Устройство для измерения вольтфарадных характеристик р-п переходов
Авторы патента:
Похожие патенты:
Зондовая головка // 669430
Изобретение относится к методам контроля микродефектов и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов для контроля слоев прозрачных пленок
Устройство для испытания транзисторов // 693271
Изобретение относится к полупроводниковой технике к области твердотельных преобразователей изображения
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах
