Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов

Авторы патента:

ПАНОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ

ВОРОЖЕЕВ ВАЛЕНТИН ФЕДОРОВИЧ

G01R31/317 - испытание цифровых схем

G01R31/26 - испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)

G01R27/28 - для измерения затухания, усиления, сдвига фаз или производных от них характеристик четырехполюсников, например двухканальных схем; для измерения переходных характеристик (в линиях передачи H04B 3/46)

Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов

Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов

Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов

Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов

Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов

Похожие патенты:

Устройство для контроля и настройки цифровых ячеек // 661442

Устройство для контроля прохождения импульсов // 658510

Устройство для контроля логических блоков // 658509

Шуп для диагностирования технологического состояния дискретных устройств // 651276

Выходной узел тестера для контроля логических устройств // 651274

Устройство для контроля микроэлектронных логических схем // 646280

Триер е.л.сосновского,м.в.туаева а.х.елоева // 640770

Пробник для проверки цепей логических устройств // 636550

Логический зонд // 612412

Устройство для определения функционирования логических блоков // 612191

Устройство для измерения вольтфарадных характеристик р-п переходов // 693273

Устройство для испытания транзисторов // 693271

Устройство для наблюдения вольтамперных характеристик нелинейных полупроводниковых элементов // 693270

Способ управления выходным устройством прибора с зарядовой связью // 692369

Изобретение относится к полупроводниковой технике к области твердотельных преобразователей изображения

Способ определения профиля концентрациипримеси b полупроводниках // 689423

Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов // 687419

Способ защиты мощных высоковольтных транзисторов при испытаниях на вторичный пробой // 685992

Устройство для испытаний полупроводниковых приборов // 685991

Устройство для измерения времени выключения тиристоров // 685990

Устройство для испытания вентильных приборов // 682848

Устройство для измерения неравномерности амплитудно- частотных характеристик // 691783

Наверх