Осветительная система атомноабсорбционного спектрофотометра

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

Оп ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДИЕЛЬСТВУ пц667823

601 J 3/42 (53) УДК535.853. .16 (088.8) (61) Дополнительное к атв. свид-ву— (22) Заявлено 01.08.77 (21) 2512620/18-25 (51) М. Кл, с присоединением заявки №вЂ”

Гюеудэрстеенный квинтет сссР пп делам нзебретеннй н еткрытнй (23) Приоритет—

Опубликовано 15.06.79. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 20.06.79 (72) Авторы изобретения

Г. Г. Музыков, В. A. Есилевский, 1О. П. Пиманов, А. И. Шарнопольский и В. Я. Козленко (71) Заявитель (54) ОСВЕТИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА АТОМНО-АБСОРБЦИОННОГО

СПЕКТРОФОТОМЕТРА

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения и может найти применение в атомно-абсорбционных спектрофотометрах.

Известны осветительные системы атомно-абсорбционных спектрофотометров (1) .

Наиболее близкой по технической сущности к предлагаемому изобретению является осветительная система атомно-абсорбционного спектрофотометра, содержащая два сферических зеркала (2).

Зе ркала входят в состав объективов сложной конструкции, причем один из объективов фокусирует изображение источника просвечивающего излучения в поглощающий слой атомизатора, а второй переносит это изображение в плоскость входной щели монохроматора. Все зеркала расположены по отношению одно к другому таким образом, что их меридиональные плоскости совпадают.

Недостатком осветительной системы является большая потеря света. ло

Цель изобретения состоит в уменьшении потерь света.

Цель достигается тем, что в предлагаемый осветительной системе атомно-абсорбционного спектрофотометра зеркала выполнены вогнутыми, а их меридиональные плоскости взимно перпендикулярны.

На фиг. 1 и 2 изображена оптическая схема спектрофотометра в двух проекциях.

Осветительная система содержит два вогнутых сферических зеркала 1 и 2, источник

3 света, поглощающую ячейку 4 и спектральный прибор 5.

Зеркало 1 фокусирует излучение источника 3 в поглощающую ячейку 4, а зеркало 2 передает это изображение на входную щель спектрального прибора 5. При этом меридиональные плоскости зеркала 1 и 2 взаимно перпендикулярны.

Благодаря указанной установке зеркал, меридиональное изображение источника 3, сформированное зеркалом 1, преобразуется зеркалом 2 в саггитальное изображение, а саггитальное изображение от зеркала 1 в меридиональное от зеркала 2. Поэтому астигматизм изображения на щели спектрального прибора в значительной степени скомпенсирован и потери света существенно уменьшены.

Описанная осветительная система может быть выполнена на зеркалах большого раз667823

Формула изобретения фиг. 2

Составитель A. Субочев

Редактор Л. Батанова Техред О. Луговая Корректор В. Бутяга

Заказ 3450/36 Тираж 765 Подписное

ЦН И И ПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий! 13035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал П ПП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4 мера без значительных аберраций, что обес==печит дбполнительное увелйченйе светосилы спектрофотометра. Кроме того, можно уменьшить количество зеркал в осветительной системе по сравнению с обычно используемыми в спектрофотометрах.

Осветительная система атомно-абсорбционного спектрофотометра, содержащая два сферических зеркала, отличающаяся тем, чтб; с целью уменьшения потерь света, 3еркала выполнены вогнутыми, а их меридиональные плоскости взаимно перпендикулярны.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Львов Б. В. Атомно-абсорбционный спектральный анализ. М., 1966, изд-во «Наука», с. 124.

2. Базилянский Л. Л., Василенко Ю. Н., Есилевский В. А., Музыков Г. Г., Пиманов

Ю. П., Шарнопольский А. И., Ямполь Г. Г.

Атомно-абсорбционные двухлучевые спектрофотометры типа «Сатурн», «Приборы и системы управления», № 8, 1977, с. 34.

Осветительная система атомноабсорбционного спектрофотометра Осветительная система атомноабсорбционного спектрофотометра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх