Способ определения качества поверхности
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
М, Е,л. С 01b 11/30
Заявлено 07.Х.1969 (№ 1371770;25-28) с присоединением заявки ¹
Приоритет
Опубликовано 04.1Х.1972. Бюллетень ¹ 26
Дата опубликования описания 18.IX.1972
Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров
СССР
УДК 531.715.2(088.8) Я
ЯШМЕ-вГЖЯ.. ".5i; ваюа вм. (!
Автор изобретения
О. С. Грум-Гржимайло
Государственный научно-исследовательский институт строительной керамики
Заявитель
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ
Изобретение относится к технике определения качества поверхности глазурованных изделий, применяемой в керамической промышленности.
Известен способ определения качества поверхности изделий с применением оптического микроскопа, заключающийся в том, что направляют на изделие наклонный пучок света и ведут наблюдение за качеством поверхносг?! по микроскопу, оптическая ось которого перпендикулярна плоскости изделия.
Однако известный способ не позволяет производить контроль качества глазурованных изделий.
Для возможности опреде.пения качества поверхности глазурованных изделий по предлагаемому способу определения качества поверхности устанавливают изделие наклонно к оптической оси микроскопа так, чтобы обеспечивалось равенство углов падения света на изделие и отражение от него.
На чертеже,изобра>кено устройство, содержащее микроскоп МБС-1 и федоровский столик, которое может быть использовано для осуществления предлагаемого способа.
Предлагаемый способ осуществлпот следующим образом.
Федоровский столик 1 располагают так, ггобы его ось 2 не совпадала с оптической осью
;? микроскопа. Эксцеитриситет может имеIb л!обое значение в интервале от 1 до 2 с.!!. Направление смещения также может быть любым. Лимб 4 столика находится слева, если смотреть на микроскоп спереди. Ось 5 внут1эеннего кольца !? до. !жна ле?кать В плоскости, параллельной плоскости симметрии микроскопа, Осветитель 7 устанавливают в плоскости симметрии х!и! роскопа. Ок) IIII)ll) Io !!ясядк)
1О 8 располагают так, чтобы окуляры 9 были направлены в сторону штап!ва 10. Исследуемый образец 11 приклеивают кусочком пластилина к круглому стеклу, которое вкладывают во внутреннее кольцо 6 столика. Наб.пюдение ве15 дут чoрез Окуляр. В случае необходимости фотографирования иа окуляр надевают фотограс!>и !ескylo пася II . П1?ик. loив об1?азец K cTCKлу, вводят обьектив, наколияют образец с Iioмощью столика (!:! 20".) и иро !з!годят грубую
20 наводку иа резкость. В поле зрения при этом должна быть видна блестящая поверхность образца и яркий световой зайчик в середине.
Далее включают объектив, дающий большое увеличение, наводят иа резкость и производяг
25 наблюдение или фотографирование. При количественных подсчетах используют сетку, име-!
Ощу)ося В к01!плскте ITIC-1. Сетку приклеивают к образцу кусочком пластилина. Использование сетки избавляет от необходимости
3Q вводить поправку за счет наклона образца.
349887
Предмет изобретения
20
Составитель Лобзова! зсдактор В. Новоселова
Корректор А. Васильева
Текред Л. Куклина
Заказ 3007,!4 !4зд. № !242 Тираж 406 Подписное
Е!!(!!!!!)И Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Моск а, 7К-35, Раушская наб., д. 4j5
Типография, пр. Сапунова, 2 ври необходимости просмотра соседних участков образца его либо отклеивают и передвигают, либо вращают вместе с круглым столом.
Предлагаемый способ основан на принципе приема в оптической системе зеркально отраженных лучей от ровных участков и диффузно отраженных от неровностей. Прп зеркальном отражении в объектив попадает IIO.-I! I столько же света, сколько и подается. Прп диффузном отражении в объектив попадает только очень небольшая часть света, а именно те лучи, которые отразились по направлению оптической оси микроскопа. Вследствие этого участки, отражающие свет зеркально, выглядят в поле зрения микроскопа светлыми, а неровности темными, ITo и создает картину, позволяющую судить о количестве неровностей, их форме в плане, характере расположения и размерах причем размеры могут быть определенызтолько в плане. Имея данные о форме, размерах ц характере располо>кения неровностей MoNHQ расшифровать пх проиохождение..
-При -иснользоваьки предлагаемого способа можно производить быстрое сравнение поверхности исследуемого образца с поверхностью образца, выбранного в качестве эталона.
Операция сравнения с эталоном оказывается весьма эффективной при необходимости проведения массовых исследований. Прибегая к операции сравнения с эталоном, можно за короткий промежуток времени отобрать наиболее характерные образцы, проследить изменения, происходящие на поверхности глазури серии образцов, полученных в условиях различной газовой среды, или температуры, установить влияние различных добавок в глазури и т. п.
Способ определения качества поверхности изделий с применением оптического микроскопа, заключающийся в том, что направляют на изделие наклонный пучок света и ведут наблюде)гие за качеством поверхности, отличаю цийсл тем, что, с целью возможности определения качества поверхности глазурованных
10 изделий, устанавливают изделие наклонно к оптической осп микроскопа так, чтобы обеспечивалось равенство углов падения света на изделие и отражения от него.
