Способ опроса параметров

 

Т

;,.ч « .К dA Х;-.. биоп с "-""

ОПИ АНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОР СИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. сгьдетельства ¹

М. Кл. G 06f 15/36

Заявлено 18.I I.1971 (№ 1629595f29-33) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 05ХИ.1973. Бюллетень № 29

Дата опубликования описания 22.X.1973

Государствеииый комитет

Совета Министров СССР по делам иеооретекий и открытий

УДК 681.14 (088.8) APTOpLI изобретения

А. П. Долотов и В. А. Сорскии

Заявитель

СПОСОБ ОПРОСА ПАРАМЕТРОВ

Изобретение относится к области автоматизации производства электровакуумного стекла с применением управляющих вычислительных машин.

В автоматизированных системах управления производством с применением управляющих вычислительных машин приходится иметь дело с аналоговыми датчиками, установленными на технологическом оборудовании, которое является источником электромагнитных помех.

При опросе параметров информация поступает в УВМ в искаженном виде из-за помех, создаваемых технологическим оборудованием.

В случае помех, для определения истинного значения измеряемого параметра, известен метод накопления и обработки полученных значений замеряемого параметра.

Однако такой метод оказывается недостаточно эффективным, если сигнал помехи имеет резко несимметричный характер, т. е. некоторые из замеров имеют большое отклонение, причем одностороннего характера.

Цель изобретения — повышение достоверности получаемой информации и устранение случайных помех.

Это достигается тем, что выделяют минимальное и максимальное значения из ряда значений опрошенного параметра, диапазон между максимальным и .минимальным полученными значениями опрошенных параметров разбивают на интервалы, полученные значения относят к соответствующим интервалам и для определения истинного значения пара5 метра производят усреднение величин замеров в том интервале, где оказалось максимальное число замеров.

Способ осуществляют следующим образом.

Сначала производится последовательный

10 многократный опрос одного параметра. Затем из нескольких значений опрошенного параметра выбирают минимальное и максимальное значения, после чего разбивают дна назон между максимальным и минимальным

15 значениями опрошенного параметра на интервалы, причем величина интервала задается, исходя из требуемой точности опроса параметров.

Полученные з ачения опрошенных парамет20 ров относят к соответствующим интервалам и выбирают тот интервал, в котором оказалось наибольшее количество замеров. Далее для определения истинного значения опрошенного параметра производят усреднение величин за25 меров в выбранном интервале по любым известным формулам.

Предмет изобретения

Способ опроса параметров при централизоЗ0 ванном контроле объектов электровакуумного

3S9508

Составитель В. Алекперов

Редактор Г. Кузьмина Текред Т. Миронова Корректоры: Е. Давыдкина и В. Петрова

Заказ 28!3/15 Изд. № 803 Тираж 647 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 производства, основанный на замере значений параметров и обработке полученных результатов, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности получаемой информации и устранения случайных помех, выделяют минимальное и максимальное значения из ряда значений опрошенного параметра, диапазон между минимальным и. максималыным значения|ми разбивают на, интер валы, полученные зн ачения относят к соответствующим интервалам и,для определе ния истинного значения параметра производят усреднение величин замеров в TQIM интервале, где оказалось,максималыное число замеров.