Способ измерения импульсных магнитных параметров ферритоеых плат

Авторы патента:

G11C29 - Контроль запоминающих устройств на правильность их работы

G11C11/02 - с использованием магнитных элементов

G01R31/28 - испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение G01R 31/02; контрольные вычислительные устройства G06F 11/00; статические запоминающие устройства для контроля работы накопителей G11C 29/00)

- "|с : 4 о u- - ., 4ч

О ГГМ" б А- Н вЂ” И Е

Союз Советских

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ч0

1;л. 2!е, 37/10

Заявлено 05.IV.! 967 (Л 1146827, 26-24) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 10.111.1969. Бюллетень ¹ 10

Дата опубликования описания 14.VI I.1969,4IHIy G 0lr

УДЫ 621.317.4(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совета Министров

СССР

Авторы изобретения

1О. В. Дробо"îâ и A. А. Дерюгин

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИМПУЛЬСНЬ!Х МАГНИТНЫХ

ПАРАМЕТРОВ ФЕРРИТОВЬ1Х ПЛАТ

Известен способ |измерения имчульсных магнитных параметров ферритовых плат, памяти из материала с прямоугольной .петлей гистерезиса по амгплитудным значениям э.д.с., наводимым,при перегчагничивании ячеек плат под воздействием импульсов тока, пропускаемых через проверяемую и контрольную платы.

Предложенный способ отличается тем, что для по вышения точности измерений при наличии температурной погрешности изменяют коэффициент усиления измерителя э.д.с. так, чтобы амплитуда э.д.с. с контрольной платы достигла значения, равного величине этой амплитуды до изменения температуры.

Сущность способа заключается в следующем:

Программу импульсов тока подают как на ячейку проверяемой платы, так и на ячейку входящей в состав устройства контрольной феррHTQBGH платы с из вестных|и па|раметрахги, которая выполнена из того же материала, имеет такие же размеры и находит=я .в одинаковых с проверяемой платой температурных уcловиях. Ам|плитудные значения э.д.с., считываемые с проверяемой ячейки, ус |ливаются измерителем э.д.с. Периодически этим же измерителем усиливаются значения э.д.с., считывасмые с контрольной ячейки. Hpп изме|ненни

i од в,шянием изменения температуры ахгплитуды э.д.с., с штываемой с контрольной ячейки, коэффициент усиления измерителя э.д.с. изменяют таким образов!, чтобы э.д.с., считываемая с ячейки контрольной платы, оставалась неизменной. В результате исключается вызванное воздействием ухода температуры изменение амплитуды э.д.с., считываемой с

1о ячеек проверяемой платы, поскольку характер температурного изменения э.д.с. ячеек проверяемой и контрольной плат одинаков.

Предмет изобретения

15 Способ измерения импульсных магнитных параметров ферритовых плат из материала с прямоугольной петлей гистерезиса по амплитудам э.д.с., наводимым при перемагничивашш я |еск плат импу.|ьсами тока, i!pc!i Cåèeìú!ì1!

20 через проверяемую и контрольную платы, от.гичаюигийся тем, что, с целью повышения точности измерений при налич|ш тохгпературног! погрешности, изменя|от коэффиц:|сит усиления измерителя э.д.с., до величины, при которой

25 амплитуда э.д.с. с контрольной платы досьчгает значения, равного величине этой амплитуды до изменен|ия тех|пературы.