Устройство для разбраковкиполупроводниковых приборов

 

Сеюз Севетскнк

Сециалнстическив

Республик

on NCAHHE

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВ ТИЛЬСТВУ

11842645 (63) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлемо 221079;. (2t) 2830887/18-21 (51)М. Клз с прмсоедммеммем заявки Й9— (23) Приоритет

ГоеудврственныЯ комнтет

СССР во amass нзобретеннЯ н открытнЯ

G 01 R 31/26

Опубликовано 30D6I81. Бюллетень М 24

Дата опубликования описания 300681 (53) Д 621. 382..2(088.8) (72) Авторы изобретения

В.Е.Сульжик и В.С.Тверезовский (71) Заявитель (5 4 ) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ПРИБОРОВ

Изобретение относится к контро-. льно"измерительной технике и может быть использовано при контроле электрорадиоэлементов, например полупроводниковых приборов.

Известно устройство для разбраковки полупроводниковых приборов, содержащее блок питания, генератор импульсов, .измерительное сопротивление и конденсатор, при этом параллельно измерительному сопротивлению подключен электронный ключ, вход которого соединен с генератором импульсов, пороговое запоминающее устройство, выход которого соединен с конденсатором Г13.

Недостатком известного устройства является низкая достоверность контроля вследствие того, что его результаты существенно зависят от температуры окружающей среды.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройство для разбраковки полупроводниковых приборов, содержащее эадатчик Испытательного сигнала, первый и второй преобразователи, входы которых соединены с соответствующими выходами контролируемого и эталонного полупроводниковых приборов Г21 .

Недостаток данного устройства—

5 также низкая достоверность разбраковки, которая обусловлена тем, что измеряемый параметр полупроводникового прибора зависит от температуры окружающей среды, в результате чего возможны ошибки при разбраковке.

Цель изобретения — повышение достоверности разбраковки.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство для разбраковки

f5 полупроводниковых приборов, содержащее задатчик испытательного сигнала, соединенный выходами с соответствующими входами контролируемого и эталонного полупроводниковых приборов, 20 выходы которых соединены с соответствующими входами первого и второго преобразователей, измеритель, соединенный выходом со входом блока управления, соединенного первым вы25 ходом через блок подачи и выгрузки со вторым входом контролируемого по . луполупроводникового прибора, введен блок деления, соединенный входами а соответствующими выходами первого и

30 второго преобразователей и вторым

842645 выходом блока управления, а выходом— со входом .измерителя.

На чертеже приведена блок-схема устройства.

Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов содержит контролируемый полупроводниковый при5 бор 1, первый преобразователь 2 параметра, блоки деления 3 и управления 4,.блок 5 подачи и выгрузки, задатчик 6 испытательного сигнала, !

О эталонный «полупроводниновый прибор

7, измеритель 8, зажимы 9 и 10 для механического подсоединения полупроводникового прибора 1, второй преобразователь 11 параметра.

Устройство для разбраковки полу-, проводниковых приборов работает следующим образом.

В исходном состоянии задатчик 6 испытательного сигнала вырабатывает электрические сигналы, которые пос- 20 тупают на эталонный прибор 7 и на зажим 9 для подключения контролируемого прибора 1 . На выходе преобразователя 11 параметра сигнал отсутствует. На выходе преобразователя 2 параметра действует сигнал, величина которого пропорциональна параметру эталонного прибора 7. На выходах блока 3 деления и измерителя 8 сигналы отсутствуют. С подключением

30 контролируемого прибора 1 к зажимам

9 и 10 преобразователем 11 параметр контролируемого прибора преобразуется в электрический сигнал, который поступает на блок 3 деления. По команде, лоступающей с блока 4 управления, блок З-.деления реализует математическую операцию деления. Напряжение на выходе блока 3 равно

"еых = г - к„ и« где V«U/u> — вйходные напряжения 40 преобразователей 11 и 2;

К

1 постоянный коэффициент пропорциональности.

Выходное напряжение с блока 3 поступает на вход измерителя 8,представляющего собой, например, схему сравнения с заданным эталонным значением. С выхода измерителя 8 сигнал результата разбраковки поступает на вход блока 4, который вырабатывает соответствующую команду для блока 5 подачи и нагрузки, который осуществляет выгрузку контролируемого прибора 1. S5

В производственных условиях происходят колебания температуры окружающей среды. При этом выходные напряжения преобразователей 2 и 11 зависят от температуры следующим образом

К V (n() где К и К„„- постоянные коэффициенты пропорциональ ности

Т температура окружающей среды; приращение; температурные функции эталонного 7 и контролируемого 1 приборов.

В том случае, если Ч,(ьТ)= Чр (ат), что характерно для однотипных приборов 1 и 7 и имеет место, например, для полупроводниковых диодов, выходное напряжение блока 3 леления не зависит от температуры окружающей среды и определяется из выражения

К

U = К11

Ьых К

11

Таким образом, за счет введения блока 3 деления обеспечивается уменьшение зависимости напряжения, поступающего на измеритель 8, от температуры окружающей среды, что существенно повышает достоверность разбраковки.

Формула изобретения

Устройство для разбраковки полу-. проводниковых приборов, содержащее задатчик испытательного сигнала, соединенный выходами с соответствующими входами контролируемого и эталонного полупроводниковых приборов, выходы которых соединены с соответствующими входами первого и второго преобразователей, измеритель, соединенный выходом со входом блока управления, соединенного первым Ьыходрм через блок подачи и выгрузки со вторым входом контролируемого полупроводникового прибора, о т л и ч а ю щ е е с я тем,что, с целью повышения достоверности раэбраковки, в него введен блок деления, соединенный входами с соответствующими выходами первого и второго преобразователей и вторым выходом блока управления, а выходом — со входом измерителя.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 438948, кл. G 01 R 31/26, 1975.

2. Авторское свидетельство СССР

9 687419, кл. G О1 R 31/26, 1979 (прототип).

Составитель В.Дворкин.

Техред Т.Иаточка Корректор Л.Иван

Редактор Л.Филь

Заказ 5089/52 Тираж 732 Подпис иое

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, й-35, Раушская наб,, д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для разбраковкиполупроводниковых приборов Устройство для разбраковкиполупроводниковых приборов Устройство для разбраковкиполупроводниковых приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронной промышленности и может быть использовано для измерения обратных токов р n переходов диодов, транзисторов и интегральных схем, а также в составе автоматизированных измерительных систем при производстве полупроводниковых приборов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх