Устройство для испытания феррит-транзисторных ячеек

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

305564

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

МПК Н 03k 1/02

Заявлено 05.Ч.1969 (№ 1327310126-9) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 04.V1.1971. Бюллетень ¹ 18

Дата опубликования описания 23.ЧI1.1971

Комитет по делам изобретений и открытий

АрН 1 о еТе MNHHCTp0S

СССР

УДК 621.374.32(088.8) Автор изобретения

С. В. Смирнов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЪ|ТАНИЯ

ФЕРРИТ-ТРАНЗИСТОРНЪ|Х ЯЧЕЕК

Изобретение может быть применено для испытания и проверки феррит-транзисторных ячеек (ФТЯ).

Известно устройство для испытания интегральных схем, состоящее из генератора импульсов, испытуемых ячеек и схем контроля.

Вход первой ячейки соединен с выходом генератора импульсов, испытуемые ячейки соединены последовательно, а схема контроля поочередно подключается к выходам испытуемых ячеек.

Основным недостатком известного устройства является неточность получаемых при испытаниях результатов, так как вследствие приодического подключения контрольных схем невозможно зафиксировать сбои ячеек, возникающие в промежутках между подключениями. Если же использовать параллельный контроль испытуемых ячеек, то количество контрольных схем будет равно числу проверяемых ячеек.

Цель изобретения — упрощение процесса испытаний.

Для этого в предлагаемом устройстве выход каждой испытуемой ячейки соединен со входом записи соседней ячейки следующего столбца и со входом считывания следующей ячейки этого же столбца, обмотки записи всех ячеек первого столбца соединены последовательно и подключены к источнику подмагничивающего тока, обмотки считывания псрвых ячеек нечетных столбцов присоединены к первому выходу генератора тактовых импульсов, обмотки считывания первых ячеек четных столбцов подключены ко второму выходу того же генератора, а к выходам каждой последней ячейки всех столбцов и всех ячеек последнего столбца подключен блок контроля.

10 На чертеже приведена функциональная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит феррит-транзисторные я ейкп 1 — 16, исто ник 17 подмагничнвающего тока, генератор 18 тактовых импульсов с

15 выходами 19 и 20, блоки 21, 28, 25, 27, 29, 81

88 и 85 контроля и блоки 22, 24, 26, 28, 80, 82, 84 и 86 индикации.

ФТЯ 1 — 16 связаны между собой по матричной схеме. Ячейки 1 4 образуют первый

20 столбец матрицы, ячейки 5 — 8 — второй столбец, ячейки 18 — 16 — n-ный столбец. Соответственно, ячейки 1, 5, 9 и 18 — образуют первую строку матрицы, ячейки 2, 6, 10 и 14— вторую строку и ячейки 4, 8, 12 и 16 — и-ную

25 строку.

Выход каждой испытуемой ячейки (кроме ячеек, входящих в и-ный столбец н и-ную строку) соединен со входом записи соседней ячейки следующего столбца и со входом счи30 тывания следующей ячейки этого же столб305564

45

65 ца. Например, ячейка 2 (первый столбец, вторая строка) соединена со входом записи ячейки б (второй столбец, вторая строка) и входом считывания ячейки 8 (первый столбец, третья строка).

Выход каждой ячейки и-ного столбца (кроме ячейки 16, и-ный столбец т-ная строка) связан со входом считывания ячейки и-ного столбца следующей строки. Выход каждой ячейки т-ной строки (кроме ячейки 16) связан со входом записи ячейки следующего столбца m-ной строки.

Обмотки записи всех ячеек 1 — 4 первого столбца саед IHcHbl последовательно и подклю- ены к источнику 17.

Обмотки считывания первых ячеек нечетных столбцов подключены к первому выходу 19 генератора 18, а обмотки считывания первых ячеек четных столбцов — ко второму выходу 20 генератора. Выход каждой из ячеек и-но — î столбца и т-ной строки связан со входом соответствующего блока контроля.

Так, в и-ном столбце ячейка 18 соединена с блоком 21 контроля, выход которого подключен к блоку 22 индикации; ячейка 14 — с блоком 23 контроля, выход которого подключен к блоку 24 индикации; ячейка 15 — с блоком 27 контроля, выход которого подключен к блоку 28 индикации.

В т-ной строке ячейка 4 соединена с блоком 29 контроля, выход которого подключен к блоку 80 индикации; ячейка 8 — с блоком 31 контроля, выход которого подключен к блоку 82 индикации; ячейка 12 — с блоком 88 контроля, выход которого подключен к блоку 34 индикации; ячейка 16 — с блоком 85 контроля, выход которого подключен к блоку 86 индикации.

Устройство работает следующим образом.

Ток подмагничивания от источника 17 питания устанавливает ФТЯ первого столбца

1 — 4 в состояние «1».

Первый тактовый импульс с выхода 19 генератора 18 подается на вход считывания ячейки 1. Импульс с выхода ячейки 1 устанавливает ячейку 5 в состояние «1» и подается на вход считывания ячейки 2, импульс с выхода которой устанавливает в состояние

«1» ячейку б и подается на вход считывания ячейки 3 и так далее, пока ячейка 4 первого столбца т-ной строки установит в состояние

«1» ячейку 8 (второго столбца той же строки).

Второи тактовый импульс с выхода 20 гнератора 18 подается на вход считывания ячейки 5, импульс с выхода которой устанавливает в состояние «1» ячейку 9 и подается ца вход считывания ячейки 10. Таким образом в состояние «0» последовательно устанавливаются все ячейки второго столбца, и в состояние «1» — все ячейки третьего столбца, При этом должно соблюдаться условие, что суммарное время задержки т ячеек одного столбца должно быть меньше интервала времени между тактовыми импульсами. В установившемся режиме ячейки первого столбца постоянно находятся в состоянии «1». После первого импульса все ячейки четных столбцов устанавливаются в состояние «1», а ячейки нечетных столбцов, кроме первого,— в состояние «0». После второго импульса все ячейки четных столбцов устанавливаются в состояние «0», а ячейки нечетных столбцов— в состояние «1».

При считывании «1» с ячеек и-ного столбца и m-ной строки на входы соответствующих блоков контроля поступают импульсы с тактовой частотой, и блоки индикации при этом указызают на отсутствие неисправности.

При отказе одной из ячеек, например ячейки 2, не подаются импульсы на вход записи ячейки 6 и на вход считывания ячейки 8, при этом первый тактовый импульс не устанавливает в состояние «1» ячейки б, 7 и 8 третьего столбца, следующий тактовый импульс не устанавливает в состояние «1» ячейки 10, 11 и 12 третьего столбца и так далее до ячеек 14, 15 и 16. Таким образом, при отказе ячейки 2 прекращается подача импульсов тактовой частоты на входы блоков 28, 25, 27, 29, 81, 33, 35 контроля, и соответствующие блоки 24, 26, 28, 80, 82, 34, 86 индикации устанавливают наличие отказа, причем можно определить адрес отказавшей ячейки. Например, если блоки 26, 28, 34, 36 указывают на отсутствие импульсов на входах блоков 25, 27, 88, 35, то значит произошел отказ ячейки 11. После замены отказавшей ячейки испытания можно продолжить.

При использовании в качестве блоков контра IH динамических триггеров можно зафиксировать не только постоянный отказ ячеек, но и отсутствие на выходе любой ячейки хотя бы одного импульса (сбой ячейки), причем возможно определить адрес ячейки, у которой произошел сбой.

Предмет изобретения

Устройство для испытания феррит-транзисторных ячеек, содер>кащее генератор тактовых импульсов, блоки контроля и индикации, отличающееся тем, что, с целью упрощения процесса испытаний, выход каждой испытуемой ячейки соединен со входам записи соседней ячейки следующего столбца и со входом считывания следующей ячейки этого же столбца, обмотки записи всех ячеек первого столбца соединены последовательно и подключены к источнику подмагничивающего тока, обмотки считывания первых ячеек нечетных столбцов присоединены к первому выходу генератора тактовых импульсов, обмотки считывания первых ячеек четных столбцов подключены ко второму выходу того же генератора, а к выходам каждой последней ячейки всех столбцов и всех ячеек последнего столбца подключен блок контроля.

305564

Составите.ть Г. Челей

Редактор T. В. Иванова Техред Т. П. Курилко Корректор T. А. Джаманкулоьа

Заказ 1967/7 Изд. № 852 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Устройство для испытания феррит-транзисторных ячеек Устройство для испытания феррит-транзисторных ячеек Устройство для испытания феррит-транзисторных ячеек 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх