Многоканальный дифрактометр

 

011 50230О

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

° К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических, Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву 458747 (22) Заявлено 07.08.74 (21) 2049864/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 05.02.76. Бюллетень № 5

Дата опубликования описания 22.04.76 (51) М. Кл е 6 01N 23/207

Государственнь и комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.386(088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

А. В. Миренский, Н. К. Бухардинов и Д. М, Хейкер

Специальное конструкторское бюро института кристаллографии

AH СССР (54) МНОГОКАНАЛЬНЫЙ ДИФРАКТОМЕТР

1Io основному авт. св. № 458747 известен многоканальный дифрактометр, содержащий источник излучения, гониометр, блок детекторов излучения. Расстояние между одномерными детекторами, перемещающимися по направляющему валу, устанавливается с помощью винтовой пары, а затем весь двумерный детектор ориентируется относительно рентгеновского пучка.

Недостатком известного многоканального дифрактометра является сложность прецизионной установки секций на близких расстояниях друг относительно друга и невозможность их сближения до полного прилегания, что очень важно при исследовании кристаллов с большими периодами решетки.

Цель изобретения — создание многоканального дифрактометра со средствами прецизионной независимой установки одномерных детекторов вдоль главной оси, вплоть до их прилегания друг к другу, и повышение его производительности.

Поставленная цель достигается благодаря тому, что механизм изменения расстояния между одномерными детекторами выполнен в виде набора телескопических втулок, установленных с возможностью перемещения их параллельно главной оси дифрактометра по центральной направляющей втулке и друг относительно друга, к каждой из которых прикреплен одномерный детектор. Телескопические втулки соединены с тягами, размещенными внутри центрального направляющего стержня и управляющими перемещением одномерных детекторов с помощью ходовых пар винт-гайка ручного или автоматического привода.

Такое конструктивное выполнение позволит производить установку одномерных де10 текторов относительно координатной плоскости и друг друга с точностью +. 0,05 мм в независимые заданные для каждой секции положения, вплоть до полного прилегания секций друг к другу.

15 На фиг. 1 схематически показан предложенный многоканальный дифрактометр; на фиг. 2 — то же, разрез по центральной напр авляющей втулке.

Дифрактометр состоит из рентгеновской

20 трубки 1, гониометра 2, привода вращения 3 исследуемого образца, детектора излучения, состоящего из одномерных детекторов 4 7, электронных устройств измерения интенсивности излучения 8, механизма 9 изменения

25 расстояний между одномерными детекторами, содержащего телескопические втулки 10 — 13 с рычагами 14 — 17, установленные на центральной направляющей втулке 18, и вспомогательный направляющий стержень 19. Тя30 ги приводов 20, 21 (две другие не показаны), размещены внутри центральной втулки и соединены через винтовые пары 22 и 23 (две другие не показаны) с индивидуальными приводами 24, 25.

Дифрактометр работает следующим образом.

Исследуемый образец устанавливается на валу привода его вращения 3. Одна из его кристаллографических плоскостей выводится в направление главной оси дифрактомегра.

Верхняя платформа гониометра 2 с приводом вращения 3 образца, одномерными детекторами 4 — 7 и механизмом 9 изменения расстояния между детекторами устанавливается на угол р, плоскости «плоского конуса», симметрично которой расположена группа плоскостей, подлежащих съемке.

Расстояние между одномерными детекторами 4 — 7 и положения их относительно нулевой плоскости рассчитываются из параметров элементарной ячейки исследуемого кристалла и номера регистрируемой плоскости.

Независимая прецизионная установка детекторов в расчетные положения производится вращением ручек-лимбов (при ручной установке) соответствующих индивидуальных приводов 24, 25. При этом вращение через зубчатую передачу передается шестерне-гайке винтовой пары 22 или 23 (две другие не показаны) и благодаря наличию на концах тяг 20 и 21 винтовой нарезки обеспечивается линейное перемещение тяг внутри центральной направляющей втулки.

Каждая тяга 20, 21 другим концом через продольные прорези в центральной втулке сое502300

4 динена с соответствующей телескопической втулкой 10 — 13 (а следовательно, и одномерным детектором) и сообщает им линейные перемещения по направляющей втулке.

5 Для устранения поворота телескопические втулки 10 — 13 снабжены соответственно рычагами 14 — 17. Каждый рычаг имеет на конце два шарикоподшипника, охватывающих вспомогательный направляющий стержень 19, 10 Точность установки детекторов отсчитывается по лимбу, нанесенному на ручках приводов. После указанных операций включается привод вращения 3 исследуемого кристалла.

Регистрация интенсивностей отражений ве15 дется в каждом точечном элементе двумерного детектора (либо в заданном угловом интервале или за заданное время) и вместе со значениями углов Ла кристалла передается в вычислительную машину (ЭВМ) для обработ20 ки и выдачи информации о структуре исследуемого кристалла в необходимой форме.

Формула изобретения

Многоканальный дифрактометр по авт.

25 св. Хо 458747, отличающийся тем, что, с целью упрощения прецизионной установки одномерных детекторов, последние прикреплены к телескопическим втулкам, установленным по центральной направляющей втулке с про30 дольными прорезями, через которые телескопические втулки соединены с тягами, управляющими перемещениями одномерных детекторов, например, с помощью ходовых пар винт-гайка ручного или автоматического при35 вода.

502300

Составитель К. Кононов

Техред 3. Тараненко

Корректор А. Дзесова

Редактор Т. Орловская

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 736/17 Изд. № 247 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Я-35, Раушская наб., д. 4/5

Многоканальный дифрактометр Многоканальный дифрактометр Многоканальный дифрактометр Многоканальный дифрактометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу поликристаллов, а именно к определению одной из характеристик первичной рекристаллизации в сплавах - критической степени пластической деформации - рентгеноструктурным методом

Изобретение относится к физическому материаловедению, а конкретно к технике рентгеноструктурного контроля кристаллогеометрических параметров большеугловых границ зерен, описываемых тетрагональными решетками совпадающих узлов (РСУ), в поликристаллических материалах с любым размером зерна

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области металлургии и может быть использовано для изготовления емкостей сжиженных газов, низкотемпературного и криогенного оборудования, установок для получения сжиженных газов, оболочек ракет и емкостей для хранения ракетного топлива из стали 01Х18Н9Т

Изобретение относится к области рентгенографических способов исследования тонкой структуры и может быть использовано для неразрушающего контроля внутренних напряжений с целью выявления признаков опасности развития хрупкого разрушения металлических деталей и изделий
Наверх