Магнитная система для температурной компенсации магнитных приборов

 

! х i!: : :чсс-нее б н о |"

Q П И С А Н И Е 2I8308

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от азт. свиде|ельства №

М. Кл. 6 12Ь 7/00

G 01r ЗЗ/00

Заявлено 09.Х11,1966 (_#_ 1117262/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 05.1.1974, Б|оллетепь ¹ 1

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений н открытий

УДК 621.317.444(088.8) Дата опубликования оппса||пя 6Л 1.1974

Автор изобретения

Заявитель

В. H. Бобров

Институт земного магнетизма, ионосферы и распространения радиоволн

МАГНИТНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ

КОМПЕНСАЦИИ МАГНИТНЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к области мапц|тометрии.

Известны магнитные системы для темпер»турной компенсации мап|итных приборов, представляющие собой два дополнительных магнита, устанавливаемых на некотором расстоянии от индикаторного магнита приоора.

Предлагаемая магнитная система для "емпературной компенсации магнитных приборов отличается от известных тем, чiо в ней дополнительные магниты выполнены с одинаковыми магнитными моментами и различными температурными коэффициентами.

Это позволяет повысить точнос1ь;емпературной компенсации магнитного прибора.

На чертеже представлена схема, иллюстрирующая описываемое устройство.

Магнитная система состоит из двух жестко закрепленных между собой антипараллельных магнитов 1 и 2 с одинаковыми ivàríèòíû»è моментами М| и М: и с различными температурными коэффициентами ц, и ||е. Одпп из магнитов изготовлен из сплава с температурным коэффициентом р)0, а второй — из сплава, температурный коэффициент ко|орого р.е(0 (це 2. 10 ).

Магнитную систему устанавливают либо в первом, либо во втором ламоновом положении на некотором расстоянии Я от подвесноro магнита 3 прибора, имеющего температурный коэффициент р. Расстояние от магнитной системы до подвесного магнита 3 прибора подбирают таким образом, чтобы показания прибора не зависилп от изменения температуры.

Расчет температурной компенсации ведут по формуле где Мл=М,=Л4» — магнитные моменты магнитов при 1=4; n=2 или 1 в зависимо15 сТН от первого или второго ламонового положения.

Описываемая магнитная система при температуре 1=(о практически не создает»агнитного поля B центре подвесного магнита

20 прибора, а при изменении температуры на 1 магнитная система образует в центре подвесного магнита магнитное поле, равное по величине и обратное по знаку температурному коэффициенту прибора.

Такая магнитная система позволяет осуществлять температурную компенсац|по у всех существующих магнитных приборов, практически без существенных изменений базисных

30 значений приборов.

218308 тем, что, с целью повышения точности ко"пенсации, в ней упомянутые магии-.ы выпол нецы с одинаковыми магнитными гмоментаз;и и различными температурными козффициен5 тами.

Составитель В. Бобров

Текред А. Камышникова

Корректор Н, Учакина

Редактор И, Грузова

Заказ 1775/9 Изд ¹ 488

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и

Москва, 7К-35, Раушская

Типография, пр. Сапунова, 2

Предмет изобретения

Магнитная система для температурно" компенсации магнитных приборов, содержаща;1 два жестко закрепленных между собой апгнпараллельных магнита, о т л и ч а и гц и я с"

Тираж 591 Подписное

Совета Министров СССР открытий наб., д. 4,,>

Магнитная система для температурной компенсации магнитных приборов Магнитная система для температурной компенсации магнитных приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в метрологии и магнитометрии при проведении поверочных и исследовательских работ

Изобретение относится к способам измерения физических свойств ВТСП-материалов

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в устройствах для измерения параметров магнитного поля на основе феррозондов
Наверх