Прибор для измерения толщины льда

Авторы патента:

Артюхов П.И.

G01N21/59 - коэффициент пропускания (G01N 21/25 имеет преимущество)

G01B11/06 - для измерения толщины

Л 81676

Класс 42Ь, 12„;

СССР

< 1 (с.

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛЬДА наявпено 2 марта !949 г. за ¹ 392686 в 1>,омитет по иаопрете>и)ям и открытиям прп Совете Министров СССР

Оп(впин(овина в <Ъ(олаетене изобретений т№ 3 аа 19(>0 г.

Предмет изобретения

T0,71ЦИ1! (ПОСГ!(;IH(.ГО. ((редмстом нзобретс(шя является

1lpH0op, прсдназняченньш для измерешгя толщины льда.

Известны приборы, которыми опреДСЛ и (ОТ Т() H (I J(H>< ЬДЯ П 0 его ЭЛ ЕКтрическому с()H(7(>ïII)«!01 (èþ, однако они Оч(и!ь сг!0)к(п.!. Определение толщины льда пепосредсгвснным зямеP0ii т()(..ом(T затРаты ОО.(ЬПIОГО коли<(«(! l ) рм,(3 H f>()(. (Снн на мсrp01icTBo проруби.

Прс.(лягя«мый приоор, принцип

Д(. HC I Вп 5! КО) ОР()ГО ОСИОВЯН НЯ HCпользовании различной прозрачности

Л! ДЯ (1 В<>ДЫ, П И!СС! О ГМСЧСННЬ(К !

)ьпп«п(((ост()ткон и п(>зволяет определять толщину льда с достаточной точно« ьв>.

На чертеже схематически 1(зооражеп ПРибОР, Уста(говлснпый f (el льдУ.

В> кори> с 1 0pèîî(73. к(7ь(п!ка 2 и, IH() 3, котoP()10 IIH! (71 Овлсны из прозрач!и>го мат(риа. (11< вмонтирован паряоолнческпй рефлектор 4 с электр<>ламп<>й (>, пит(!смой током or акК >< > >> 7 5! I 0 0 H () H О Я Т Я Р Е И 6. (((К;!. (c) 7 С, l>, if(HT:L, (51 HC(10C()C jCTв (H H 0 (> (Г С ч T;! ТО, I (H H H bl H 3 1 I L(7 5("A(0ГО ЛЬДЯ.

Прибор устанавливается нспосредс (вен!и> на лед <>, толщина которого подлежит нзмсрс:ппо.

Всг!с;,ств!Ге рязлп п(он п(н>зрачности гlь:13 <> н во:lb(< 01 ()яж(нные QT

iIÈ. (I> <НI;Ic! (> Т НЯ 1(IКЯ,((/ < ЧЯ(ТКИ

РЯЗЛИЧНОН OCH(Нl< HHO<. Tii ПО Г(7;IПIЩЕ между которыми и опрс.fc,(яют толIJ I lJ H v л ьдя 13:(я и(! о м м ес те.

Л„ и ><ПЦП1 Ы ПРИ ООР Я О! . (Пеиl1 с>ГО

Сl)ЕТЯ H;!, I !!И)ОТ ПЯГI<1Гку 10. ((pHO0p );I5I ПЗМ(роп)ня ТОЛ>ЦННЫ льда, о тл и ч а ю шийся тем, что ()If ВЫГ10ЛН(. I В HH ((H<. (О<(I!JI(iа CI>CT(i

С 0clp3()0, !НЧ()СКИ,(()С(()Г(ЕК10(7<7».(, (I(0> BT(7()>>J ПО HO 10 .<ксHH io и <1 п(кя, 1(прнооря гпя и ни ы меж ((свез овь(м и полосю! и, ()траженпымп от во;ы н льда, OHiO(i«,ть

Отв. редактор И. Д. Тихов1кров

Стандартгиз. Подп. к печ. 24/Х!-1956 г. Объем 0,125 и. л. Тираж 2000. !1ена 25 кон.

Lop. Алатырь, типография № 2 Министерства культуры Чувашской АССР. Зак. 1681

Похожие патенты:

Оптический толщемер // 78579

Патент 76963 // 76963

Способ массовой сортировки листочков слюды по интерференционным цветам // 55055

Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн // 39986

Прибор для измерения толщины зеркального стекла // 24639

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок // 2102702

Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты) // 2141621

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Способ измерения толщины листового стекла и устройство для его осуществления // 2146355

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины // 2147728

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Способ измерения толщины тонкого слоя прозрачной жидкости // 2149353

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Способ измерения оптической толщины плоскопараллельных прозрачных объектов // 2152588

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Устройство для контроля линейных размеров по принципу триангуляции // 2153647

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения // 2157509

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации // 2158897

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Способ измерения толщины тонкого слоя прозрачной жидкости // 2165071

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости

Оптикоэлектронное устройство для измерения концентрации твердых частиц в дымовых газах // 2133462

Изобретение относится к оптическим методам анализа и может быть использовано для измерения дымности отходящих газов в энергетических отраслях промышленности и на транспорте

Устройство для прямого определения количественных параметров клеточных структур // 2152023

Изобретение относится к лабораторной технике, а именно к устройствам для цитофотометрических измерений и может быть использовано в биологии, медицине, сельском хозяйстве, геофизике и геохимии, а также других областях науки и производства, где необходимо количественное определение веществ в микроструктурах (органы, ткани, клетки, вкрапления микроэлементов и т.д.)

Измеритель оптической плотности газов с включениями твердой фазы // 2153159

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для измерения оптической плотности газов с включениями в энергетической, машиностроительной и других отраслях промышленности

Способ и устройство определения свертываемости в пробах плазмы крови // 2172483

Изобретение относится к области аналитического приборостроения, в частности к способам и устройствам, использующим оптические методы регистрации информационного сигнала, и может быть использовано при клинической диагностике заболеваний и патологий, а также при экспериментальных исследованиях крови и ее составных частей

Устройство для контроля параметров процесса дезинфекции жидкости уф излучением // 2172484

Изобретение относится к обработке жидкостей УФ излучением и предназначено для контроля параметров процесса стерилизации и дезинфекции жидкостей указанным способом

Устройство для измерения коэффициента пропускания оптической пластины // 2172945

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к спектрофотометрии, конкретно к измерениям коэффициента пропускания, преимущественно широкоапертурных (к широкоапертурным оптическим пластинам мы относим пластины с апертурой более 50 мм) оптических пластин, и может найти применение в оптико-механической промышленности и при исследованиях и испытаниях оптических приборов и систем