Способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы

 

Сущность изобретения: диафрагмируют осветитель до величины d S где S - минимальный линейный размер ожидаемого дефекта , после чего фокусируют оптическую систему зрительной трубы на точечный источник света и совмещают его изображение с центром поля зрения зрительной трубы, затем производят расфокусировку зрительной трубы относительно точечного источника света до получения максимального масштаба изображения дефекта и анализируют видимую картину при перемещении точечного источника в плоскости, перпендикулярной оптической оси зрительной трубы. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (и>з G 01 N 21/88

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4863226/25 (22) 30.08.90 (46) 23.10,92. Бюл, М 39 (71) Московский научно-исследовательский институт туберкулеза (72) А.Н. Черний (53} 535;24 (56) Авторское свидетельство СССР

bh 496076, кл, б 01 N 21/45, 1964.

Мальцев M.Ä., Каракулина Г,А. Прикладная оптика и опти .еские измерения.—

M,: Машиностроение, 1968, с.452-454. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ

ЗРИТЕЛЬНОЙ ТРУБЫ

Изобретение относится к прикладной оптике, точнее к оптическим методам контроля прозрачных обьектов, и предназначено для контроля оптических элементов зрительных труб теодолитов. нивелиров, микроскопов и других оптических приборов.

Известен способ контроля чистоты поверхности оптических деталей, предусматривающий освещение исследуемого обьекта точечным световым источником и визуальный анализ теневой картины на непрозрачном экране, установленном за объектом исследования, Этот способ контроля чистоты поверхности оптических деталей, используется при исследовании отдельных заготовок из оптического стекла или оптических деталейи не может быть применим для контроля сложных оптических систем. например, зрительной трубы теодолита.

„„5U„, 1770860 А1 (57} Сущность изобретения; диафрагмируют осветитель до величины d S, где S — минимальный линейный размер ожидаемого дефекта, после чего фокусируют оптическую систему зрительной трубы на точечный источник света и совмещают его изображение с центром поля зрения зрительной трубы, затем производят расфокусировку зрительной трубы относительно точечного источника света до получения максимального масштаба изображения дефекта и анализируют видимую картину при перемещении точечного источника в плоскости, перпендикулярной оптической оси зрительной трубы, 2 ил.

Наиболее близким к изобретению является способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы по изображению "звезды", в котором освешают испытуемую оптическую систему коллиматором, в фокусе которого расположена точечная диафрагма диаметром 0,32-0,03 мм, освещаемая лампой накаливания через конденсор, Дифракционное изображение точечной диафрагмы наблюдается через микроскоп. Для наведения на резкое иэображение дифракционного кружка микроскоп или каретка с испытуемой оптической системой перемещаются вдоль оси коллиматора.

Качество оптических злемен1ов зрительной трубы определяют по геометрии дифракциоиного изображения точечной диафрагмы, Этот способ не позволяет наблюдателю увидеть мельчайшие пылевые частицы на t770860 поверхности линз, что объясняется тем, что одиночная пылевая частица, или группа таких частиц, не изменяет геометрии дифракционной картины точечной диафрагмы, Целью изобретения является повышение точности контроля.

Данная цель достигается тем, что в способе контроля чистоты поверхности оптических деталей зрительной трубы, заключающемся в освещении зрительной трубы точечным источником света и анализе изображения источника света через окуляр зрительной трубы, фокусируют оптическую систему зрительной трубы на точечный источник света и совмещают его иэображение с центром поля зрения зрительной трубы, после чего производят расфокусиравку зрительной трубы относительно точечного источника света до получения максимального масштаба изображения дефекта, перемещают точечный источник в плоскости, перпендикулярной оптической оси зрительной трубы, и определяют параллактические смещения теневых изображений дефектов.

На фиг.1 показано формирование иэображения в контролируемой оптической системе зрительной трубы; на фиг.2 — поле зрения зрительной трубы, Оптическая система зрительной трубы, например, нивелира, содержит обьектив 1 и окуляр 2.

Пусть на поверхности линзы объектива

1 имеется инородная частица 3 штриховой формы. а на поверхности линзы окуляра 2 инородная частица 4, Освещают объектив 1 зрительной трубы осветителем 5, содержащим лампу 6 накаливания, конденсорную линзу 7 и сменную диафрагму 8. Диафрагма

8 представляет собой пластину, в которой выполнен ряд сквозных отверстий различного диаметра например 0,01 мм, 0,05мм, 0.1 мм, Диафрагму можно перемещать относительно оптической оси осветителя и тем самым регулировать величину точечного источника света. Осветитель 5 закреплен посредством скользящей посадки на направляющем стержне 9. что позволяет изменять положение осветителя относительно оптической оси зрительной трубы, Осветитель 5 формирует расходящийся световой пучок, которым освещается объектив 1 зрительной трубы. При этом световая волна освещает инородные частицы 3 и 4 и частично эатеняется ими. Зона затенения световой волны отмечена точками. При расфокусивке зрительной трубы относительно точечного источника света на сетчатке 10 глаза 11 наблюдателя, как на проекционном э ране. появляются действительные тенеФормула изобретения

Способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы, заключающийся в освещении зрительной

3 и 4. При увеличении расфокусировки возрастает и масштаб теневого иэображения, При этом в поле зрения визирной трубы наблюдатель видит освещенный точечным

5 источником света входной зрачок 14 объектива, затененный инородными частицами (фиг.2). Изображение 15 инородной частицы

3 объектива 1 будет иметь большую нереэкость, чем изображение 16 инородной час10 тицы 4 окуляра 2. Это происходит по причине большей удаленности частицы 3 от глаза наблюдателя.

Методика выполнения способа контроля чистоты поверхности оптических деталей

t5 зрительной отрубы предусматривает выполнение следующих последовательных операций.

Вначале подбирают рабочее отверстие диафрагмы d, которое должно удовлетво20 рять следующей зависимости d < <$, где S— минимальный линейный размер ожидаемого дефекта, Эта зависимость устанавливается экспериментально. Например, при проверке запыленности линз зрительной

25 трубы d « 0,05 мм, а при поиске трещин оптических деталей d < 0,01 мм. Через выбранное рабочее отверстие диафрагмы освещают объектив зрительной трубы.

Наблюдая в окуляр зрительной трубы фоку30 сируют оптическую систему на точечный источник света (диафрагмальное отверстие осветителя) и путем взаимного перемещения осветителя и зрительной трубы совмещают изображение диафрагмы с центром

35 поля зрения трубы.

Далее производят расфокусировку зригельной трубы относительно точечного источника света до получения максимального масштаба изображения дефекта и анализи40 руют видимую картину при перемещении осветителя в плоскости, перпендикулярной оптической оси зрительной трубы. Последняя операция необходима для уточнения местоположения выявленного дефекта. При

45 перемещении осветителя 5 по направляющему стержню 9 происходит параллактическое смещение теневого изображения инородных частиц. Величина параллактического смещения изображения инородных

50 частиц обьектива будет значительно больше параллактического смещения теневого изображения инородных частиц окуляра. Это связано с более близким расположением объектива к осветителю, 55 вые изображения 12 и 13 инородных частиц

127086Î

Фиг. р

Составитель l0.Гринева

Техред M.Моргентал Корректор Э.Лончакова

Редактор Т.Иванова

Заказ 3738 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35. Раушская наб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина. 101 трубы точечным источником света и анализе иэображения источника света через окуляр зрительной трубы, отличающийся тем. что, с целью повышения точности контроля, фокусируют оптическую систему зритель- 5 ной трубы на точечный источник света и совмещают его иэображение с центром поля зрения зрительной трубы, после чего производят расфокусировку зрительной трубы относительно источника света до получения максимального масштаба изображения дефекта, перемещают точечный источник в плоскости, перпендикулярной оптической оси зрительной трубы и определяют параллвктические смещения теневых изображений дефектов.

Способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы Способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы Способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при отработке и эксплуатации теплозащитных материалов

Изобретение относится к дефектоскопии , в частности к способам контроля глубины дефектов в стеклокристаллических материалах (ситаллах)

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике

Изобретение относится к технике исследования физических свойств веществ и касается способа измерения малых концентраций влаги в сыпучих материалах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в системах автоматического контроля для анализа качества обработки поверхностей различных деталей, в частности поршневых колец

Изобретение относится к оптическим устройствам для автоматизированного контроля дефектов поверхности в областях техники , где необходимо исследование микрообъектов

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх