Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения

 

<»> 728060

Союз Соаетскик

Социалистических республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ВПТУ (61) Дополнительное к акт. свил-ву (22) Заявлено 26.10.77 (21) 2538135/18-28

{51)М. Кл. . 6 01 и 21/24 с присоединением заявки .%—

Вкуаарстиеииьй квнитет

СССР (23) П риоритет—

Опубликовано 15.04.80. Бюллетень ¹ 14 ив делан извбретеиий и вткрнтий

{53) УДК

531.715.27 (088.8) .

Дата опубликования описания18.04.80 (72) Автори изобретения

Б. М. Левин и 3. А. Файнгольц (71) Заявитель (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЕЛ ВРАЩЕНИЯ

Изобретение относится к области контрольноизмерительной техники и мох. т быть использовано, в частности, для контроля дефектов поверхностей тел вращения.

Известно устройство для контроля поверх5 ....:.ностей тел вращения, содержащее соосно рас- . положенные лазерный источник света, систе. му, состоящую из двух объективов, осевая под-. вижка любого иэ которых позволяет менять угол падения световых лучей на контролируемое тело, устанавливаемое за ними,.проекционную систему, по обе стороны от которой расположеньг пространственные фильтры, и фотоприемник (1).

Известное устройство имеет сложную конструкцию и является дорогостоящим.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и решаемой задаче является фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей-тел вращения, содержащий соосно расположенные осветительную систему, включающую источник света, кольцевую диафрагму, установленную в предметной плоскости источника света, и объектив, проекционную систему, вращающийся вокруг оптической оси непрозрачный экран с радиальной щелью и фотоприемник t 2), Кольцевое изображение поверхности тела вращения (которое совершает однонаправленное поступательное движение для цилиндров или вращательное для шариков), спроецированное на экране, сканируется вращающейся щелью экрана и через нее пропускается и падает на фотоприемник, а последний методом сравнения отражающей способности участков контролируемой поверхности отсортировывает

1дефектные объекты.

Недостатком известного дефектоскопа является сложность конструкции, а также низкая надежность контроля, вызванная тем, что из-за постоянного свечения кольцевой диафрагмы на щель экрана попадает помимо отраженного от поверхности светового пятна какое-то количество паразитного света. Это затрудняет производить на .ф>топриемнике точную фик сацию отражающей способности участков конт ролируемой поверхности.

4 радиус вращения точечного источника, то на поверхности контролируемого тела в зоне его диаметрального сечения, перпендикулярного плоскости чертежа, очертывается опоясывающее световое кольцо. Объектив 3 направляет отраженный контролируемой поверхностью свет на фотоприемник 4. . Если сообщить цилиндру 6 линейное перемещение или шарику 5 однонаправленное вра- !

О щение вокруг оси, то при синхронном вращении точечного источника 1 будет осутцествляться полная развертка поверхности контролируемого тела. При наличии дефекта на поверхности контролируемого тела фотоприемник

1 будет фиксировать резкое падение освещенности. Далее автоматика будет отсортировывать, дефектные изделия.

Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения, содержащий соосно расположенные осветительную систему, включающую источник света и.объектив, проекционную систему и фотоприемник, о т л ич а io шийся тем, что, с целью упрощения конструкции и повышения надежности контраля, источник света выполнен точечным и установлен с возможностью вращения вокруг оптической оси.

2. Дефектоскон по п. l, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью контроля тел разного диаметра, точечный источник света выполнен с возможностью регулирования вдоль

Радиуса оси вращения.

1. "Applied 0ptics", ч; 12, N 11, 1973, р. 2598 — 2606.

2. Авторское свидетельство СССР У 499521, кл. 6 01 N 21/24, 1976 (прототип).

ЦНИИПИ Заказ 1130/44 Тираж 1019

Подписное

Филиал ПЙП "Патент", r. Ужгород, ул, Проектная, 4

Целью изобретения является упрощение кон - струкции и повышение надежности контроля.

Цель достигается тем,что в предлагаемом дефектоскопе источник света выполнен точечным и установлен с возможностью вращения вокруг оптической оси.

С целью. контроля тел,разного диаметра в предлагаемом дефектоскопе точечный источник света выполнен с возможностью регулирования вдоль радиуса оси вращения.

В результате такого выполнения источника света отпадает необходимость в кольцевой диафрагме и вращающемся вокруг оптической оси экране с щелью, повыШается надежность контроля,так как в устройстве отсут- . ствуют"паразитные рефлексы, возникающие при подсветке кольцевой диафрагмы неподвижным источником света.

Выполнение источника света с возможностьщ регулирования вдоль радиуса егоосивращения 20 Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я . упрощает регулировку делает ненужным изготовление, хранение и замену целевого набор диафрагм с разными радиусами кольцевой щели, предназначенных для иэделий разного диаметра.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства."

Фотоэлектрический дефектоскоп. содержит осветительную систему, включающую точечный источник 1 света (вращающийся), объектив 2, проекционную систему в,виде объектива

3 и фотоприемник 4. Контролируемое тело вращения может быль в виде шарика 5 или цилиндра 6.

Работает предлагаемый дефектоскоп слещйощим образом.

Луч света от вращающегося точечного источника 1 проектируется объективом.2 на Источники информации, поверхность контролируемого тела (шарика 5 Ч - Щ Ртизе . mm цилиндра 6). Если ось контролируемого тела совпадает с оптической осью проекционной системы, а увеличение объектива и = — у

Г - Р

rge г — радиус контролирубмогуела, а R—

Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к физико-химическим методам исследования окружающей среды, а именно к способу определения концентрации ионов в жидкостях, включающему разделение пробы анализируемого и стандартного веществ ионоселективной мембраной, воздействие на анализируемое и стандартное вещества электрическим полем и определение концентрации детектируемых ионов по их количеству в пробе, при этом из стандартного вещества предварительно удаляют свободные ионы, а количество детектируемых ионов в пробе определяют методом микроскопии поверхностных электромагнитных волн по толщине слоя, полученного из ионов путем их осаждения на электрод, размещенный в стандартном веществе, после прекращения протекания электрического тока через стандартное вещество

Изобретение относится к медицинской технике, а именно для определения качества жидких лекарственных составов на основе оптических измерений

Изобретение относится к измерительной технике и, более конкретно, к устройству и способу для измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала

Изобретение относится к методам аналитического определения остаточного количества синтетических полиакриламидных катионных флокулянтов в питьевой воде после очистки сточных вод и может быть использовано в пищевой промышленности

Изобретение относится к средствам оптического контроля

Изобретение относится к способам контроля геометрических параметров нити и может быть использовано для оперативного контроля таких параметров нити, как ее диаметр, величина крутки, число стренг в скручиваемой нити в процессе ее производства
Наверх