Времяпролетный масс-спектрометр ионов
Авторы патента:
Сущность изобретения: масс-спектрометр содержит прозрачное для световых лучей ионное зеркало, расположенное на траектории поля между узлом формирования пакетов поля и рефлектором. Детектор окружен экраном, расположенным с возможностью перекрытия зоны прямой видимости детектора из входного окна. 1 ил.
Изобретение относится к научному приборостроению, а именно к масс-спектрометрии, и может быть использовано при исследовании химического и изотопного состава потока низкоэнергетических ионов, в том числе и плазменных.
Известен времяпролетный масс-спектрометр [1] содержащий источник ионов, пространство дрейфа, рефлектрон и детектор ионов, расположенные соосно. Однако прибор имеет недостаточную чувствительность в силу использования ионов из малого телесного угла и высокие шумы из-за прохождения ионных потоков через отверстие в детекторе. Затруднена работа прибора при интенсивном световом излучении. Наиболее близким к предложенному устройству является времяпролетный масс-спектрометр [2] содержащий корпус с входным окном, последовательно оптически сопряженные узел формирования пакета ионов, включающий отклоняющую систему, рефлектор и детектор. Такой прибор обладает недостаточной относительной чувствительностью из-за сильного влияния внешнего светового излучения и процессов перезарядки ионов в дрейфовом пространстве при пониженном вакууме. Задача, решаемая изобретением, и технический результат, который получается при использовании изобретения, связаны с увеличением чувствительности прибора и уменьшением шумов на детекторе, обусловленным исключением паразитной засветки детектора Солнцем (в космосе) или излучением плазмы. Указанный результат достигается тем, что во времяпролетный масс-спектрометр ионов, содержащий корпус с входным окном, последовательно оптически сопряженные узел формирования пакета ионов, включающий отклоняющую систему, рефлектор и детектор, введены прозрачное для светового излучения ионное зеркало в форме усеченного конуса, расположенное на траектории ионов между узлом формирования пакета ионов и рефлектором, и выполненный из электропроводящего материала и гальванически соединенный с корпусом экран, расположенный с возможностью перекрытия зоны прямой видимости детектора из входного окна. Введение дополнительного отражения уменьшает длину дрейфового отрезка перед детектором, тем самым увеличивая отношение сигнал/шум. По этой же причине для попадания внешнего излучения на детектор необходимы как минимум два отражения. Сеточные структуры также ослабляют интенсивность паразитного сигнала, что в сумме дает ослабление света на 2-3 порядка величины по сравнению с прототипом. На чертеже схематично представлен масс-спектрометр. В непрозрачном корпусе 1 выполнено входное окно 2 и размещен узел 3 формирования пакета ионов. На траектории ионов расположено прозрачное ионное зеркало 4, за которым может быть расположено устройство 5 поглощения световых лучей. Напротив ионного зеркала 4 расположен рефлектор 6 и далее по траектории детектор 7 ионов. Детектор 7 окружен экраном 8. На начальной траектории расположена фокусирующая система 9. Прибор работает следующим образом. Из анализируемого потока частиц или внешних ионов формируются узлом 3 пакеты заданной длительности, которые с помощью фокусирующей системы 9 направляются на зеркало 4. Зеркало 4 пропускает световые лучи на поглощающее устройство 5, а ионы отражает на рефлектор 6, обеспечивающий фокусировку ионов по энергии. Разделенные по массам ионы детектируются на детекторе 7. Рассеянные ионы и световое излучение задерживаются экраном 8. Введение экрана и преломление траектории анализируемых ионов с помощью зеркала позволяют значительно повысить отношение сигнал/шум за счет практического полного устранения влияния световой засветки детектора, что особенно важно при работе прибора в космосе, например, при анализе состава ионов магнитосферы при наличии интенсивного ультрафиолетового фонового излучения. Кроме того, в приборе предусмотрена возможность приближения детектора к рефлектору, что позволяет снизить отрицательный эффект процесса перезарядки ионов после их разделения по массам. Этот эффект заключается в том, что ионы, сталкиваясь с молекулами, превращаются в нейтральные частицы. Это приводит к тому, что наряду с ионным пакетом на детектор приходит и пакет нейтральных частиц, причем неконтролируемой длительности. Обычно для повышения отношения сигнал/шум перед детектором устанавливается ионный фильтр для вырезания интенсивных ионных пиков перед детектированием малоинтенсивных. Однако в случае перезарядки остающийся интенсивный пик нейтральных частиц маскирует малоинтенсивный ионный пик. В предложенном приборе процесс перезарядки значительно снижен и тем самым повышено отношение сигнал/шум. Узел отражения ионного зеркала 4 (между нормалью к зеркалу и входной траекторией ионов) следует выбирать, исходя из требований на габариты прибора и абсолютную чувствительность. Наиболее оптимальный диапазон при базе пролета 30 см составляет 5-10о. При меньших углах падает чувствительность за счет перекрывания экраном ионной траектории, при больших увеличиваются поперечные габариты прибора.Формула изобретения
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР ИОНОВ, содержащий корпус с якорным окном, последовательно оптически сопряженные узел формирования пакета ионов, включающий отклоняющую систему, рефлектор и детектор, отличающийся тем, что в него введены прозрачное для светового излучения ионное зеркало в форме усеченного конуса, расположенное на траектории ионов между узлом формирования пакета ионов и рефлектором, и выполненный из электропроводящего материала и гальванически соединенный с корпусом экран, расположенный с возможностью перекрытия зоны прямой видимости детектора из входного окна.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Времяпролетный масс-спектрометр газов // 2025821
Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, в частности к технике масс-спектрометрии
Способ времяпролетной масс-спектрометрии // 2020646
Способ масс-спектрометрического анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки // 2019887
Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано при создании масс-спектрометров с высокой чувствительностью и разрешающей способностью
Времяпролетный масс-спектрометр // 2003199
Времяпролетный атомный зонд // 1825231
Изобретение относится к высоколокальным времяпролетным методам масс- спектрометрического анализа твердых тел, конкретнее, к устройствам, с помощью которых определяется химический состав веществ (металлы и полупроводники) посредством анализа одиночных ионов, образующихся в процессе поатомного испарения материала игольчатого образца в высоком электрическом поле
Времяпролетный масс-спектрометр // 1760577
Изобретение относится к приборостроению , в частности к мэсс-спектрометрическому приборостроению Сущность изобретения1 в масс-спектрометр введен измеритель 11 интервала времени между фактическим и установленным при настройке временем пролета ионов реперного компонента , выход синхроимпульсов которого подключен к входу синхронизации генератора 8 прямоугольных импульсов, вход - к выходу широкополосного усилителя 9, аналоговый выход - к блоку 7 питания отражателя ионов
Способ масс-анализа ионов // 1758705
Способ времяпролетной масс-спектрометрии // 1737560
Времяпролетный масс-спектрометр // 1732396
Изобретение относится к научному приборостроению , в частности к области исследования массового и изотопного состава вещества, т.е
Изобретение относится к массспектрометрии
Пылеударный масс-спектрометр // 2122257
Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований
Способ анализа макромолекул биополимеров // 2124783
Масс-спектрометр ишкова // 2143110
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ
Спектрометр нелинейности дрейфа ионов // 2150157
Изобретение относится к газовому анализу, предназначено для определения концентрации микропримесей веществ в газовых средах, в частности в атмосферном воздухе
Спектрометр нелинейности дрейфа ионов // 2178929
Изобретение относится к области газового анализа и предназначено для обнаружения микропримесей веществ в газовых средах, в частности атмосферном воздухе
Спектрометр подвижности ионов // 2216817
Изобретение относится к области газового анализа и может использоваться для определения микропримесей различных веществ в газах или применяться в газовой хроматографии в качестве чувствительного детектора
Изобретение относится к области спектрометрии и используется для обнаружения атомов и молекул в пробе газа
Газопылеударный масс-спектрометр // 2231860
Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований
Пылеударный масс-спектрометр // 2235386
Изобретение относится к приборостроению, системам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований
Масс-спектрометр газовых частиц // 2239909
Изобретение относится к приборостроению средств автоматизации и систем управления, в частности к масс-спектрометрии