Способ подготовки образцов

 

О П И С А Н И Е 346650

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социал истипеских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. G Oln 21/46

Заявлено 08.Ч1.1970 (¹ 1448362/29-33) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 28.VI1.1972. Бюллетень № 23

Дата опубликования описания 12.Х.1972

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 666,1,001.5(088.8) Автор изобретения

Д. Ф. Ронис

Заявитель

СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦОВ

Изобретение относится к способу подготовки образцов для корректировки состава стекла в процессе варки путем отбора пробы стекломассы из печи и извлечения стекла.

Известные способы не обеспечивают высокой однородности стекломассы.

Предлагаемый способ позволит повысить однородность стекла.

Достигается это тем, что готовят два контрольных стекла из одной плавки того же состава, что и испытуемое, одно из KQHTpoJIbHblx стекол подвергают обжигу вместе с испытуемым, после чего склеивают два контрольных и испытуемое стекла и готовят призму с углом преломления 38 — 42 .

Образец готовят для определения показателя преломления стекол безиммерсионным экспресс-методом. Варка оптического стекла часто сопровождается корректировкой состава, для чего необходимо иметь возможность быстро определять показатель преломления.

Наиболее удобный метод Обреимова не всегда может быть использован из-за отсутствия иммерсионной жидкости с высоким показателем преломления. Другие методы требуют образцов, прошедших тонкий отжиг, для которого необходимо много времени.

В предлагаемом методе используют образец в виде составной призмы, состоящей из испытуемого стекла И, контрольного стекла

К1 и контрольного стекла Кз.

Стекло К1 предварительно подвергается стандартному отж гу, а стекла К. и И проходят одинаковую тепловую обработку, Сущность предлагаемого метода заключается в измерении Ли1 и +122 в составной призме, тогда приведенный показатель преломления п,р к стандартному режиму определяет"ч из уравнения:

IE = й„+ 612 - - Л т„ (1) где Ли, — разность показателей преломления между стеклами К1 и К, Лтт — разность показателей преломления между стеклами К, и И, 15 и„ вЂ” показатель преломления стекла Кь

Во время варки стекла профильным пробником отбирается проба, из которой без предварительного отжига выкалывается необходимып ооразец.

20 В предварительно разогретый электромуфель помещается испытуемое стекло И и контрольное стекло К2, которые разогреваются до температуры 100 С, после непродолжительной выдержки охлаждается до темпера25 туры отжига минус 100 C со скоростью около

30 град/лтин.

При таком режиме наблюдаемые спектральные линии имеют достаточную четкость.

Продолжительность термообработки около

30 18 мин, После термообработки стекла И, Кз и К| склеиваются и изготавливается призма

346650

Предмет изобретения

1 1 (т) 2

sin —

2 где к=- Г

П находят по граф ку.

Составитель Н. Магазаник

Текред T. Ускова

Редактор Э. Шибаева

Корректор О. Тюрина

Заказ 2889/11 Изд. г е 1239 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Я-35, Раушская наб., д. 4,5

Типография, пр. Сапунова, 2 для гониометра с преломляющим углом

0=40 -2, с точностью рабочих поверхностей до 0,5 полосы.

Разности показателей преломления Лп, и

АП2 определяются по формуле: где Ла — угловое расстояние между -двумя близкими спектральными линиями, выражается в радиальной мере, и — показатель преломления стекла Кi, Π— преломляющий угол.

Для упрощения расчета строят график для 0=401-2, тогда расчетная формула принимает вид:

П„= П + (а - а,) К... (3) Угловое расстояние Ли и Лаз между двумч близкими спектральными линиями, принадлежащими соответственно стеклам Кг — К2 и

К вЂ” О измеряется на двухсекундном гониометре в положении наименьшего отклонения луча. Преломляющий угол О определяется обычным угломером с точностью до 2. Измерение и расчет длится около 8 мин.

Точность измерения составляет 1-1.10 4.

Определение приведенного показателя к стандартному режиму занимает 1 час 20 мин.

Способ подготовки образцов для корректировки состава стекла в процессе варки путем отбора пробы стекломассы из печи и извлечение стекла, отличающийся тем, что, с целью повышения однородности стекла, готовят два контрольных образца стекла из одной плавки того же состава, что и испытуемое, одни из контрольных образцов подвергают обжигу одновременно с испытуемым, после чего склеивают два контрольные и испытуемый образцы стекла и готовят призму с углом преломления 38 — 42 .

Способ подготовки образцов Способ подготовки образцов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх