Анализа газов или паров

 

G П И С А Н И Е 23II99

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистическик

Респуолик

Зависимое от авт. свидетельства J¹

Кл. 42/, 4/13

Заявлено 14.VII.1967 (№ 1173456/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

МПК 6 01п

УДК 543.274(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 15.XI.I 968. Бюллетень ¹ 35

Дата опубликования описания 21.Ш.1969

Автор изобретения

П. И. Бреслер

Заявитель Специальное конструкторское бюро аналитического приборостроения

АН СССР

СПОСОБ АНАЛИЗА ГАЗОВ ИЛИ ПАРОВ

Известны способы газового анализа, основанные на способности газов адсорбировать электромагнитное излучение в той или иной области спектра.

Предложенный способ основан на свойстве газов и паров конденсироваться в виде кристаллической пленки на поверхности, температура которой такова, что парциальное давление анализируемого газа или пара становится насыщающим, причем эта температура поверхности ниже температуры плавления конденсата; при этом кристаллическая пленка имеет свойство избирательно отражать ИК-радиацию в области остаточных «лучей».

Согласно этому способу в исследуемую газовую смесь помещают охлажденнуто пластину, имеющую минимальный коэффициент отражения в ИК-области и освещают поверхность пластинки инфракрасным излучением, и о содержании анализируемого компонента судят по спектру отражения ИК-радиации.

Это позволяет повысить избирательность анализа газов. Определение относительного содержания анализируемого компонента в смеси осуществляется по величине парциального давления этого компоненнта, определяемого по температуре поверхности пластины в момент появления конденсата, и по величине полного давления смеси, 2

На чертеже изображено устройство для реализации этого способа (один из вариантов) .

Замкнутая полость 1, периодически откачиваемая насосом 2 и заполняемая анализируемой смесью газов или паров, соединена каналом с внутренней полостью рабочей камеры т, снабженной необходимыми приспособлениями для установления и поддержания заданной

lo температуры пластины 4, на поверхности которой происходит конденсация анализируемого компонента. Эта пластина выполнена из такого материала и таким образом, чтобы отраженный от ее поверхности поток инфракрас15 ной радиации в рабочем интервале спектра был бы минимальным (например, из хорошо пропускающего ИК-радиацию материала с зачерненной задней поверхностью). Рабочая камера герметично закрыта окном 5, прозрач20 ным в рабочем интервале инфракрасного спектра. На пластину 4 от источника 6 падает поток инфракрасной радиации. На пути потока радиации установлен фильтр 7, с помощью которого из спектра потока выделяется необ2S ходимый интервал длин волн, соответствующий максимуму отражения кристаллической фазы анализируемого компонента.

При отсутствии кристаллического конденсата на рабочей поверхности пластины 4 только

30 незначительная часть потока радиации, отра231199

Предмет изобретения

Составитель В. М. Пантелеев

Редактор Э. Н. Шибаева Техред Корректор В. В. Крылова

Заказ 310/17 Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 женная от нее, попадает на приемник 8 радиации, сигнал которого усиливается усилителем

9 и измеряется прибором 10. В момент появления на рабочей поверхности пластины 4 кристаллической пленки анализируемого компонента коэффициент отражения резко увеличивается, что, в свою очередь, приводит к резкому увеличению сигнала, развиваемого приемником 8.

Парциальное давление анализируемого компонента в момент начала выпадания конденсата определяется по значению температуры поверхности пластин 4, измеряемой термометром 11, а для определения относительного содержания данного компонента в смеси газов или паров одновременно измеряется полное давление анализируемой смеси с помощью манометра 12.

При проведении измерений условия выпадания конденсата достигаются либо путем по4 стоянного снижения температуры пластины 4 при сохранении постоянного давления анализируемой смеси в объеме замкнутой полости 1, либо путем постепенного увеличения давления смеси в полости 1 при постоянной температуре рабочей поверхности пластины 4.

Способ анализа газов или паров, отличаюи ийся тем, что, с целью повышения избирательности анализа, в исследуемую смесь помещают пластинку с минимальным коэффи15 циентом отражения в ИК-области, охлажденную ниже температуры кристаллизации определяемого компонента смеси и освещают поверхность пластинки ИК-излучением, а о содержании анализируемого компонента судят

20 по спектру отражения ИК-радиации,