Способ автоматического анализа микрообъектов
ОП И САНИ Е
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
286282
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 11.XI.1968 (№ 1282414/29-33) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 10.ХI.1970. Бюллетень № 34
Дата опубликования описания 8.1.1971
Кл. 42h, 15/02
42k, 49/02
МПК G 01Ь 9/04
G 01b 9/04
УДК 620,1.08:535 3 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Автор изобретения
Г. К. Гамаюнов
Заявитель
СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОГО АНАЛИЗА МИКРООБЪЕКТОВ
В ПРЕПАРАТАХ
Предмет изобретения
Изобретение относится к области исследования препаратов оптическими методами.
Известен способ автоматического анализа микрообъектов в препаратах с помощью оптической аппаратуры.
Цель изобретения — получение объективной информации о третьем измерении микрообьемов и обеспечение возможности быстрого и точного определения идентичности испытуемого материала с контрольным.
Достигается это тем, что перемещают предметное стекло сканирующего микроскопа на
5, 10, 15, 20 як ступенчато, производя искусственное расфокусирование микрообъектов и вводя данные о них в электронно-вычислительную машину, причем микрообъекты, контрастность которых падает ниже определенного уровня, не учитывают.
Сущность способа поясняется чертежом.
Предметное стекло 1 с микрообъектами разной высогы 2, 3, 4 перемещается на величину а относительно поля зрения сканирующего микроскопа. После перемещения предметного стекла на величину а наблюдаемая картина претерпевает некоторые изменения. Частица 2, высота которой заведомо меньше перемещения, увеличивается в диаметре и значительно уменьшает свою контрастность, представляя из себя размытое бледное пятно. Частица 8, лежащая на границе глубины резкости микроскопа, выглядит как контрастное пятно, окруженное неконтрастной зоной. Частица 4, значительная часть которой остается в пределах глубины резкости микроскопа, так как перемещение а меньше ее высоты, почти не изменяется.
Если учесть, что глубина резкости микроскопа колеблется в пределах от долей микрона до нескольких микрон в зависимости от чис10 ленной апертуры микроскопа, длины волны облучающего препарат света и т. п., а точность перемещения предметного стекла может составлять 0,01 — 0,02 лк, то высота микрообъектов может быть измерена этим способом с точ15 постыл до микрона и выше. При этом перемещают предметное стекло сканирующего микроскопа на 5, 10, 15, 20 лтк ступенчато и фиксируют уровни положения микрообъектов, вводя данные о них в электронно-вычислительную
20 машинч.
Способ автоматического анализа микрообь25 ектов в препаратах с помощью оптической аппаратуры, отличающийся тем, что, с целью получения объективной информации о третьем измерении микрообъектов и обеспечения возможности быстрого и точного определения
30 идентичности испытуемого материала с кон286282
Составитель Г. Кузьмииова
Редактор И. Квачадзе Текред T. П. Курилко Корректор Л. Л. Евдоиов
Заказ 385ljIO Тираж 430 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4j5
Типография, пр. Сапуно::а, 2 трольным, предметное стекло сканирующего микроскопа перемещают на 5, 10, 15, 20 мк ступенчато, производя искусственное расфокусирование микрообъектов и вводя данные о них в электронно-вычислительную машину, причем микрообъекты, контрастность которых падает ниже определенного уровня, не учитывают.
