Способ измерения амплитудной и фазовой анизотропииоптического об'екта

 

Союз Советскик

Социалистическик

Республик

И C A Н И Е < 753269

H30SPe a Н Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 03. 07. 78 (21) 2637606/18-25 с присоединением заявки И (23) Приоритет (51)M. Кл.

G 01 и 21/63 аоеударстваииый комитет

СССР

Опубликовано 30. 06.81. Бюллетень М 24 (53) УД3(535. 55 (088. 8) по делам изобретеиий и открытий

Дата опубликования описания 30. 06. 81 (72} Авторы изобретения

Д. Д. Пилипко и И, П. Пугач (7I ) Заявитель

Киевский ордена Ленина государственный университет им. Т.Г. Шевченко (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АМПЛИТУДНОЙ И ФАЗОВОЙ

АНИЗОТРОПИИ ОПТИЧЕСКОГО ОБЬЕКТА

1"В Ср ) Р) "

+Г С /ь У

Изобретение относится к технике оптических измерений- и может быть использовано при исследовании оптических и других физических свойств веществ и элементов оптических устройств.

Известны эллипсометрические способы измерения амплитудной и фазовой анизотропии оптических объектдв, заключающиеся в облучении объекта поляризованным светом и исследовании изменения поляризации света после от10 ражения или прохождения через объект

Ь).

Недостатками данного способа являются низкая точность измерений, 15 особенно в инфракрасной области спектра, и длительность времени измерений.

Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения амплитудной и фазовой аниэотропии, заключающийся в помещении оптического объекта в резонатор, возбуждении резонатора монохроматическим поляризованным светом и анализе отраженного или прошеднего излучения (2 1, Однако в связи с тем, что характеристики объекта измеряются для каждой поляризации изучения порознь, точность такого способа невелика.

Цель изобретения — повысить точность измерений.

Поставленная цель достигается эа счет того, что длину резонатора изме няют по периодическому линейному закону, измеряют временнь1е интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фазовую аниэотропию определяют по формулам:

753269

3 где Ь вЂ” фаэовая анизотропия;

Я вЂ” амплитудная анизотропия;

N — число зеркал резонатора, на которые излучение падает под углом, отличным от нуля;

5 д 1„ — временной интервал между импульсами разных поляризаций;

b+- временной интервал между импульсами одной поляризаций; ри à — длительности импульсов P u

S поляризаций

R и Р— коэффициент отражения i-го

P зеркала соответственно для

P u S поляризации i=l, 2...N.

На фиг..i изображено устройство, реализующее даннйй способ; на фиг.2 показаны эпюры интерференционных им- 20 пульсов.

Устройство содержит лазер 1, поляризатор 2, четвертьволновую пластину

3, зеркало 4, объект 5 пьезокерамику 6, поляризатор 7 и Ьотоприемник 8. 25

Устройство работает следующим образом.

Монохроматический пучок, излучаемый лазером 1, проходит через поляризатор 2, четвертьволновую пластинку 3 30 и возбуядает резонатор, образованный зеркалом 4, объектом 5 и зеркалом, ус тановленным на пьезокерамике 6. Прошедшее через резонатор излучение анализируется поляризатором 7 и посту- ы пает в фотоприемник 8. При линейном периодическом изменении длины резонатора его собственные частоты по очереди совпадают с частотой внешнего излучения и оно в эти моменты дости- 40 гает фотоприемника. Одновременное наблюдение импульсов, соответствующих . различным поляризациям излучения, обеспечивает высокую точность измерения оптических характеристик. 45

Формула изобретения

Способ измерения амплитудной и фазовой анизотропии оптического объекта, включающий помещение объекта в открытый резонатор, возбуждение резонатора монохроматическим поляризованным излучением и анализ отраженного или прошедшего излучения, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений, длину резонатора измвняют по периодическому линейному закону, измеряют временные интервалы между интерференционными импульсами и длительность этих импульсов на выходе резонатора, а амплитудную и фазовую анизотропию определяют по формулам

Д%

Д 1 = 2й „)

Д 2 ю (йр М ) н

Э = Л-ж<Г,Ь 7,> П "Р где Д9 — фазовая анизотропия; амплитудная анизотропия;

Й вЂ” число зеркал резонатора, на которые излучение падает под углом, отличным от нуля;

ЬМ вЂ” временной интервал между импульсами разных поляризаций;

Ь V - временной интервал между импульсами одной поляризации; р и Ч - длительности импульсов P u

S поляризаций;

R u R - коэффициенты отражения 1-ro зеркала соответственно для

P u S поляризаций, < =1,2. ...К.

Источники информации принятые во внимание при экспертизе

1. Горшков М,М. Эллипсометрия.

M. "Советское радио", 1974, с. 156.

2. Новиков M.À. Поляризационный кольцевой интерферометр.-"Радиотехника и эдектроника", 1976, т. 21, с. 904.

753269

Составитель С. Р1естак

Редактор M. Кузнецова Техре ;Н.Ковалева Корректор

Заказ 4523/IS Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Государсгвенного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Раушская наб.. д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ измерения амплитудной и фазовой анизотропииоптического обекта Способ измерения амплитудной и фазовой анизотропииоптического обекта Способ измерения амплитудной и фазовой анизотропииоптического обекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технологии водообработки и анализу состава природных и сточных вод

Изобретение относится к спектральному анализу
Изобретение относится к аналитической химии
Изобретение относится к аналитической химии
Изобретение относится к аналитической химии, в частности к способам люминесцентного определения самария
Изобретение относится к аналитической химии, в частности к способам люминесцентного определения тербия

Изобретение относится к области аналитической химии, в частности к способам изготовления образцов для люминесцентного анализа материалов на основе оксидных соединений
Наверх