Профилометр

 

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А. А. Тудоровский, П. И. Буловский, А. С, Круглов и Е. Л. Васильев

ПРОФ ИЛОМЕТР ваяв.чево 30 марта 1950 г. за № 318/415323 в Гостехнику СССР

Предметом изобретения является профилометр для оценки чистоты поверхности по среднему квадратическому отклонению ее неровностей от средней линии профиля, снабженный ощупывающей иглой, приводной головкой и электрическим показывающим прибором.

По сравнению с известными профилометрами электродинамического и пьезоэлектрического типов, применяемыми для указанных целей, предлагаемый профилометр позволяет повысить чувствительность показаний.

Предлагаемый профилометр отличается от известных тем, что его датчик выполнен индуктивным и снабжен ощупывающей иглой, закрепленной на конце рычага, на другом конце которого укреплена железная пластинка, помещенная в воздушный зазор между двумя катушками, которые включены по схеме моста в электрическую цепь, питаемую от звукового генератора.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема предлагаемого профилометра и на фиг. 2 — принципиальная схема его датчика.

Г1ри перемещении исследуемой поверхности 1 (фиг. 1) относительно ощупывающей иглы 2 (или ощупывающей иглы относительно исследуемой поверхности) рычаг 3 датчика вместе с закрепленной на нем железной пластинкой 4 поворачивается на пружинном подвесе 5. Вследствие этого изменяется воздушный зазор между неподвижными железными сердечниками б и подвижной пластинкой 4. Катушки 7 датчика питаются от звукового генератора 8. Изменение воздушного зазора приводит к изменению индуктивного сопротивления катушек, что вызывает изменение силы тока в цепи катушек. При помощи усилителя 9 с электронными лампами ток усиливается и фиксируется соответствующим электроизмерительным прибором 10.

Датчик профилометра работает следующим образом (фиг. 2). При перемещении датчика рычаг 8 поворачивается на пружинном подвесе д.

При повороте рычага относительно линии изгиба пружинного подвеса жестко связанная с рычагом железная пластинка 4 перемещается в зазоре между сердечниками б. Катушки 7 включены в схему уравновешенного моста при помощи выводных концов 11. Датчик, связанный шарниром 12 с приводным механизмом, свободно опирается на исследуему1о поверхность через сферический башмак 13.

Для уменьшения давления на исследуемую поверхность часть веса № 9321б

Предмет изобретения

Профилометр для оценки чистоты поверхности по среднему квадратическому отклонению ее неровностей от средней линии профиля с ощупыФ.г. I сриг. 2

Отв, редактор И. В Макаров

Л106078 от 31/Ч1П 1955 г Стандартгиз. Объем 0,125 п. л. Тираж 400. Цена 25 коп..

Типография изд-ва «Московская правда», Потаповский пер., 3. Зак. 4078 датчика уравновешивается противовесом (на схеме не показан). Ощупывающая игла 2 несколько выступает ниже опорной плоскости башмака 18 для обеспечения полного обвода острием иглы всех гребешков и впадин исследуемой поверхности при движении датчика. вающей иглой, приводной головкой и электрическим показывающим прибором, о тл и ч а ю щи и с я тем, что, с целью повышения чувствительности показаний, датчик прибора выполнен индуктивным и снабжен ощупывающей иглой, закрепленной на конце рычага, на другом конце которого укреплена железная пластинка, помещенная в воздушный зазор между двумя катушками, включенными по схеме моста в электрическую цепь, питаемую от звукового генератора.

Профилометр Профилометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)
Наверх