Способ контроля отступлений поверхности глубоких отверстий от прямолинейности

 

(.

0 и Мм :c::::::À Åè E

ИЗОБРЕТЕНИЯ

3I2I39

Сома Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

МПК G 01b 11/30

Заявлено 18.Ч11.1969 (№ 1349850 25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Комитет по делам иаобретекий и открытий при Совете Мииистеое

СССР

УДК 531.715(088.8) Опубликовано 19 Ч111.1971. Бюллетень № 25

Дата опубликования описания 22.Х.1971

Авторы изобретения

А. T. Коваленко и Б. К. Кретов

Заявитель

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОТСТУПЛЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ ГЛУБОКИХ

ОТВЕРСТИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ

Предмет изобретения

Предлагаемый способ предназначен для использования в металлообрабатывающей промышленности при сверлении глубоких отверстий.

Известен способ контроля отступлений поверхности глубоких отверстий от прямолинейности, заключающийся в том, что устанавливают в контролируемое отверстие отражающую систему, направляют луч оптического квантового генератора на отражающую поверхность и фиксируют смещение отраженного луча, по которому судят об отступлении поверхности от прямолинейности.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что для осуществления контроля в процессе выполнения отверстия отражающую систему располагают непосредственно в инструменте, например сверле.

На фиг. 1 изображено устройство, позволяющее осуществить описываемый способ; на фиг. 2 — узел 1 в увеличенном масштабе.

Устройство содержит: сверло с рабочей частью 1, хвостовиком 2 и продольным каналом 8; отражающую систему в виде блоков

4 и 5; оптический квантовый генератор б, направляющий луч 7 на отражающую поверхность обрабатываемой детали 8; сферическую шкалу 9.

При падении луча, имеющего малый диаметр, например 0,01 мм, на первый отражающий блок 4 возможны два случая (фиг. 2): первый, когда геометрическая ось рабочей части сверла совпадает с лучом, и второй, когда произошло отклонение и оси не совпадают. В первом случае луч, падая в точку Q первого отражающего блока 4, представляющего собой две конические поверхности, расщепляется во все стороны равномерно в виде кольца, проекция которого на плоскость чертежа обозначена линией NN . Далее луч по образующим NL и А"L цилиндра с основанием NN попадает на второй отражающий блок 5 в виде конуса, от него — на шкалу в виде кольца, проекция которого в плоскости чертежа обозначена линией Q Q"

При отклонении геометрической оси инструмента на величину 6 от луча последний падает в точки А и В первого отражающего блока, далее в точку А и от нее на сферическую шкалу, образуя на ней светящуюся зону А", по величине и положению которой судят о величине и направлении отклонения. Возможны и другие варианты устройства для осуществления предлагаемого способа.

Способ контроля отступлений поверхности глубоких отверстий от прямолинейности, за30 ключающийся в том, что устанавливают в

312139

Составитель Jll. Лобзова

Редактор Л. Жаворонкова Техред Е. Борисова Корректор 3. И. Тарасова

Заказ 2943/10 Изд. № 1212 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 контролируемое отверстие отражающую систему, направляют луч оптического квантового генератора на отражающую поверхность и фиксируют смещение отраженного луча, по которому судят об отступлении поверхности

От ПРЯМОЛИНЕ11НОСТИ> ОТЛИ LLLCOLLCLLLCC;, TPM, гIТО, с целью осуществления контроля в процессе выполнения отверстия, располагают отражающую систему непосредственно в инструменте, 5 например сверле.

Способ контроля отступлений поверхности глубоких отверстий от прямолинейности Способ контроля отступлений поверхности глубоких отверстий от прямолинейности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх