Способ измерения контактной разности потенциалов в прямоканальных электронных приборах

 

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 5348 О 6

{61) Дополнительное к авт. свид-ву

Ф (22) Заявлено26.05.75 (21),2137695/25 (51) М. Кл.а

Н 01 Ю 9/42 с присоединением заявки №(23) Приоритет (43) Опубликовано 05.1)..76,Áþëëeòåÿb № 4.1 (45) Дата опубликования описания 24,02.77

Гааудаастванный комитат

Сааата Миниатраа СССР па далам изааратаний н атирытий (53) УДК 621.а82,088.Е) (72} Авторы изобретения

B. В. Красильников (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ KOHTAK HÎÉ РАЗНОСТИ

ПОТЕНЦИАЛОВ В ПРЯМОНАКАЛЬНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ

Изобретение относится к электронной тех1 нике, может быть использовано для анализа

;электронных приборов и для технического контроля при массовом их производстве.

Известны способы измерения контактной 5 разности потенциалов электронных ламп про» пусканием тока насьпцения при пониженном ианряжении накала flJ.

Недостатки известных способов - низкая точность и сложность процесса измерения. 1п

Объясняется это необходимостью измерения контактной разности потенциалов в глубоком недокале и поддержания постоянной тем-пературы катода.

Известен способ измерения контактной разности потенциалов s прямонакальиых электронных приборах путем пропускания через прибор тока накала 12). Однако извест ный способ не обеспечивает высокой точ- 20 ности измерения.

Цель изобретения - повышение точности измерений — достигается тем, что согласно предлагаемому способу ток накала формируют в виде прямолинейных фронтов импуль»- 25 са тока эмиссии и IIo анодному напряжению

Ф I определяют контактную разность потенциа*лов, Появление прямолинейного заднего фрона а импульса тока эмиссии соответствует моменту компенсации контактной разности ! потенциалов анодным напряжением при от ,ключенном накале, так как при этом на экране осциллографа наблюдают участок. воо;ходящей ветви экспоненты (участок накаль ной характеристики). При нулевом потенциа ле между анодом и катодом ток эмиссии ке тода экспоненциальную зависимость от тем цературы, но изза малого тока эмиссии

:на начальном участке эксцоненты и мал..:. .:чувствительности осциллографа нелинейный участок экспоненты на экране осциллогра=

:фа не виден, а видна прямая восходящая, ветвь экспоненты. Момент компенсации ко 6.,тактной разности потенциалов отмечают по

:,заднему фронту импульса тока эмиссии, т.q, фри окончании импульса тока накала. Это ! исключает влияние падения напряжения нак4= ла по длине катода на измерение коитактнсй разности потенциалов. по возможности большим(при этом наблюдают на экране осциллографа всю область насыщения накальной характеристики}, т.е. при этом практически весь катод эмиттирует электроны, и, соответственно, контактная разность потенциапов определяется при этом между всей длиной катода и анода.

Способ измерения . контактной разности потенциалов в прамонакальных:электроннйх приборах путем пропускания через прибор токаиакала, отличающийся

TOM XTO C HGGbIO HOBbGHeHB5i To . K3 мерений, ток накала формируют в виде одиночных импульсов, уменьшают напряжение анода до получения прямолинейных фронтов импульса тока эмиссии и по анодному напри» жению определяют контактную разность по, тенциалов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Царев Б. N. Контактная разность потенциалов. М., 1955, стр. 107.

2. Авт.св. СССР ¹ 148155, кл.

Н 01 8 9/42, 1962.

534806

Сущность, предложенного способа измер ;

4ия контактной разности потенциалов в пра3. моканальных электронных j приборах заклюМет в следующем. Установив длительность мпульса тока накала- равной времени гото ости лампы или: немного1 бопьшей этого ремени, уменьшают амшлитуду напряжения кала, наблюдая за формой импульса тока эмисаии1 на экране осциллографа до тех по

1 ока иад вершиной импульса тока эмиссии ф

1не будет виден выброс с крутым передним

:фронтом, Такая форма импульса тока эмисicw соответствует участку насыщения на кальной характеристики, Попучая таким об». разом импульс тока эмиссии, подбирают теф 4 пературу катода для каждой лампы при измерении- контактной разности потенциалов.

Затем постепенно уменьшают напряжение на аноде лампы и наблюдают на экране оо. циллографа за импульсами тока эмиссии.

Как только передний и задний фронты импульса окажутся прямыми, отсчитывают анодное напряжение, скомпенсировавшее контактную разность потенциалов между катодом и ано дом.

Напряжение накала, соответствующее режиму насыщения, выбирают для каждой лампы так, чтобы импульс тока эмиссии был

Формула изобретения

Составитель В. Немцев

Редактор Б. Федотов Техред A. Богдан Корректор р,. Лакида

Заказ 5517/254 Тираж 963 Подписное

БНИИПИ Госудпрственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, уа. Проектная, 4