Устройство для измерения постоянной времени коллекторной цепи транзистора

 

"1 ()502344

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Ресоубдии (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 09.09.74 (21) 2058953.26-21 (51) М. К a. б 01 R 31/26 с присоединением заявки М— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.02.76. Бюллетень ¹ 5 (45) Дата опубликования описания 23.06.7б

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382.33 (088.8) (72) Автор изобретения

Н. С. Григорьев (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ПОСТОЯННОЙ BPEMEHИ

КОЛЛЕКТОРНОЙ ЦЕПИ ТРАНЗИСТОРА

Известны устройства для измерения постоянной времени коллекторной цепи транзистора, содержащие генератор высокой частоты, усилитель высокой частоты, детектор, усилитель постоянного тока и отсчетный прибор.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

Предлагаемое устройство снабжено двумя аттенюаторами и ключевым элементом, управляемым отсчетным прйбором, выполненным в виде цифрового измерителя отношения.

При этом один из аттенюаторов включают между генератором высокой частоты и .коллектором исследуемого транзистора, другой— между коллектором и одним из входов ключевого элемента, другой вход которого соединяют с эмиттером исследуемого транзистора, а выход — со входом усилитсля высокой частоты.

Схема устройства показана на чертеже.

Устройство содержит генератор высокой частоты 1, аттенюаторы 2, 8, ключевой элемент 4, усилитель высокой частоты 5, детектор 6, усилитель постоянного тока 7, отсчетный прибор 8, выполненный в виде цифрового измерителя отношений. Аттенюаторы 2, 8 предназначены для приведения нескольких диапазонов измерения постоянной времени (в рассматриваемом случае четыре диапазона) к одному диапазону напряжений на входе усилителя высокой частоты 5 с целью снижения его дпнампчсского диапазона.

Работает устройство следующим образом.

Генератор высокой частоты 1 вырабатывает сигнал требуемой частоты измерения, который через аттенюатор 2 поступает»а .коллектор испытуемого транзистора 9. К:ночевой элемент 4 управляется отсчетным прибором 8 таким образом, что ко входу усилителя высокой частоты 5 попеременно подклюгпются эмиттер, и через аттенюатор 3— коллектор испытуемого транзистора. В соответствии с этим íà вход усилительного тракта попеременно подаются напряжения высокой частоты, эмиTTc ðà U и коллектора U

Каждо" пз этих напряжений попеременно проходит через усилитель высокой частоты 5, в детекторе из высокочастотного сигнала выделяется постоянная составляющая, которая проходит через усилитель постоянного тока.

Постоянные напряжения U, и U,. подаются на отсчетный прибор 8, который регистрирует их отношение, представляющее собой коэффициент обратной передачи напряжения от коллектора и эмиттеру испытуемого транзистора в режиме холостого хода эмиттсрной цепи. Как известно, это отношение пропорционально постоянной времени коллекторной цепи транзистора, т. е. 7э т

Формула изобретения

Составитель А. Изюмов

Редактор В. Полещук Техред М. Семенов Корректор И. Симкина

Заказ 570/825 Изд. М 295 Тираж 830 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-З5, Раушскаи наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент»

Режим холостого хода эмиттерной цепи испытуемого транзистора обеспечивается высоким входным сопротивлением ключевого элемента, что является необходимым условием для измерения параметра т,. Таким образом, данное устройство измеряет не абсолютное значение эмиттер ного напряжения при калиброванном коллекторном напряжении, как в известном устройстве, а отношение этих напряжений, равное коэффициенту обратной передачи, пропорциональное тк.

При этом точность измерений значительно повышается вследствие того, что нестабильность усилительного тракта и генератора меньше, сказывается на их результатах. Это объясняется тем, что нестабильность в равной степени отражается на составляющих измеряемого отношения, а величина отношения постоянна. В предложенном устрочстве не требуется частая, калибровка измерительного тракта, так как исключена методическая погрешность от долговременной (от измерения к измерению) нестабильности узлов.

Это позволяет значительно ускорить измерения. Узлы измерителя некритичны к выполнению, Применение цифрового измерителя отношений в качестве отсчетного прибора позволяет автоматизировать измерение параметра.

l0 Устройство для измерения постоянной времени коллекторной цепи транзистора, содержащее генератор высокой частоты, последовательно соединенные усилитель высокой частоты, детектор, усилитель постоянного то15 еа и отсчетный прибор, отл и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено двумя аттенюаторами и ключевым элементом, упр авляемым отсчетным прибором, выполненным в виде цифрового измери20 теля отношения, при этом один из аттенюаторов включают, между генератором высокой частоты и коллектором испытуемого транзистора, другой — между коллектором и одним из входов ключевого элемента, другой вход которого соединяют с эмиттером испытуемого транзистора, а выход — со входом усилителя высокой частоты.

Устройство для измерения постоянной времени коллекторной цепи транзистора Устройство для измерения постоянной времени коллекторной цепи транзистора 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх