Вакуумный квантометр

 

-ч/ 4

Г. с(« i653529

Сеюз Сввеииив

4:ецмаамеючесижк

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6Ц Дополнительное к авт. свид-sy (22) Зайвлено 1105.77 (21) 2485552/18-25 с присоединением зайвкн № (01 7 3/02

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано250379. Бюллетень ¹ 11 (68) УМ 535 ° 8 (088.8) Дата опубликований описания 2503.79 (72) Авторы цаооретення О.И. Никитина, A.E. Горевая и И.С. Шарапов

Украинский научно-исследовательский институт металлов

1711 Яайвнтел

Ю (54) ВАКУУМНЫЙ КВАНТОМЕТР

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в металлургической и машиностроительной промышленности и может быть использовано для анализа металлических образцов различного сечения.

Известно устройство для спектрографического анализа. образцов твердого вещества (lj .

Недостатком этого устройства является то, что исследуемый образец должен иметь сечение больше, чем отверстие разрядной камеры.

Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому является вакуумный квантометр, содержащий разрядную камеру, расположенную под отверстием в столе с установленным

s Håé подставным электродом, и шток, закрепляющий исследуемый образец 12).

Однако этот прибор нельзя применять для анализа катаной стали со стороны поперечного сечения (швеллер, балка, уголок, лист), так как малые сечения этих профилей (меньше

20 мм) не перекрывают отверстие диаметром 20 мм в штоке штатива.

Целью изобретения является расширение аналитических возможностей вакуумного квантометра для анализа ме таллических образцов различного сечения.

Указанная цель достигается тем, что вакуумный квантометр содержит дополнительную съемную герметичную камеру, сообщающуюся с разрядной и установленную над отверстием в столе, в который вмонтирован пружинный токопровод, обеспечивающий электрический контакт для разряда между исследуемым образцом и подставным электродом.

На чертеже схематично изображен предлагаемый квантометр.

Он состоит из стола-штатива 1 с отверстием 2 диаметром 20 мм, под которым расположена разрядная камера

3, заполняемая защитным газом (аргоном), с помещенным в нее подставным электродом 4. Над отверстием установлена дополнительная сообщающаяся с разрядной, герметичная съемная камера 5, в крьааку 6 которой вмонтирован пружинный токопровод 7, выполненный, например, в виде металлической пластины. Токопровод 7 поджимает исследуемый образец 8, который устанавливают над отверстием 2. Сечение образца меньше отверстия в столе

6535?О

1, поэтому через отверстие свободно проходит защитный газ и заполняет камеру 5. Имеющийся в штативе фиксирующий шток 9 опускают до упора с крышкой камеры. При этом герметизируется камера 5 и через токопровод

7 в крышке б камеры замыкается электрическая цепь между штоком 9 и исследуемым образцом 8, обеспечивая при включении генератора возникновение разряда между образцом 8 и подставным электродом 4. Камера 5 выпол-10 нена из плексигласа, а в ее крышку вмонтированы металлические элементы для контакта со штоком 9. Крышка 6 может быть полностью выполнена из металла. 15

Анализ химического состава металла на предлагаемом устройстве проводят следующим образом.

Исследуемый образец 8 катаной стали, сечение профиля которого меньше отверстия 2, так как образец вырезан со стороны поперечного сечения профиля (швеллера), укладывают над отверстием. Над образцом и не перекрытым им отверстием устанавливают дополнительную съемную камеру 5, сообщающуюся с разрядной камерой 3 и свободно заполняемой аргоном за счет неперекрытого отверстия 2. Пружинным токопроводом 7, вйаянным изнутри в металлическую крышку. б дополнительной камеры 5, обеспечивают электрический контакт образца,8 со штоком 9. Опускают шток, имеющийся в штативе квантометра, на крышку 6 камеры 5 и, прижимая ее к столу-штативу 1, обеспечи- 35 вают герметизацию камеры и замыкание электрической цепи для протекания разряда между исследуемым образцом

8 и подставным электродом 4. Включают генератор, и свет от искрового 40 разряда подвергают спектральному анализу.

Предлагаемое устройство позволяет анализировать образцы из катаной стали, сечение которых меньше, чем отверстие в столе квантометра, что обусловлено необходимостью анализа образцов, вырезанных со стороны поперечного сечения профиля.

Выполнение анализов не требует перестройки штатива прибора. В одном приборе можно выполнять анализ как литой стали в обычных условиях, так и катаной.

Вакуумный квантометр прост в эксплуатации и позволяет анализировать образцы катаной стали различных сечений.

Формула изобретений

Вакуумный квантометр, содержащий разрядную камеру, расположенную под отверстием в столе с установленным в ней подставным электродом, шток, закрепляющий исследуемый образец, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения аналитических возможностей, он содержит дополнительную съемную герметичную камеру, сообщающуюся с разрядной и установленную над отверстием в столе, в который вмонтирован пружинный токопровод, обеспечивающий электрический контакт для разряда между исследуемым образцом и подставным электродом.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент Франции 9 2097376, кл. G 01 N 21/00, 1972.

2. Инструкция по эксплуатации. установка фотоэлектрическая вакуумная ДФС-41 . Ордена Ленина ленинградское опытно-механическое объединение, 19 73.

653520

Составитель С. Соколова

Техред Л.Алферова Корректор О. Билак

Редактор Т. Иванова

Филиал ППП

П Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

1 °

Заказ 1278/31 Тираж 765

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Вакуумный квантометр Вакуумный квантометр Вакуумный квантометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект
Наверх