступает на преобразователь 31, где инвертируется. Выход ОК

5 через щуп 40 через ключ 24 и резистор 28 или ключ 25 и резистор 29 подключится на выходной логический уровень преобразователя 31 в противофазе логическим уровням на шине 1 (эталонная информация), т.е, тем

10 самым единичный выход ОК нагружается на ,лог, "0", а нулевой выход ОК нагружается на лог, "1". Сравнение реакций на выходе ОК с эталонными реакциями, поступающими по шине 1 производится аналогично сравне15 нию воздействий на входах ОК, рассмотрен ному выше, с той лишь разницей, что элемент И,38 в этом случае заблокирован уровнем лог. "0" на шине 2, и контроль пе-. регрузки по шине 42 не ведется, так как любая

20 неисправность в этом режиме не может при- вести к перегрузке выходного узла тестера, При подключении к щупу 40 выхода с открытым коллектором (стоком) контроль реакций с выхода ОК ведется также с под25 ключением нагрузочных резисторов 28 или

29, но в этом случае по шине 16 подается уровень лог, "1", в результате чего эталонные реакции с шины 1 и элемента сравнения

33 не проходят через элемент 2И-2ИЛИ 30

30 на управление преобразователем 31, Управление. преобразователем 31, а следовательно и выбор уровня, к которому. подключается резистор 28 и 29, осуществляется в этом случае по шине 15, Поскольку

55 открытый коллектор (сток), как правило, подсоединяется к уровню лог. "1". то на шину 15 необходимо задать уровень лог. "1".

Данная нагрузка будет подключена к уровню лог. "1" на всем протяжении теста. Сравнение реакций на выходе ОК с эталонными реакциями, поступающими по шине 1 производится аналогично . сравнению воздействия на входах ОК, рассмотренйое выше.

При подключении к щупу 40 выхода с открытым эмиттером (истоком) выходкой узел работает аналогично подключению открытого коллектора (стока) с той лишь разницей, что по шине 15 в этом случае подается уровень лог. "0" и нагрузочные резисторы 28 или 29 подключаютсячерез преобразовэтель 31 к уровню лог, "0", При подключении.к щупу 40 яыхода

ЭСЛ-структуры вместо резисторов 28 и 29 подключается резистор 27 по шине 11, Другой конец резистора 27 соединен с источником минус 2В, В этом случае информация на шинах 15, 16 безразлична, т.к. преобрэзователь 31 отключен от щупа 40 посредством ключей 24 — 26, Сравнение реакций на выходе ОК с эталонными реакциями, поступаю1749857 щими по шине 1, производится аналогично сравнению воздействий на входах ОК.

Режим контроля третьего состояния выхода ОК задается уровнем лог. "1" на шине

2 и уровнем лог. "0" на шинах 16, 18. Уровень,5 лог. "0" на шине 18 блокирует элемент И 37, в результате. чего ключ 26 разомкнут. В предлагаемом устройстве метод контроля выхода ОК, находящегося в третьем состоянии, основан на поочередной подаче воз- 10 действий на данный выход ОК уровней лог.

"1" и "0" через нагрузочные резисторы. Так, если выход ОК, подключенный к щупу 40, находится в третьем состоянии, то для его контроля по шине 1 подается сначала уро- 15 вень лог. "1", Этот уровень проинвертируется на элементе сравнения 33, пройдет элемент 2И-2ИЛИ 30 и второй раз проин- . вертируется на преобразователе 31, в результате на выходе преобразователя 31 20 будет присутствовать, также уровень лог, "1". В зависимости от того, выход какой структуры (ТТЛ или КМОП) подключен к щупу 40, по шинам 12 или 13 подаются разрешающие уровни, в результате чего 25 замыкается ключ 24 или 25, т,е. уровень лог.

"1" с выхода преобразователя 31 подается на выход ОК, находящийся в третьем состо- янии, или через резистор 28 или через резистор 29. Если выход OK действительно 30 находится в третьем состоянии (исправное состояние выхода ОК), то на щупе 40 будет присутствовать уровень лог, "1", который преобразуется на преобразователе 32 в уро вень лог, "1" ТТЛ-логики и поступит на эле- 35 мент сравнения 34. На другой вход элемента сравнения 34 также поступит уровень лог, "1" с шины 1 через элемент И 35, В результате этого на выходе элемента сравнения 34 формируется уровень лог. "0", 40 который по сигналу синхронизации с шины

3 запишется в триггер 39. На шинах 41, 42 в этом случае сформируются соответственно уровни лог. "0" и лог, "1", что соответствует исправному состоянию. Затем по шине 1 45 подается уровень лог, "0", который через элемент сравнения 33, элемент 2И-2ИЛИ

30, преобразователь 31 и резисторы 28 или

29 подается на выход ОК. Если выход ОК в этом случае исправен, то на выходе элемен- 50 та сравнения 34 также будем иметь уровень лог, "0", который запишется в триггер 39, и на шинах 41, 42 также будем иметь соответственно уровни лог. "0" и лог. "1". При неисправном состоянии выхода ОК, если íà его 55 выходе присутствует активный уровень лог, "1" или лог. "0", соответственно на втором шаге(подача уровня лог. "0" по шине 1) или на первом шаге (подача уровня rtor. "1" по шине 1) на выходе элемента 34 сравнения сформируется уровень лог. "1", который по сигналу синхронизации на шине 3 запише ся в триггер 39 и на шинах 41, 42 сформируются соответственно уровни лог. "1" и r;:oã, "0", что соответствует неисправности, Сигнал перегрузки на шине 42 в этом случае не используется, так как ключ 26 разомкну и перегрузки выходного узла тестера не происходит.

Формула изобретения

Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков, со держащий первый и второй элементы И, элемент И-НЕ, первый и второй преобразователи уровня, первый — четвертый ключи, О-триггер, первую — десятую входные шины, щуп, выходную шину перегрузки и выходную шину результата, первый и второй резисторы, элемент сравнения," первый вход первого элемента И соединен с первой входной шиной, второй вход — с девятой входной шиной и первым входом элемента

И-НЕ, а выход подключен к первому входу первого элемента сравненйя, второй вход которого соединен с выходом первого преобразователя, а выход подключен к первому входу второго элемента И, второй вход которого соединен с десятой входной шиной, а выход — c D-входом триггера, первый вход третьего элемента И соединен с второй входной шиной и вторым входом элемента

И-НЕ, второй вход — с выходом элемента

И-НЕ и выходной шиной перегрузки, а выход четвертого элемента И подключен к входу управления ключа, С- и R-входы

D-триггера соединены соответственно с третьей и четвертой входными шинами, выход — с третьим входом элемента И-НЕ и выходной шиной результата, первый вход второго ключа через первый резистор соединен с седьмой шиной, а выход — с щупом, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения:за счет обеспечения возмбжности контроля и микросхем с двунаправленными выводами и повышения достоверности контроля за счет подключения к обьекту контроля динамически изменяемой нагрузки, в него введены одиннадцатая .— восемнадцатая входные шинь1, элемент 2И-ИЛЙ, второй элемент сравнения,и третий резистор, пятый — восьмой ключи, входы управления которых соединены с восьмой входной шиной, пятая и четырнадцатая входные шины через пятый и шестой ключи соединены соответственно с первыми входами первого и второго преобразователей, шестая и семнадцатая входные шины через седьмой и восьмой ключи соединены соответственно с вторыми входами первого и второго преобразователей, 1749857

Составитель В.Маслов

Техред М.Моргентал

Редактор О.Головач

Корректор H.Ðåâñêàÿ

Заказ 2595 Тираж . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКН СССР . 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент" ° г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 пятнадцатая и шестнадцатая входные шины соедйнены через элемент 2И-ИЛИ с третьим входом второго преобразователя, выход которого через второй и третий резисторы соединен с входами третьего и четвертого ключей и через второй вход первого ключа с третьим входом второго преобразователя и выходами второго, третьего и четвертого ключей, входы управления которых соединены соответственно с одиннадцатой, двенадцатой и тринадцатой входными шинами, первый и второй вход второго элемента

5 сравнения соединен с первой и второй входными шинами, а выход — c четвертым входом элемента 2И-ИЛИ, восемнадцатая входная шина подключена к третьему входу третьего элемента И.

Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков Выходной узел тестера для функционального контроля логических блоков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано на электрических станциях

Изобретение относится к области диагностирования пусковых систем,

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для определения.степени износа изоляции токопровода, находящегося в масляной среде

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам контроля цепи, и может быть использованов контрольно-стендовой аппаратуре и пультах прозвонки, Цель изобретения - повышение безопасности и достоверности контроля

Изобретение относится к электроизмерительной технике и позволит расширить область применения устройства и повысить достоверность проверки электрических схем

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля геометрических и электрофизических параметров слоистонеоднородных материалов, в частности толщин и удельных сопротивлений эпитаксиальных полупроводниковых структур

Изобретение относится к области информационно-измерительной техники и может быть использовано для контроля и диагностирования электронных объектов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для контроля логических элементов

Изобретение относится к производству радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля печатных плат, например толстопленочных микросборок

Изобретение относится к измерительной и вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля параметров с использованием ЭВМ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для автоматизированной проверки параметров усилителей низкой частоты , в частности коэффициентов нелинейных искажений, как в процессе производства этих усилителей, так и при входном контроле

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники
Наверх