Способ определения геометрических характеристик объектов

 

Использование: в измерительной технике, в частности для определения абсолютной толщины, рельефа поверхности, размеров дефектов фазовых объектов. Цель: установление зависимости геометрических характеристик исследуемого объекта от его оптических свойств за счет выявления различий в поляризационных свойствах веществ. Коллимированное световое излучение, сформированное объективом, в переднем фокусе которого находится источник излучения, и линейно поляризованное с помощью поляризатора, пропускают через камеру с оптически активной средой, в которую помещен исследуемый фазовый oбъeкт 0. С помощью поляризатора измеряют углы поворота плоскости поляризации излучения, прошедшего через анализируемые участки исследуемого и прошедшего только через оптически активную среду, по которым определяют геометрические характеристики фазового объекта. 1 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при исследованиях однородных и неоднородных фазовых объектов произвольной формы для определения их геометрических характеристик (абсолютных значений толщин в различных участках, рельефа поверхности с учетом его направления и т.д.).

Известен способ контроля геометрической характеристики объекта, а именно диаметра движущейся проволоки, заключающийся в том, что помещают контролируемую проволоку в камеру с электрооптической жидкостью, в которой индуцировано постоянное электрическое поле, облучают среду с объектом поляризованным в исходной плоскости, перпендикулярной к линиям электрического поля в зоне контроля, световым потоком, поляризуют регистрируемый световой поток в плоскости, перпендикулярной к исходной, и регистрируют величину изменения потока, по которой судят об изменении диаметра проволоки [1] В известном способе благодаря физическим особенностям объекта установлена зависимость между его геометрическими размерами и напряженностью электрического поля, однако указанный способ не позволяет установить зависимость геометрических характеристик исследуемого объекта от его оптических свойств, следовательно не может быть применен для определения геометрических характеристик фазовых объектов.

Задачей изобретения является установление зависимости геометрических характеристик исследуемого объекта от его оптических свойств за счет выявления различий в поляризационных свойствах веществ.

Для решения данной задачи в способе определения геометрических характеристик объектов, заключающемся в том, что помещают объект в камеру со средой, облучают среду с объектом поляризованным с помощью поляризатора световым потоком, регистрируют изменение интенсивности прошедшего среду светового потока, отличием является то, что в качестве среды используют оптически активную среду с постоянной а вращения и концентрацией С, после регистрации интенсивности светового потока, прошедшего через среду, поворачивают поляризатор и регистрируют угол (X, Y) поворота, при котором интенсивность светового потока, прошедшего исследуемый участок объекта, совпадает с интенсивностью светового потока, прошедшего среду, а геометрические характеристики определяют по соотношению Для осуществления изобретения можно использовать устройство, принципиальная схема которого представлена на чертеже. Устройство содержит источник излучения 1, объектив 2, поляризаторы 3, 5, камеру 4 с оптически активной средой. К оптически активным средам относятся, например, скипидар, никотин, растворы сахара и другие органические соединения, пары натрия и т.д.

Коллимированное световое излучение, сформированное объективом 2, в переднем фокусе которого находится источник излучения 1, и линейно поляризованное с помощью поляризатора 3, пропускают через исследуемый фазовый объект 0, помещенный в камеру 4 с оптически активной средой. При этом часть излучения пропускают только через оптически активную среду. Измерение углов поворота плоскости поляризации излучения, прошедшего через анализируемые участки исследуемого фазового объекта и части излучения прошедшего только через оптически активную среду, осуществляют с помощью поляризатора 5. Распределение интенсивности за поляризатором 5 имеет вид: I = E2ocos2[(X,Y)-] (I) где Eo вещественная амплитуда излучения; (X,Y)(, угол поворота плоскости поляризации; g угол поворота поляризатора 5. Все углы отсчитываются от вертикальной оси координат т.е. в общем случае, за поляризатором 5 наблюдается чередование темных и светлых областей, характеризующих изменение геометрических характеристик объекта.

Как следует из формулы (1), полученное в результате применения заявленного способа распределение интенсивности является функцией угла g поворота поляризатора. При повороте поляризатора, т.е. при изменении угла g, распределение интенсивности будет изменяться в соответствии с (1). То есть более светлые участки становятся темными и наоборот. Если зафиксировать взгляд на каком-то, например, светлом участке, соответствующем максимальному значению интенсивности, то при повороте поляризатора этот участок будет смещаться, а на месте светлого участка будет наблюдаться, в соответствии с (1), другое значение интенсивности света.

Пусть плоскость поляризации части излучения, прошедшего вне объекта, повернется на угол где a постоянная вращения, с концентрация оптически активной среды, L длина камеры с оптически активной средой. Плоскость поляризации другой части излучения, прошедшего через анализируемых участок исследуемого фазового объекта, повернется на угол
(X,Y)= aC[L-l(X,Y)]( (3)
где l толщина анализируемого участка исследуемого объекта. Тогда из (2) и (3) получим

Формула (4) позволяет определять абсолютное значение геометрической толщины исследуемого фазового объекта независимо от распределения его показателя преломления. Для этого необходима вначале повернуть поляризатор 5 на угол o, при этом, согласно (1), для части излучения, прошедшего только через оптически активную среду будет наблюдаться максимальное (или другое фиксированное) значение интенсивности. Затем поляризатор поворачивают таким образом, чтобы интенсивность светового потока, прошедшего исследуемый участок объекта, совпала с интенсивностью светового потока, прошедшего через оптически активную среду. При этом поляризатор повернется на угол = o- (X,Y)(, по которому с помощью (4) и определяется искомая геометрическая толщина анализируемого участка фазового объекта.

Если же объект не имеет участков, позволяющих при данном направлении просвечивания осуществлять плавный переход интенсивности из области вне объекта в область объекта, например, плоскопараллельная пластинка при освещении, нормальном к ее поверхности, то следует изменить направление просвечивания, развернув исследуемый объект и провести измерения. При этом для определения толщины в направлении нормали к поверхности пластинки, следует использовать измеренное значение толщины с учетом изменения направления просвечивания.

Способ также позволяет однозначно определить высоту рельефа поверхности фазовых объектов, радиусы кривизны, размеры дефектов и т.д. Для этого необходимо обеспечить многоракурсное просвечивание исследуемого объекта и определить для каждого направления соответствующие величины толщин, по которым и вычисляются остальные геометрические характеристики. В совокупности с интерференционными способами заявляемый способ даст возможность определять показатели преломления фазовых объектов произвольной формы, т.к. интерференционные способы позволяют измерять лишь приращение оптической длины пути.


Формула изобретения

Способ определения геометрических характеристик объектов, заключающийся в том, что помещают объект в камеру со средой, облучают среду с объектом поляризованным с помощью поляризатора световым потоком, регистрируют изменение интенсивности прошедшего среду светового потока и определяют геометрические характеристики объекта, отличающийся тем, что в качестве среды используют оптически активную среду с постоянной A вращения и концентрацией С, после регистрации интенсивности светового потока, прошедшего через среду, поворачивают поляризатор и регистрируют угол (X,Y) поворота, при котором интенсивность светового потока, прошедшего исследуемый участок объекта, совпадает с интенсивностью светового потока, прошедшего среду, а геометрические характеристики определяют по соотношению

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, к оптическому приборостроению и может найти применение при создании аппаратуры для изготовления многослойных оптических покрытий, наносимых путем осаждения веществ в вакуумной камере

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения толщины прозрачных пленок

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в легкой промышленности для автоматизации процесса сортировки кож

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в легкой промышленности для автоматизации процесса сортировки кож

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины плоского проката и ленточных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в самолетных системах контроля загрязнения нефтью морской поверхности и в очистных сооружениях портов и промышленных предприятий

Изобретение относится к измерениям с использованием оптичебких средств

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения толщины полупроводниковых слоев (прозрачных пленок) в электронной промышленности, в частности для измерения толщины мембран в тензодатчиках, и может быть использовано в приборостроении и машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх