Способ спектрального анализа металлов на содержание газов

 

ОПИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

277376

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 22.IV.1968 (¹ 1 234032,26-25) с присоединением заявки М

Приоритет

Опубликовано 22.V11.1970. Бюллетень ¹ 24

Дата опубликования описания 15.Х.1970

Кл. 42!, 3,/08

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР.ЧПК G 01п 21i 58 а 011 3 30 .: ДК 543.423(088.8) Авторы и 3 О О 1э е т е и и я

О. И. Никитина и А. E. Горевая

Украинский научно-исследспательский институт металлов

СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА МЕТАЛЛОВ

HA СОДЕРЖАНИЕ ГАЗОВ

Предмет пзооретения

H3BccTc!I cilocoo el!BI

250 — 300 !с!т рт. ст., и возбуждают пробу с:!помощью низкозольтнсго ис!<ровогO разряда.

Предло)кенный способ отличается тем, ч; пробу возбужда<ст B воздушной среде пр, давлен!<и возду.;а 80 — 150 л! я г,т. сг.

Это позволяет повысить чувствительность анализа и исключить необходимость в использова:HH защитной среды.

При использовании данного способа материал пробы поступает в разряд нз образу ощегося дендрита.

Пример. Определение азота и кислорода в стали ст. 3, ст. 45 и рельсовой! стали М-75.

Анализ проводят на спектрографе ИСП-51 с камерой = 270 при точечном уведиченном изображении источника на цель.

Спсl< р 130т3

В качестве подставного электрода используют игольны!! элс!<трод, зато !енн!т! п3 усеченный !.Опус.,давление воздуха в рабочей камере —100 зь!! рт. ст. Используют аналитические па.

nû линни:

О 17771 — Ге 7511 А; Х 17442 — Ге 7511 А.

Способ cl!åi<òð3ëüíîãO анализа металлов на содержaèèå газов с возсужденпем пробы

15 в искровом разряде, осуществляемом при Вопиженном давлении, от тачаюи<аася тем, что, с целью новь!шсния <увствптельности и исключения н обкодпмостп в использовании защитной среды, всзоуждение пробы произво20 дят при давлении окружающей атмосферы

F0 — 150 Iu! рт. ст.

Способ спектрального анализа металлов на содержание газов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу и может быть применено при количественном спектральном анализе химического состава вещества

Изобретение относится к импульсным широкополосным источникам некогерентного оптического излучения высокой пиковой мощности и может быть использовано для проведения научно-исследовательских работ, в микроэлектронике, в медицине и других областях

Изобретение относится к спектральному анализу, в частности к распылителям порошковых проб, направляемых в источник возбуждения спектра и может быть использовано для спектрального анализа проб ограниченной навески, например, при озолении биологических объектов или в минералогии

Изобретение относится к области микроэлектронных и микромеханических устройств и может быть использовано в качестве нагревателя интегрального полупроводникового газового датчика, инфракрасного излучателя адсорбционного оптического газоанализатора, активатора печатающей головки струйного принтера

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано для проведения анализа электропроводных материалов без предварительной механической пробоподготовки

Изобретение относится к калибровке светодиодов и их использованию, в частности, в неинвазивных оксигемометрах
Наверх