Способ определения глубины осветленного слоя в сгустительном аппарате

 

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может найти применение в угольной промышленности. Сущность изобретения: изобретение позволяет повысить точность измерения глубины осветленного слоя в сгустительном аппарате путем измерения концентрации твердой фазы на двух различных глубинах относительно поверхности слива. 1 ил., 1 табл.

COIO3 СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4878355/26 (22) 29,10.90 (46) 28.02,93. Бюл. % 8 (71) Луганский филиал Государственного проектно-конструкторского и научно-исследовательского института Гипроуглеавтоматизация (72) О. А. Погорелов и А. B. Панин. (56) Хан Г. А. А о а зац npoqeccos o6oгащения. M. Недра, 1964, с. 354.

Авторское свидетельство СССР

Q 297585, кл. С 02 С 1/06, 1962;

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может найти применение в угольной промышленности.

Целью изобретения является повышение точности измерений.

На чертеже представлен график функции 0 = 0(НО) для разных значений и (и следовательно Ьг).

При определении высоты осветленного. слоя предлагаемым способом мы вначале должны измерить концентрации твердой фазы на разных уровнях С1и Cz, затем найти их отношение О, а потом по известному 0 рассчитать величину глубины осветленного слоя. Погрешность определения глубины осветленного слоя зависит от погрешности определения параметра 0 и угла наклона касательной к кривой функции 0 = 0(Hp).

Чем круче угол наклона касательной, тем чувствительнее и точнее измерение высоты осветленного слоя.

На графике видно, что в диапазоне 0 <

Следовательно, в этом диапазоне, который

Ä,„. ðÖ„„1798665 А1 (я) 6 01 N 21/47, 6 05 0 27/00 (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ

ОС8ЕТЛЕННОГО СЛОЯ 8 СГУСТИТЕЛЬН0М АППАРАТЕ (57).Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может найти применение в угольной промышленности, Сущность изобретения; изобретение позволяет повысить точность измерения глубины . осветленного слоя B сгустительном аппарате путем измерения концентрации твердой фазы на двух различных глубинах относительно поверхности слива. 1 ил„1 табл. называется "мертвой зоной", чувствительность и точность измерения глубины осветленного слоя невысока. Затем следует эона, для которой угол наклона касательной к кривым велик, Этот диапазон называется

"зоной высокой чувствительности", Он постепенно переходит в зону с низким углом наклона касательной и низкой чувствительностью измерения глубины осветленного слоя, которая называется "зоной низкой чувствительности".

Для обеспечения высокой точности измерения глубины осветленного слоя необходимо, чтобы измерительный диапазон .совпадал с "зоной высокой чувствительности" на графике, а задайное значение глубины осветленного слоя располагалось приблизительно посередине измерйтельного диапазона. Кроме этого, необходимо сделать максимально узкой "мертвую зону" при измерении малых значений глубины осветленного слоя;

Как можно видеть, между зоной высокой чувствительнОсти и зоной низкой чувствительности нет резкой границы. Естественно

1798665 предложить в качестве границы значение, Но, для которого угол наклона касательной к соответствующей кривой принимает одно и то же значение для разных и, В этом случае зона высокой чувствительности для разных значений и будет различной, В качестве граничного значения мы задали угол наклона касательной, тангенс которого равен 0,1.

В таблице представлены рассчитанные численным:-методом значения НО1, являющиеся граничными между зоной высокой чувствитЪльности и зоной.йизкой чувствительности в зависимости от величины и.

Полученная численными методами зависимость достаточно точно аппроксимируется выражением

Но! - 2,612 (1 — ехр -О,ЗЗЗпЦ. .Измерительный дйапаэон глубины осветленного слоя, в котором обеспечивается максимальная чувствительность и точность измерений, равен

Hy1 х h1

Заданное значение высоты осветленно.го слоя должно располагаться посередине измерительного диапазон®

Нп Hl/2.

Иэ вышеописанных формул вытекает выражение, определяющее, во сколько раэ глубина hz должна быть больше глубины М.

Абсол ютная величина диапазона "ме ртвой зоны" определяется выражением

Нд = 0,25*й1/k,.

Иэ выражения следует, что с уменьшением ht "мертвая зона" уменьшается. . Однако при атом уменьшается сам измерительный диапазон. В результате исследований технологического процесса осаждения. . твердой фазы в сгустительных аппаратах установлено, что оптимальным является соотношение, когда заданное значение глубины осветленного слоя приблизительно в

10 четыре раза превышает величину "мертвой зоны".

Таким образом. дополнительное измерение концентрации твердой фазы на глубине h2 с определением глубины осветлемного

15 слоя позволяет повысить точность измерения глубины осветленного слоя за счет исключения погрешности, обусловленной колебаниями концентрации в слое осадка.

Кроме этого, определение комцемтраций

20 твердой фазы на глубинах, установленных в соответствии сформулами,,позволяет дополнительно повысить точность измерений за счет проведения измерений в зоне наибольшей чувствительности.

В данном случае погрешность определения глубины осветленного слоя в сгустительном аппарате будет определяться, в основном, погрешностью определения концентрации твердой фазы в пульпе. Учитывая, З0 что современные средства определения концентрации твердой фазы способны производить измерения с гюгрешностью не более

2,5 ф„то в самом неблагоприятном случае, когда концентрация на глубине h< определяЗ5 ется с погрешностью+2,5 $, а на глубине hz определяется с погрешностью -2,5 $, при типичных значениях параметров; h>

-0,25 м; n - 4; О - 0,7 — погрешность определения глубины осветленного слоя ие пре40 высит 10 отн, $.

Формула изобретения

1. Способ определения глубины освет45 ленного слоя в сгустительиом аппарате, включающий измерение концентрации твердой фазы иа глубине h1 о носительно поверхности слива, о т л и ч в io шийся тем, что, с целью повышения точности изме50 рений, дополнительно измеря1от концент. рацию твердой фазы на глубине hz, а глубину Н осветленного слоя определяют по формуле

h гтп (lх) где x — корень уравнения О х" + 1 — 0 - x; и hz/h1;

0 = С /С2;

1798665

С1, С2 —. соответственно концентрации твердой фазы на глубине h1 относительно поверхности слива и на глубине hz;

k — коэффициент пропорциональности, 2. Способ по и, 1, отличающийся тем, что величины глубин h1 и hz определяются в зависимости от заданного значения глубины осветленного слоя Н> в соответствии с выражением

Нл k < h1 <.1,2 Hë,.К

5 Ьг=n h1

1,3.h1 и =3 .!п

ДАЛО

4Ю ФФ0;_#_ ЕЯ РP0: 3,Ю 4.Ю 4,80 8,00

Ha М/Ь

- 61.2 Гп=8 яа:8.4д=1о .".р:г/а

Составитель О. Погорелов

Техред ММоргентал - Корректор Л. Филь

Редактор

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101. Заказ 767 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., 4/5