Приставка нарушенного полного внутреннего отражения к спектрофотометрам иr-10 и иr-20

 

Союз Советски к

Социалистические

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено10.01.80 (21) 2869388/18-25 (sI)M. Кл.

5 013 3/02 с присоединением заявки М (23) Приоритет—

3Ъеударстесниый квинтет

СССР ае делам .изебретений и еткрытий (53} УДК 543;42 (088.8) Опубликовано 30.09.81. бюллетень %36

Дата опубликования описания 03.10.81 (72) Авторы изобретения

И. В. Андреева и А. В. Луканев (7!) Заявитель

Институт физики им. Л. В. Киренского (54) ПРИСТАВКА НАРУШЕННОГО ПОЛНОГО ВНУТРЕННЕГО

ОТРАЖЕНИЯ К СПЕКТРОФОТОМЕТРАМ ЦИ-10

HU R-20

Изобретение относится к изучению фи« зико-химических свойств веществ с помощью оптических методов, в частности путем измерения нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО).

Известно устройство содержащее основание и зеркала, соединенные шарнирно с основанием (1 .

Недостатком устройства является слож- ность оптической схемы и необходимость юстировки всех элементов при изменении

10 угла падения луча.

Наиболее близкой к предлагаемой. является приставка нарушенного полного внутреннего отражения и спектрофотомет15 рам VR-10 mUR-20, содержащая основа« . ние с пазом, поворотную площадку, соединенную с основанием и имеющую паэ, в котором установлена с воэможностью перемешениФ вдоль паза подвижная плата, со-. единенная с основанием посредством шарнира, установленного в пазу основания, и зеркало, установленное перпендикулярно к подвижной ппате и жестко соединенное с ней (23.

Недостатком известного устройства является сложность конструкции вследствие, использования локального паз@для автоматической юстировки подвижного. зеркала.

Бель изобретения — упрощение конструкции.

Поставленная цель достигается тем, что в приставке нарушенного полного внутреннего отражения к спектрофотомет/ рам Р-10 и Р-20, содержащей основание с пазом, поворотную плошадку, соединенную с основанием и имеющую паэ, в котором установлена с воэможностью перемещения вдоль паза подвижная плата, соединенная с основанием посредством шарнира, установленного в пазу основания, и зеркало, установленное перпендикулярно к подвижной плате и жестко соединенное с ней, паз в основании выполнен прямолинейным, а ось шарнира, соединяющего подвижную плату и основание лежит в плоскости зеркала.

868376

4 мешаюшегсся в лекальном пазу, д. — угол падения луча на полуцилиндр 10.

За счет предлагаемого изменения крепления зеркала 9 параметр Ь становится равным нулю, а выражение для лекального паза принимает вид У =- а, в результате чего лекальная кривая, по которой перемешается центр шарнира 7, преобразуется в прямую линию.

Предлагаемое устройство позволяет существенно упростить конструкцию и гехнс логию изготовления приставок НПВО. о

На фиг. 1 изображена предлагаемая приставка; на фиг. 2 — разрез А-А на фиг. 1.

Приставка НПВО содержит основание

2 с прямолинейным пазом 2, поворотную плошадку 3, соединенную шарниром 4 с основанием и имеющую паэ 5, в котором установлена с возможностью перемещения вдоль паза подвижная плата 6. На подвижной плате, соединенной с основанием с помощью шарнира 7, установленного в в прямолинейном пазу основания, жестко закреплен держатель 8 с юстируемым зеркалом 9 таким образом, чтобы ось шарнира 7 находилась в плоскости зеркала

9. На поворотной площадке 3 соосно с шарниром 4 установлен полуцилиндр 10.

Неподвижные зеркала 11 и 12 закреплены Н8 основании 1 под углом 45о к напрае1пению луча спектрофотометра и не юсти» щ руется.

::риставка работает следующим образом.

Пучок света, выходящий из осветителя спектрофотометра, направляется зеркалом

11 на нолуцнлиндр 10. После отражения от границы раздела полуцилиндр - исследуемое вещество пучок с помощью подвижI ного зеркала 9 и неподвижного зеркала

12 направляется на входную щель монохроЗо матора. При изменении угла падения луча на полуцилиндр, которое осуществляется при помощи поворота площадки 3 вместе с установленным на ней полуцилиндром, происходит автоматическое перемещение и поворот зеркала 9.

Расчет лекального паза в основании для известной приставки в системе координат ХОУ дает следующее выражение:

У= а Ьв *, где а - расстояние от оси ОХ до прямой, параллельной оси ОХ, о которой перемешается точка пересечения луча с подвижным зеркалом 9 при изменении угла падения на полуцилиндр

10; Ь вЂ” расстояние от плоскости подвижного зеркала 9 до оси шарнира 7, пере- 4 формула изобретения

Приставка нарушенного полного внутреннего отражения к спектрофотометрам

UP-10 и LJR-20, .содержашая основание с пазом, поворотную плошадку, соединенную с основанием и имеюшую паэ, в котором установлена с возможностью перемещения вдоль паза подвижная плата, сое диненная с основанием посредством шарнира установленного в пазу основания, и

1 зеркало, установленное перпендикулярно к подвижной плате и жестко соединенное с ней, о т л.и ч а ю ш а я с я тем, что, с целью упрощения конструкции, паэ в основании выполнен прямолинейным, а ось шарнира, соединяющего подвижную плату и основание, лежит в плоскости зеркала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Булатов Д,. С. Приставка к инфракрасным спектрометрам U R-10 и UR-20 для получения спектров нарушенного полного внутреннего отражения. Приборы и техника эксперимента, 1969, % 1, с. 145, 146.

2. Головачев B. И. и усев С. С.Приставка нарушенного полного внутреннего. отражения к спектрофотометрам UR-10 и

UR-20 Приборы и техника эксперимента", 1974, М0 6, с. 202, 203.

868376

Составитель В. Траут

Редактор В. Петраш Техред Ж.Кастелевич Корректор М. Шароши

Заказ 8303/52 Тираж 910 Подписное

ВНИИ ПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Приставка нарушенного полного внутреннего отражения к спектрофотометрам иr-10 и иr-20 Приставка нарушенного полного внутреннего отражения к спектрофотометрам иr-10 и иr-20 Приставка нарушенного полного внутреннего отражения к спектрофотометрам иr-10 и иr-20 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект

Изобретение относится к спектрометрии
Наверх