Средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности (G01N23/207)

Отслеживание патентов класса G01N23/207
G   Физика(400577)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01N     Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D1;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N11; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание (85240)
G01N23        Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N21 или G01N22, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (G01N3-G01N17 имеют преимущество; измерение силы вообще G01L1; измерение ядерного или рентгеновского излучения G01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H05G) (2752)
G01N23/207                     Средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности ( G01N23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G01T1/36)(121)

Способ рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах // 2649031
Использование: для рентгенофазового анализа нанофаз в алюминиевых сплавах. Сущность изобретения заключается в том, что из алюминиевого сплава изготавливают испытуемую фольгу, которую подвергают рентгеновскому излучению, и регистрируют рентгенограмму, по которой идентифицируют и количественно определяют содержащиеся в испытуемой фольге нанофазы, при этом регистрацию рентгенограммы проводят в режиме на просвет с использованием параллельного пучка, по которой определяют пики нанофаз и по ним идентифицируют и количественно определяют содержащиеся в испытуемой фольге нанофазы с объемной долей менее 1%.

Способ определения происхождения пищевого этанола // 2619261
Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано для определения происхождения пищевого этилового спирта.

Способ неразрушающего контроля термодеформационной обработки полуфабрикатов из двухфазных титановых сплавов на перегрев методом рентгеноструктурного анализа // 2614023
Использование: для неразрушающего контроля термодеформационной обработки полуфабрикатов из двухфазных титановых сплавов на перегрев.

Устройство для определения компонентного состава потока многофазной жидкости // 2559119
Использование: для определения компонентного состава потока многофазной жидкости. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для определения компонентного состава потока многофазной жидкости содержит источник рентгеновского излучения и детектор, установленные по разные стороны трубы, по которой протекает поток многофазной жидкости, датчик для измерения давления, подключенный к трубе, датчик контроля и стабилизации интенсивности рентгеновского луча, источник рентгеновского излучения и волнодисперсионный спектрометр закреплены на одной оси, перпендикулярной оси симметрии трубы так, чтобы излучение от источника рентгеновского излучения к волнодисперсионному спектрометру проходило через окна, врезанные в трубу, причем в корпусе волнодисперсионного спектрометра расположен кристаллический монохроматор-анализатор, установленный под углом к лучу от источника рентгеновского излучения так, чтобы выполнялось условие Брэгга для линии излучения из спектра источника рентгеновского излучения, за кристаллическим монохроматором-анализатором по направлению распространения дифрагированного луча установлен сцинтилляционный счетчик ионизирующего излучения, а датчик контроля и стабилизации интенсивности рентгеновского излучения установлен за кристаллическим монохроматором-анализатором на одной оси с источником рентгеновского излучения.

Устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности // 2524792
Изобретение относится к использованию мягкого рентгеновского излучения для исследования сверхгладких оптических поверхностей и многослойных элементов, в частности для аттестации оптических элементов дифракционного качества.

Способ определения зарядового состояния атомов в субнанослойных пленках на поверхности металлов и полупроводников // 2509299
Использование: для определения зарядового состояния атомов в субнанослойных пленках на поверхности металлов и полупроводников.

Способ и устройство для выполнения рентгеновского анализа образца // 2506570
Использование: для выполнения рентгеновского анализа образца. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют облучение образца рентгеновскими лучами из полихромного источника рентгеновского излучения; используют комбинированное приспособление для регистрации XRD и XRF, содержащее сканирующий селектор длины волны и по меньшей мере один детектор рентгеновского излучения, предназначенный для регистрации рентгеновских лучей, выбранных селектором длины волны; и выполняют XRD-анализ образца путем выбора по меньшей мере одной фиксированной длины волны рентгеновских лучей, дифрагированных образцом, с использованием сканирующего селектора длины волны и регистрации рентгеновских лучей с выбранной фиксированной длиной волны (длинами волн) на одном или нескольких значениях угла φ дифракции на образце с использованием детектора (детекторов) рентгеновского излучения; и/или выполняют XRF-анализ образца путем сканирования длин волн рентгеновских лучей, испускаемых образцом, с использованием сканирующего селектора длины волны и регистрации рентгеновских лучей со сканированными длинами волн с использованием детектора (детекторов) рентгеновского излучения.

Способ количественного определения фазового состава портландцементных клинкеров // 2461817
Изобретение относится к области строительства, в частности к цементной промышленности, и может быть использовано для контроля фазового состава, определяющего качество широко используемых портландцементных материалов.

Способ определения локальной концентрации остаточных микронапряжений в металлах и сплавах // 2390763
Изобретение относится к области рентгенографических способов исследования тонкой структуры и может быть использовано для неразрушающего контроля внутренних напряжений с целью выявления признаков опасности развития хрупкого разрушения металлических деталей и изделий.

Лист из стали 01х18н9т // 2356992
Изобретение относится к области металлургии и может быть использовано для изготовления емкостей сжиженных газов, низкотемпературного и криогенного оборудования, установок для получения сжиженных газов, оболочек ракет и емкостей для хранения ракетного топлива из стали 01Х18Н9Т.

Рентгеновский измерительно-испытательный комплекс // 2208227
Изобретение относится к измерительной технике. .

Способ рентгеноструктурного анализа // 2142623
Изобретение относится к физическому материаловедению, а конкретно к технике рентгеноструктурного контроля кристаллогеометрических параметров большеугловых границ зерен, описываемых тетрагональными решетками совпадающих узлов (РСУ), в поликристаллических материалах с любым размером зерна.

Способ определения критической степени пластической деформации в металлических сплавах // 2133027
Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу поликристаллов, а именно к определению одной из характеристик первичной рекристаллизации в сплавах - критической степени пластической деформации - рентгеноструктурным методом.

Рентгеновский дифрактометр // 1599733
Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для анализа кристаллических веществ. .

Способ определения структурных искажений приповерхностных слоев монокристаллов // 1583809
Изобретение относится к рентгенодифракционному анализу приповерхностных слоев монокристаллов и может быть использовано для анализа воздействий на образец различных технологических процессов.

Рентгеновский дифрактометр // 1583808
Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа твердых тел пентинодифракционными методами. .

Способ рентгеновского дифрактометрического анализа текстуры // 1511653
Изобретение относится к способам рентгеноструктурного анализа объектов с неоднородной текстурой. .

Рентгеновский дифрактометр // 1427263
Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрии. .

Высоковакуумный монохроматор для синхротронного излучения в ультрамягкой рентгеновской области спектра // 1402875
Изобретение относится к технике точного спектрального приборостроения . .

Установка для дифрактометрического исследования реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения // 1334924
Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для исследования монокристаллов. .

Способ определения характеристик деформируемости металла // 1273780
Изобретение относится к области металловедения и физики металлов, в частности к определению характеристик деформируемости металлов.
 
.
Наверх