Растровый спектрометр

 

> ) =V.

<-"- " "-н3,5А

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ПАТЕНТУ

295282

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимый от патента M

Заявлено 26.II.1968 (№ 1222334!26-25) 11ПК G Olj 3<42

Прио13ите i 28.11.1 )67, ¹ 96776, Фраициfl

Комитет по делам изобретений и открытий при Сосете Министроо

СССР ... 1,1, 535.853.225(088.8) Опубликон;11ю 04.11.1971. 1>1(3ллс т(iii> Xo 7,сат(l оиубликонаиия olllfcil ililll 6.13, .1!!71

Автор изобретения

Иностранец

Поль-Жан-Эмиль Верманд (Франция) 11носграниая фирма

«Оффис Насьональ д Этюд э де Решерш Аэроспасьяль» (Франци>!) Заявитель

РАСТРОВЫЙ СПЕКТРОМЕТР

Изобретение относится к области спектрального приборостроения и может найти примеlfcllfi(при конструировании растровых спектрометров.

В известных растровых спектрометрах для выделения сигналы на длине волны настройки Х из суммарного светового сигнала, попадающего на фотоприемник, излучение указа!гной длины волны модулируют, периодически смещая из поло>кения равновесия один из растров в направлении, перпендикулярном направлению дисперсии.

В предложенном спектрометре модуляцию

Осуществляют вращением одного из растров относительно оси, проходящей через центр растры If сони(ыдаю(цей с опти 1еской осью спектро метр 3.

Предложенный спсктрометр отличается тем, что оба растры н нем выполнены в виде кругов, площадь которых заполнена 1ередующимися концентрических!и кольцами с различным пропусканием. Каждое кольцо разделено ди(!метрох! круга на дна полукольца, имеющих различное иропускание. Кольца

Р<1 TP Т И М(TЬ I(31С P3I3IIV 10 III I! Pillion > T3 К и меияющуктся иo некоторому закону.

11ы фиг. 1 изображен растр с кольцами равной ширины; 113 фиг. 2 — растр, в котором радиуcf l последовательных, ограничивающих кольца окружностей пропорциональны корням квадратным из последовательности целых чисел; ны фиг. 3 — вариант оптической схемы спсктрометра с растрами, I3 которых череду10гся Отража1ощие ll прозрачные кольца. .т1уч 1 cflcf;I »poioz»IT через осветительную систему, состоящую из зеркал 2 и 3, входной растр 4, формируется в параллельный пучок коллиматорным зеркалом 5 и посылается на

10 дифракциош!ую решетку 6. Дифрагиро!3анный пучок света отражается зеркалом 5 на выходной растр 7, из которого он проходит

II3 фотоирисмш(к 8.

T3 f 1 3 1(»3 uf fllc no I» l)I наст130и :.и t. вход15 иой растр отобраукается оптикой спектрометр» H;i Н!1ХО !И(1М, TO Прону I 31IIIC СПЕКтрОМЕтра иы этой длине волны будет максимальным, и изобр;1жеш:я прозрачных полуколец входного растра (зеркальных — в случае хо20;Iil луч«й, покызыино10 пунктиром) совпадают с зеркальными полукольцами выходного рас1ра. При повороте одно!о растра относитсльlI0 другог0 на 180" изображеш(я прозрачных иолуколсц входного растра совпадут с про25 зри) I II f)f xf it кол ын(м и выходного, ll и роиускаии«спсктромегры будет миним;lльиым. Таким образом, нры(цсчи1е одного из растров с 13cтотой (>f п1)иноди l к хlодУ,i%If!I!If светового IloTOl(3 I13 <С< И ИЕ 130 1!II)f 113CTPOIII(lf C TOII if(C 1330 стотой.

295282

С ))0TQKpiic)I!II!K(I 8 сигнал поступает на сслсктив!)ый ус;!7;I7сль 9, усиливающий нро310, (У. 1И POI3Я ilii > ) С ОС 1 Я 13Ë 51 IÎ(! (",K) ВI>I ХОДI! 01 О

CiII Па,l(K

E! Я (();II I I P(»!(.7 Я В;!си;! (3Рс 3!Си и Я 5! Раз. ! вертя(! cI)cTOI;.)го сигна Ifi, п(к туil;- пцеi о ия фо Пирис ((пик, глс 1 cI(c I (! !30É (.и llci.l н» д 7нне В07! I >>1 i.; E E с II(то Во!1 с иГП (1л, (р \ Гих длин волн; EEE — суммарпыи с!)с!О!3ой сигililл.

1(Огдя ко 11>ii (1 ь >!) яс !ра>. (E) яздслсн ы II II 1с 1 но(мио>ксст(30 . (E) 1 Вн!>1 х I Bc Г(.Il (. :!с!)е, () 10I I (е Й с Я . ; Я !) Я к Г с P и ("1 I I ко и 1 i P 0 Гl >, с к Я 11 11 и, В P I! ц ш(с одно(0 нз растр)в c !» "ГoT()il () приводит

K;()Д). ЛЯ!(И:1 C I>СTO!30! 0 I IOTOКЯ f!Я:!Лн I I 0 (30.7II I! /> С I;.) СТОТОй ! > !

EIрсдмет изобрстс.III ÿ

1. Растровый сисктроз!07 р, отл(((ага((и((((!

T(i>i IÒ0 Ооа ряСТр;I 13 11(11 13ЫПОЛПСПЫ 13 ВидС яру(0U, пло(цадь KQTopl, заполнена чередуlо<гимис51 концситри (сскими 1 Олы(ами с различli. ë3! пропускяш!е I, при 1см кя)кдое кольi(0 Ра;3 I(Л(!i0 Ди (1. (!Ет!)О >1 KP> Ãß ff 3 ДВа ПОЛУ5> ко I»i(f), II)ICI;)I!(1!х рязли !нос иропускание, 071111 IIЗ Рис ГPOi3 13ыногli!(. II и(. !1Одвижны м, ДРУгой — 13р»и(;1!Оп(имея вокруl оси, проходящей I(!)с;, с! 0 Iicli ГE).

2). Спектроз)с(р ПO и. 1, отлача)о(((ай(ся тем, E() С70 !)(!стj)LI 13 llc)1 II)::сю1 !Р()вн)10 и(иРИПУ 1(0Л(Ц.

3. С)!скт!)о!(!С(р flo и. 1, отла>(а)оцай(ся тем, что и растрах, иримене((ных в нем, радиусы

i,0(.i(:,((,I ятел(и!ых огряипчи(3а!Он(их кольца

)5 ()КР >Иноеi 1! III>!!!07Н III I Н )ОНОРЦИОНЯЛЬНЫ(!И к(р!!5 .)I квадратII!,1)I из последовательности !

I ЛЫK >Н!СЕ7.

С1, кгром()тр по пп. 1 — 3, отлачаюи(иася

1())1, !о колин.! 13 ра(трах разделены на чет2(7 I!О!,> i< .К(.""ГHО Р 11311ЫХ Ч(IСТЕИ С Ч(.РСДМIОЩЕИCЯ харакl рисl икой иропускяния.

Растровый спектрометр Растровый спектрометр Растровый спектрометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх