Способ определения фактической пло-щади kohtakta между поверхностямител

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВ ЕТВЛЬСТВУ

; Союз Советских

Сециапистическик

Республик

< «846994 (63) Дополнительное к авт. сеид-ву В 657234 (22) Заявлено 1709.79 (2f) 2817732/25-28 5 М,,(„з

6 01 В 5/26 с присоединением заявки Йо (23) Приоритет

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий

Опубликовано 1597,81. Бюллетень Й9 26

Дата опубликования описания 150781 (53) УДК 531. 717 (088. 8) В.Н. Стариков, A. И, Егоренков, И. П» Мазур - Р":, ; и О.И. Палий 1

Гомельский филиал БелорусскогО-ордена.

Трудового Красного Знамени политехнического института (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (64) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАКТИЧЕСКОЙ ПЛОЩАДИ

КОНТАКТА МЕЖДУ ПОВЕРХНОСТЯМИ TEJI

Изобретение относится к экспериментальному исследованию контакта тэердых тел, преимущественно исследования контакта ° алмазйый инстру- мент — деталь.

По основному авт.св. 9 657234, известен способ определения фактической площади контакта между поверхностью тел, заключающийся в том, что прозрачную полимерную пленку помещают между этими поверхностямк, прикладывают к телам давление и осуществляют планиметрирование отпечатка j 1), Однако этот способ характеризуется невысокой точностью из-за зависимости получаемых результатов.от режима нагружения вследствие прису-. щего полимерам вязко-упругого последействия, которое приводит к изменению геометрии отпечатка после снятия нагрузки.

Цель изобретения — повиаение точности определения фактической пло- . щади контакта прн планиметрироваиии.

Поставленная цель достигается тем, что используют пленку аморфиэированного кристаллического или аморфного полимера, давление прикладывайт при температуре пленки на 1100оС выще температуры стеклования, используемого полимера,и,не снимая давления, проводят его кристаллизацию или стеклование. В этом случае при использовании пленки аморфизированного кристаллического полимера кристаллизацию ведут выдерживая пленку при температуре на 10 О 50 С ниже температуры плавления полимера в течение 10-60 мин.

При использовании пленки аморфного полимера стеклование ведут охлаждая пленку до температуры на

1-120оС ниже температуры, стеклования полимера.

Таким образом, сущность изобретения сводится к приданию пленке полимера перед нагружением временной текучести для наиболее полного © копирования поверхностей контртел и фиксации их рельефа, достигаемой при кристаллизации или стекловаиии в нагруженном состоянии. . Способ осуществляется следующим образом.

Перед приложением к сопрягаеэаам поверхностям давления как прн использовании пленки акюрфизированного кристаллического полимера, так и при использовании пленки аморфного.

846994.Формула изобретения

Составитель И. Модестов

Редактор С. Лыжова Техред С.Мигунова корректор В. Бутяга

Заказ 5461/60

Тираж 642 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4.полимера, температуру последних доводят до величины на 1-100 С выше температуры стеклования (Т ) йолимерного материала. Этим достигается перевод в состояние высокой эластичности и ее легкая деформируемость даже при незначительных нагрузках. В указанном температурном диапазоне (Т + 1 — 100 С) теряют свою жесткость большинство полимеров. Превышение температуры

Т на величину, большую 100оС, соответствует переходу полимеров в вязко-текучее (расплавленное) состояние.

Помещают пленку между поверхностями тел. Прикладывают давление. Не 1з снимая давления, проводят кристаллизацию или стеклование пленки, Процесс кристаллизации аморфизированных кристаллических пленок проводят под нагрузкой, выдерживая Щ пленку при температуре на 10-50 C ниже температуры плавления полимерного материала в течение 10-60 мин.

Указанный температурно-временной диапазон обработки является опти- 25 мальным, так как обеспечивает. достижение максимальной (30-65%-ной) степени кристалличности. Температура и прбдолжительность ее воздействия в приведенных пределах подчиняется принципу температурно-временной эквивалентности, согласно которому степень кристалличности, реализуемая при одной температуре диапазона,может быть достигнута прй другой температуре изменением только продолжительности ее воздействия. Скорость достижения заданной температуры обработки существенного влияния на степень кристалличности полимера не оказывает. Предпочтителен тем- 40 пературный диапазон 0,1-10 град/с.. Процесс стеклования аморфных полимерных пленок ведут путем их

Охлаждения без снятия давления до температуры, на 1-3.20oС ниже Тс полимера, Интер в алу температур (Т

10 — 30 С) принадлежит область максимальных значений жесткости эастеклованных полимеров. К скорости. охлаждения аморфные полимеры малочувствительны.

После завершения процесса кристаллизации или стеклования снимают давление, вынимают пленку и осуществляют планиметрирование получЕнного отпечатка.

Для реализации способа можно использовать кристаллиэующие полимеры из ряда полипропилена, поликапроамида, полиамида, пентапласта, полиэтилентерефталата и др,, или аморфные иэ ряда поливинилбутираля, полистирола, поливинилхлорида, полиметилметакрилата и др.

1. Способ определения фактической площади контакта между поверхностями тел по авт. св. 9 657234, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, используют пленку аморфизированного кристаллического или аморфного полимеров, давление прикладывают при температуре пленки на 1-100ОC вьаае температуры стеклования используемого полимера, и,не снимая. давления, проводят его кристаллизацию или стеклование.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а ющ и и е я тем, что при использовании пленки аморфиэированного кристаллического полимера кристаллизацию ведут выдерживая пленку при температуре на 10-50 С ниже температуры плавления полимера в течение 1060 мин.

3. Способ по п. 1, о т л и ч а юшийся тем, что при использовании пленки аморфного полимера стеклование ведут охлаждая пленку до температуры на 1-120ОC ниже температуры стеклования полимера.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

l. Авторское свидетельство СССР

Р 657234, кл. G 01 В 5/26, 1977 (прототип),

Способ определения фактической пло-щади kohtakta между поверхностямител Способ определения фактической пло-щади kohtakta между поверхностямител 

 

Похожие патенты:

Планиметр // 627307

Изобретение относится к способам определения площади листьев растений и может быть использовано в сельскохозяйственных, биологических науках, лесоводстве и ботанике
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования контакта взаимодействующих поверхностей, например матриц и пуансонов, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичным покрытием

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения площадей фигур произвольного очертания

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения площадей фигур произвольного очертания

Изобретение относится к технике измерений и предназначено для определения площадей фигур произвольного очертания

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения площади поперечного сечения в горных выработках, имеющих большое поперечное сечение неправильной формы

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения площади поверхности тела сложной формы, в частности для измерения площади поверхности образцов их хрупкого материала в сечении их разлома после испытания на изгибную прочность

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении объема круглого лесоматериала
Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для измерения площади поверхности тела сложной формы
Наверх