Способ измерения вольт-амперных характеристик нелинейных элементов

Авторы патента:


 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Со!оа Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 2lе, 36/10

Заявлено 15.!11.1965 (№ 947728/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

МПК G 01г

УДК 621.317.351(088.8) Комитет по делам иасбретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 15.IV.1966. Бюллетень № 9 !

Дата опубликования описания 2 т/1.1966 х - j: Ю. 51. АЯ

Автор о б р с т е ! !! я

В. Ф. Басалыга

l1 4 ГГ !! Т:г0

1 1. ХМИ .:Ед:дg

Заявитель

611Я,,y0wСПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК

НЕЛИНЕЙНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Известен способ измерешгя вольт-амперпых характеристик нелинейных элементов путем воспроизведения на экране осциллографа характеристики нелинейного элемента и калибровочной прямой линейного сопротивления.

Предложенный способ отличается от известного тем, что калибровочные метки тока и напряжения получают в виде светящихся точек путем ввода сигналов со схемы измерения на вход модулятора электронного луча по яркости осциллографа. Эти точки совмещают с точкой на кривой вольт-амперной характеристики, нуждающейся в измерении, путем регулировки калибровочных величин тока и напряжения.,Это позволяет повысить точность измерений и надежность работы схемы.

Способ поясняется схемой, изображенной на чертеже.

Сигналы, подающиеся со схемы измерения на входы х и у осциллографа 1, одновременно подаются на дискриминаторы напряжений 2 и 8. На другие входы дискриминаторов поступают постоянные, регулируемые потенциометри!ескими делителями 4 и б и измеряемые приборами б и 7 напряжения. В момент совпадения величин входных напряжений дискриминаторы дают на выходе положительный импульс. Импульсы с двух дискриминаторов собираются схемой «ИЛИ» 8 и подаются на вход z осциллографа.

На экране осциллографа получают характеристику нелинейного элемента с яркими точками, параметр которых определяется приборами. Импульс, выдаваемый дискриминатором 2, засвечивает на характеристике точку, напряжение которой определяется прибором б.

Выходной импульс дискриминатора 8 отмечает точку характеристики с током, определяемым по прибору 7. Регулируя потенцио10 метры, легко совместить указанные точки в любой точке характеристики и произвести измерение.

Предмет изобретения

15 Способ измерения вольт-амперных хара:теристик нелинейных элементов, например туннельных диодов, на экране осциллограф путем одновременного изображения вольт-амперной характеристики нелинейного элемент»

20 и регулируемых калибровочных меток тока и напряжения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и надежности работы схемы, калибровочные метки тока и напряжения в виде светящихся точек рормируют полезным сигналом, подают на модулятор электронного луча по яркост:! осциллографа и совмещают этп точки с точкой на кривой вольтамперной характеристики, нуждающейся в измерении, путем регулировки калибровочных

30 величин тока и напряжения.

Редактор Н. С, Коган

Составитель И. Чижевскав

Гехред Л. К. Ткаченко

Корректоры: В. В. Крылова и Т. Н. Костикова

Заказ 1284/6 Тираж 1525 Формат бум. 60)(90 /а Обьем О,I3 изд. л. Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Мссква, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ измерения вольт-амперных характеристик нелинейных элементов Способ измерения вольт-амперных характеристик нелинейных элементов 

 

Похожие патенты:

Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки подаваемого на диод напряжения и блок измерения величины производной обратного тока, при испытаниях диодов с жесткими характеристиками и диодов, которые 13 режиме иробоя имеют отрицательное динамическое сопротивление, мощность, выделяемая на р—«-переходе, может превысить допустимое значение, что приводит к выходу диода из строя.в иредложеином устройстве для иредотвращения выхода диодов из строя в процессе измерения последовательно с каждым из сопротивлений блока регулировки напряжения включен стабилитрон, в результате чего нагрузочная кривая цепи, в которую включен диод, приобретает вид гиперболы и незавиеимо от вольтамперной характеристики мощность диода неизменна.схема устройства изображена на чертеже.последовательно с испытуемым диодом 1 включен блок 2 ступенчатой регулировки напряжения, источник которого соединен с зажимами 3. блок 2 содержит сопротивления 4, коммутируемые шаговым искателем 5. к каждому из сопротивлений подключено ио стабилитрону 6, в результате чего напряжение на диоде и ток, протекающий через него, будут определяться точкой пересечения характер]!- стики диода с гиперболой.в ироцесее измерения блок 7 измерения величины пропзводной обратного тока контролирует отношение прпращенпя тока через дпод к приращению напряжения на нем, т. е. величину пропзводной. еели величина пропзводной меньше предельного значенпя, с блока 7 на шаговый пскатель подается управляющпй импульс, и щаговый искатель производит очередное изменение величины соиротивлений. если величииа иропзкодной больше или равиа за-, данному предельному значению, автоматически включается пз^iepитeльный прибор s, ио которому отсчитывается величина пробивного напряжения, и управляемый шаговым искателем индикатор мощности 9 показывает мощность, выделяющуюся на дподе при пробивном напряженпи.предмет изобретен и яустройство для определения пробивного напряжения иолупроводнпковых л,иодов, содержащее подключенные к диоду блок стуиенчатой регулировки подаваемого на дпод напрял\е-25 нпя, снабженный набором коммутируемых сопротивлений, и блок измерений величины производной обратного тока, отличающееся тем, что, с целью предотвращения выхода диода из етроя в процессе измерений, последовательно30 с каждым из сопротивлений блока стуиенчатой регулировки напряженпя включен стабилитрон.101520 // 172374

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-04-10T08:45:23
Наверх